資料介紹
現(xiàn)實(shí)世界的本質(zhì)就是模擬。我們需要從周圍世界采集的任何信息始終是一個(gè)模擬值。但要在微處理器內(nèi)處理模擬數(shù)據(jù)需要先將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式。因此,SoC中使用多種不同的ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)。根據(jù)幾個(gè)參數(shù)(即吞吐量、噪聲抗擾度及設(shè)計(jì)復(fù)雜性)選擇相應(yīng)類型的ADC。
SoC設(shè)計(jì)人員不需要了解集成到SoC中的任何IP的復(fù)雜深層設(shè)計(jì)。因此,如果將ADC視為一個(gè)黑盒,即使從SoC設(shè)計(jì)人員的角度來看,在SoC層面仍有許多因素會(huì)決定ADC的性能質(zhì)量。我們必須格外注意這些因素。
將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)需要在時(shí)間以及幅度上進(jìn)行離散化。時(shí)間離散在采樣相位上進(jìn)行,而幅度離散在量化相位進(jìn)行。采樣通過采樣保持電路完成。采樣保持電路有一個(gè)開關(guān)、一個(gè)阻抗路徑以及一個(gè)電容,當(dāng)開關(guān)關(guān)閉時(shí)在該電容上對電壓進(jìn)行采樣。量化簡言之是指在一定范圍內(nèi)(由ADC的參考電壓控制)將采樣值縮放為數(shù)字值。采樣和量化相位如圖1所示。

圖1:通用模數(shù)轉(zhuǎn)換流程
即使在簡單的ADC黑盒示意圖中,我們也需要了解其在SoC中的集成知識:
● ADC有多個(gè)輸入信道,只有一個(gè)數(shù)字輸出。
● 信道之間存在復(fù)用,這樣,在任何時(shí)候ADC都能轉(zhuǎn)換來自于一個(gè)信道的數(shù)據(jù)。
● 采樣通過一個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行。
● 任何ADC在其量化相位都使用一個(gè)基準(zhǔn)。
鑒于以上因素,我們便會(huì)明白,即使在同一個(gè)、甚至非常簡單的ADC外部視圖中也會(huì)有許多設(shè)計(jì)難點(diǎn),同時(shí)還有許多常見問題。我們將在以下章節(jié)中逐一討論。圖2展示了將ADC集成到SoC的一般情況。

圖2:ADC到SoC的一般集成
模擬輸入信道
在轉(zhuǎn)換的第一個(gè)相位,也就是采樣相位,輸入信道的模擬輸入是最重要的。采樣電容是ADC設(shè)計(jì)的組成部分,但是采樣遇到的電阻與SoC集成有較大的關(guān)聯(lián)。需要核實(shí)一些常見的整合細(xì)節(jié)。
模擬輸入路徑的電阻決定采樣所需的時(shí)間(如果C相同,采樣時(shí)間將隨著R的增加而增加,采樣時(shí)間等于電容器的充電時(shí)間)。采樣相位通過一個(gè)開關(guān)控制。在ADC IP設(shè)計(jì)的一個(gè)可編程寄存器指定的時(shí)段內(nèi),該開關(guān)保持關(guān)閉。
SoC設(shè)計(jì)人員不需要了解集成到SoC中的任何IP的復(fù)雜深層設(shè)計(jì)。因此,如果將ADC視為一個(gè)黑盒,即使從SoC設(shè)計(jì)人員的角度來看,在SoC層面仍有許多因素會(huì)決定ADC的性能質(zhì)量。我們必須格外注意這些因素。
將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)需要在時(shí)間以及幅度上進(jìn)行離散化。時(shí)間離散在采樣相位上進(jìn)行,而幅度離散在量化相位進(jìn)行。采樣通過采樣保持電路完成。采樣保持電路有一個(gè)開關(guān)、一個(gè)阻抗路徑以及一個(gè)電容,當(dāng)開關(guān)關(guān)閉時(shí)在該電容上對電壓進(jìn)行采樣。量化簡言之是指在一定范圍內(nèi)(由ADC的參考電壓控制)將采樣值縮放為數(shù)字值。采樣和量化相位如圖1所示。

圖1:通用模數(shù)轉(zhuǎn)換流程
即使在簡單的ADC黑盒示意圖中,我們也需要了解其在SoC中的集成知識:
● ADC有多個(gè)輸入信道,只有一個(gè)數(shù)字輸出。
● 信道之間存在復(fù)用,這樣,在任何時(shí)候ADC都能轉(zhuǎn)換來自于一個(gè)信道的數(shù)據(jù)。
● 采樣通過一個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行。
● 任何ADC在其量化相位都使用一個(gè)基準(zhǔn)。
鑒于以上因素,我們便會(huì)明白,即使在同一個(gè)、甚至非常簡單的ADC外部視圖中也會(huì)有許多設(shè)計(jì)難點(diǎn),同時(shí)還有許多常見問題。我們將在以下章節(jié)中逐一討論。圖2展示了將ADC集成到SoC的一般情況。

圖2:ADC到SoC的一般集成
模擬輸入信道
在轉(zhuǎn)換的第一個(gè)相位,也就是采樣相位,輸入信道的模擬輸入是最重要的。采樣電容是ADC設(shè)計(jì)的組成部分,但是采樣遇到的電阻與SoC集成有較大的關(guān)聯(lián)。需要核實(shí)一些常見的整合細(xì)節(jié)。
模擬輸入路徑的電阻決定采樣所需的時(shí)間(如果C相同,采樣時(shí)間將隨著R的增加而增加,采樣時(shí)間等于電容器的充電時(shí)間)。采樣相位通過一個(gè)開關(guān)控制。在ADC IP設(shè)計(jì)的一個(gè)可編程寄存器指定的時(shí)段內(nèi),該開關(guān)保持關(guān)閉。
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