描述

AD585是一款完整的單芯片采樣保持電路，含有一個(gè)高性能運(yùn)算放大器，與一個(gè)泄漏極低的模擬開(kāi)關(guān)和一個(gè)FET輸入積分放大器相串聯(lián)。同時(shí)提供一個(gè)內(nèi)部保持電容和匹配應(yīng)用電阻，具備高精度和應(yīng)用靈活性。

AD585性能出色，是高速10位和12位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的理想選擇，在這類應(yīng)用中，快速的采集時(shí)間、低采樣保持失調(diào)和低下降至關(guān)重要。利用片內(nèi)保持電容，AD585可以在最多3 μs的時(shí)間內(nèi)采集精度達(dá)±0.01%的信號(hào)，并以最大3 mV的采樣保持失調(diào)和不到1 mV/ms的下降速率保持該信號(hào)。如果要求更低的下降速率，則可以添加一個(gè)較大的外部保持電容。

AD585所用高速模擬開(kāi)關(guān)的孔徑抖動(dòng)為0.5 ns，能以12位精度對(duì)頻率最高為78 kHz的滿量程（20 V峰峰值）信號(hào)進(jìn)行采樣。

AD585可以支持任何用戶定義的反饋網(wǎng)絡(luò)，為采樣模式提供任何所需增益。片內(nèi)精密薄膜電阻可用來(lái)提供+1、-1或+2的增益。保持模式下的輸出阻抗很低，足以維持精確的輸出信號(hào)，即使在驅(qū)動(dòng)由逐次逼近ADC帶來(lái)的動(dòng)態(tài)負(fù)載時(shí)也無(wú)問(wèn)題。但輸出采用了意外短路保護(hù)機(jī)制。

保持命令的控制信號(hào)可以為高電平有效或低電平有效。只要提供合適的基準(zhǔn)電平，差分保持信號(hào)即可兼容所有邏輯系列。提供一個(gè)片內(nèi)TTL基準(zhǔn)電平以確保TTL兼容性。

 

特性

? 采集時(shí)間：3.0μs（至±0.01%，最大值）
? 低下降速率：1.0mV/ms（最大值）
? 采樣保持失調(diào)步長(zhǎng)：3mV（最大值）
? 孔徑抖動(dòng)：0.5ns（典型值）
? 內(nèi)部保持電容
? 內(nèi)部應(yīng)用電阻
? 工作電壓：±12V或±15