本內(nèi)容向大家提供了JTAG功能及系統(tǒng)設(shè)計(jì)

　　JTAG也是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議,如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時(shí)鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。 相關(guān)JTAG引腳的定義為：TCK為測試時(shí)鐘輸入;TDI為測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過TDI引腳輸入JTAG接口;TDO為測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過TDO引腳從JTAG接口輸出;TMS為測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式;TRST為測試復(fù)位，輸入引腳，低電平有效。GND

　　TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口，用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實(shí)現(xiàn)JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實(shí)際使用時(shí)一般通過四條線連接，VCC，SBWTCK，SBWTDIO，GND，這樣就可以很方便的實(shí)現(xiàn)連接，又不會占用大量引腳。

　　JTAG最初是用來對芯片進(jìn)行測試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access Port測試訪問口)通過專用的JTAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測試。JTAG測試允許多個(gè)器件通過JTAG接口串聯(lián)在一起，形成一個(gè)JTAG鏈，能實(shí)現(xiàn)對各個(gè)器件分別測試?，F(xiàn)在，JTAG接口還常用于實(shí)現(xiàn)ISP(In-System Programmable;在線編程)，對FLASH等器件進(jìn)行編程。

　　JTAG編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進(jìn)行預(yù)編程后再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進(jìn)度。JTAG接口可對PSD芯片內(nèi)部的所有部件進(jìn)行編程。