安捷倫4284A精密 LCR 表，20 Hz 至 1 MHz的測試頻率范用和卓越的測試信號性能使4284A能夠在模擬預期應(yīng)用的條件下，按照最常用的測過標準IEC/MIL標準)測試元器件。無論是在研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證還是進貨檢驗方面，4284A都能滿足您所有的LCR儀表測試和測量要求。

安捷倫4284A精密LCR 測量儀是一款經(jīng)濟高效的組件和材料測量解決方案。

安捷倫4284A頻率
·寬范圍直流電流偏置電感測量
·0.05基本精度
·40A直流支持是德科技42841A偏置電流源寬范圍直流偏置電感測量

Agilent / HP 4284A LCR 表的特性和規(guī)格包括：

20 Hz 至 1 MHz，具有超過 8,600 個測試頻率
0.05% 基本精度，6 位分辨率
恒定 V 或 I 測試信號電平
列表掃描測量能力
測量參數(shù)：|Z| -q, |Y | -q、RX、GB CD、Q、ESR、G、Rp LD、Q、ESR、G、Rp 偏差和百分比偏差
測量電路模式：串聯(lián)和并聯(lián)
測距：自動和手動
觸發(fā)器：內(nèi)部、外部、手動和總線 (HP-IB)

延遲時間：0 至 60.000 秒，步長為 1 毫秒
測量端子：四端子對
測試電纜長度：標準：0 和 1 m
積分時間：短、中、長
平均：1 至 256，可編程
測試信號：20 Hz 至 1 MHz，8610 個可選頻率
測試信號模式
正常：分別在開路或短路的測量端子處編程選定的電壓或電流，而不是在被測設(shè)備上。
恒定：在被測設(shè)備上保持選定的電壓或電流，而不受設(shè)備阻抗變化的影響。

測試信號電平 (rms)
正常：5mV 至 2V，50μA 至 20mA
常數(shù)：10mV 至 1V，100μA 至 10mA
直流偏置：0V、1.5V 和 2V

-I-V技術(shù)覆蓋范圍從20 Hz到120 MHz，具有更集中的阻抗測量范圍。I-V技術(shù)也允許探測電路內(nèi)測試。-RFI-V是I-V技術(shù)的增強，提供了一些網(wǎng)絡(luò)分析的高頻好處，同時保留了I-V技術(shù)的一些阻抗測量范圍。射頻I-V技術(shù)設(shè)計為精度和高頻性能，非常適用于射頻組件分析，特別是對于較小的電感和電容值。此外，Keyssight的網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了一種基于s參數(shù)和增益相位測量的三種測量技術(shù)（反射、串聯(lián)和分流）相結(jié)合的阻抗測量解決方案。

只有鑰匙視阻抗分析儀提供無與倫比的精度從莫姆到莫姆，從5 Hz到3 GHz。您可以為您的應(yīng)用程序選擇合適的頻率范圍。
-頻率、直流偏置和交流電壓/電流掃描功能允許您定制測試數(shù)據(jù)的位置和方式。
–內(nèi)置等效電路分析計算了被測器件的多元件電路模型。
–先進的校準和補償方法減少了測量誤差。
–材料介電常數(shù)和滲透率配件，高溫表征，各種無源組件，和接地測量用阻抗探頭