任何材料都會對入射到此材料的電磁波產(chǎn)生影響，例如，部分電磁波能量會被反射回入射的方向，也有部分可能會被透射到材料的另外的表面，還有部分電磁波能量會被消耗在材料中并轉換成為其他形式的能量，例如變成熱能。

　　不同的材料對不同頻率和能量的入射電磁波可能會有不同的特性表現(xiàn)。例如，眼鏡鏡片就是我們用于對光波（很高頻率的電磁波）進行影響的一種材料。一般的視力校正鏡片希望入射的光波能量全部從鏡片的另外一個表面透射出來，而墨鏡鏡片主要是將入射的光波消耗掉（或反射回入射方向，例如表面金屬鍍膜），不同顏色的墨鏡對不同頻率（顏色）的光波的透射消耗不同。測量目標 · 介電常數(shù)：是描述材料與電場相互作用的一個量。一般為復數(shù)，其實部（ε’）表征外部電場中存儲于材料中的能量，虛部（ ε’’）表征外部電場在材料中消耗的能量。對于不同方向的電場，材料的介電常數(shù)可能不同。 · 磁導率：是描述材料與磁場相互作用的一個量。一般也為復數(shù)，同樣其實部（μ’）表征外部磁場中存儲于材料中的能量，虛部（ μ’’）表征外部磁場在材料中消耗的能量。有些材料，例如，鐵，鈷等金屬和其合金具有磁滯特性。如果知道了材料的介電常數(shù)和磁導率，我們就可以計算出電磁波在材料內(nèi)部和兩種不同材料的表面的反射，損耗和透射的特性。材料的高頻測量應用通過對材料的高頻特性測量直接推算出此材料在高頻應用中的表現(xiàn)，例如，對材料的電磁波吸收特性的測量，我們可以推算出將此材料涂在飛機表面后飛機對雷達的隱身效果。再例如，對纖維板材料的高頻特性測量，可以推斷出此類材料是否適于作為電路板。

　　諧振法

　　主要包括高Q 腔法、矩形腔法、微帶諧振器法、帶狀線諧振器法、超導腔法、介質(zhì)諧振器法、諧振腔微擾法等。標準圓柱形諧振腔高Q腔法采用TE01p模，被測樣品加工成圓片狀置入腔內(nèi)，在測得諧振腔加載前后的諧振頻率和固有品質(zhì)因數(shù)后，可得介質(zhì)材料的微波復介電常數(shù)。該方法由于利用了腔的高Q值和被測樣品重加載，測試準確度較高，往往在國家計量部門作為計量標準。矩形腔法由塊狀被測樣品填充矩形腔，矩形腔的橫向尺寸與介質(zhì)大小一樣，而縱向為部分填充，工作模式通常取TE10p模。采用較小介電常數(shù)的被測介質(zhì)材料置入諧振腔，對腔內(nèi)場進行微小的擾動，通過對諧振頻率進行測量，可得介質(zhì)材料的復介電常數(shù)。但微擾較大時，將會出現(xiàn)較大的測試誤差。微擾法主要有TM0n0的圓柱腔微擾法和TE10p的矩形腔微擾法。超導腔法是利用當測試腔置入低溫環(huán)境下其微波表面電阻低，Q 值高的特點對介質(zhì)材料的復介電常數(shù)進行測量，因為它的Q 值較常規(guī)腔高得多，所以它尤其適用于對較低損耗材料的測量。微帶諧振器法通常將被測介質(zhì)作為環(huán)狀微帶諧振器的襯底，帶狀線諧振器法通常將被測基片作為帶狀線諧振器的襯底材料，對其諧振頻率和Q 值進行測量，可求得復介電常數(shù)。該方法十分適合用于對基片復介電常數(shù)的測量。將圓柱形高介電常數(shù)、低損耗的被測介質(zhì)置入兩金屬板之間以構成諧振器進行測量的方法， 其測試的準確度較高。這種方法對測高介電常數(shù)的介質(zhì)材料，目前仍為最有效的方法。諧振法在測試準確度方面，尤其是低耗材料的損耗測試方面，比起傳輸要好得多。但是對于高損耗介質(zhì)材料，諧振法難以找到諧振峰。測試往往是在某一個頻率點進行，從而限制了它的測試頻帶。近年來，為了彌補它的不足，往往采用多模技術以擴展其測試頻帶。