輸入電容可能會成為高阻抗和高頻運(yùn)算放大器（op amp）應(yīng)用的一個(gè)主要規(guī)格。值得注意的是，當(dāng)光電二極管的結(jié)電容較小時(shí)，運(yùn)算放大器的輸入電容會成為噪聲和帶寬問題的主導(dǎo)因素。運(yùn)算放大器的輸入電容和反饋電阻在放大器的響應(yīng)中產(chǎn)生一個(gè)極點(diǎn)，從而影響穩(wěn)定性并增加較高頻率下的噪聲增益。因此，穩(wěn)定性和相位裕量可能會降低，輸出噪聲可能會增加。實(shí)際上，以前的一些CDM（差模電容）測量技術(shù)依據(jù)的是高阻抗反相電路、穩(wěn)定性分析以及噪聲分析。這些方法可能會非常繁瑣。在諸如運(yùn)算放大器之類的反饋放大器中，總有效輸入電容由CDM與負(fù)輸入共模電容（或?qū)Φ氐腃CM–）并聯(lián)組成。CDM難以測量的原因之一是運(yùn)算放大器的主要任務(wù)是防止兩個(gè)輸入不相關(guān)。與測量CDM的難度相比，直接測量對地的正輸入共模電容 CCM+相對容易一些。在運(yùn)算放大器的同相引腳上放置一個(gè)較大的串聯(lián)電阻并施加正弦波或噪聲源，就可以使用網(wǎng)絡(luò)分析儀或頻譜分析儀來測量由運(yùn)算放大器輸入電容而產(chǎn)生的-3 dB的頻率響應(yīng)。假定CCM+和CCM–相同，特別是對于電壓反饋放大器。但是，這些年來，測量CDM變得日益困難；運(yùn)算放大器的固有特性會迫使其輸入相等，從而自舉CDM，因此所使用的各種不同的技術(shù)都無法令人滿意。當(dāng)輸入被強(qiáng)制分開并進(jìn)行電流測量時(shí)，輸出將試圖進(jìn)行對抗。-檢測CDM的傳統(tǒng)方法是間接測量，該方法依賴于相位裕度的降低，且因并聯(lián)使用CCM–等其他電容而變得更復(fù)雜。我們希望待測運(yùn)算放大器能夠像客戶平時(shí)的用法一樣，在閉環(huán)條件下正常運(yùn)行并執(zhí)行功能。建議的一種可行方法是分離輸入并進(jìn)行輸出削波，但是這可能會使內(nèi)部電路無法工作（取決于運(yùn)算放大器拓?fù)洌虼藢?shí)測電容可能無法反映實(shí)際工作電容。在這種方法中，不會對輸入進(jìn)行過度分離，以避免輸入級的非線性以及過多的輸出擺幅或削波。本文將介紹一種簡單直接的 CDM測量方法。