資料介紹
由于全球經(jīng)濟(jì)與科技的發(fā)展,電子產(chǎn)品已迅速深入世界的各個(gè)角落。然而,許多偏遠(yuǎn)地區(qū)基礎(chǔ)建設(shè)不佳,或是氣候極端的地方,電子產(chǎn)品遭受雷擊的機(jī)率與能量提高,所造成電氣過(guò)載(Electrical Overstress, EOS)的反修率也隨之提升。因此,如中國(guó)內(nèi)地自家電下鄉(xiāng)計(jì)劃之后,不斷的提高電子產(chǎn)品雷擊耐受度(IEC 61000-4-5)的規(guī)格,從原有的1kV,漸漸提升到4kV,甚至已有產(chǎn)品要求6kV的規(guī)格。雷擊事件所產(chǎn)生的噪聲是屬低頻(事件長(zhǎng)度為20usec以上)但能量卻很大的噪聲,所以雷擊保護(hù)組件的設(shè)計(jì)都著重在能宣泄大能量噪聲,而非其反應(yīng)速度上。雷擊保護(hù)組件目前還是以陶瓷材料所制作的組件如Varistor為主,因?yàn)槠涑杀镜陀帜苄勾竽芰康睦讚粼肼?。不過(guò)這類(lèi)組件因其反應(yīng)速度很慢(大于35nsec以上),不可以同時(shí)拿來(lái)當(dāng)靜電放電(Electrostatic Discharge, ESD)保護(hù)組件。至于ESD事件所產(chǎn)生的噪聲是屬高頻(事件長(zhǎng)度為60nsec以?xún)?nèi))但能量很小的噪聲,所以ESD保護(hù)組件的設(shè)計(jì)必須著重于其反應(yīng)速度上,唯有反應(yīng)速度在10nsec以?xún)?nèi)的保護(hù)組件才有ESD防護(hù)效果。雷擊保護(hù)組件的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)在于要在有限的組件體積下,能宣泄最大能量的雷擊噪聲,而組件材料的選擇會(huì)是設(shè)計(jì)重點(diǎn)。ESD保護(hù)組件的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)則是在設(shè)計(jì)組件的快速反應(yīng)速度與反應(yīng)后的低導(dǎo)通阻抗,唯有如此才能提供低箝制電壓來(lái)保護(hù)系統(tǒng)的正常運(yùn)作,而此類(lèi)組件的設(shè)計(jì)重點(diǎn)會(huì)是在組件結(jié)構(gòu)及其所用的制程上。ESD保護(hù)組件現(xiàn)在則是以半導(dǎo)體材料與制程所制作的組件為主,因?yàn)槠浔Wo(hù)效果最佳、組件可靠度也最佳、成本也可因設(shè)計(jì)成Array式而降得很低。晶焱科技擁有先進(jìn)的雷擊與ESD防護(hù)設(shè)計(jì)技術(shù)。針對(duì)雷擊保護(hù),晶焱科技推出AZ3 系列雷擊保護(hù)方案,提供低電容、高雷擊耐受度的防護(hù)組件,供系統(tǒng)產(chǎn)品于雷擊測(cè)試時(shí)最佳的防護(hù)效果。另由于半導(dǎo)體組件快速反應(yīng)的特性,因此同時(shí)提供ESD防護(hù)的功能,用戶(hù)不需再額外添加ESD保護(hù)組件。晶焱科技的ESD和雷擊保護(hù)組件擁有極低的箝制電壓(Clamping Voltage),使得 ESD的能量能被箝制在更低的電壓以防止系統(tǒng)內(nèi)部電路于雷擊或ESD測(cè)試時(shí)發(fā)生數(shù)據(jù)錯(cuò)誤、當(dāng)機(jī)甚至受到損毀。因此箝制電壓是判斷ESD保護(hù)組件對(duì)于系統(tǒng)電路保護(hù)效能最重要的參數(shù)。針對(duì)以太網(wǎng)絡(luò)接口,晶焱科技提供完整的雷擊與ESD防護(hù)方案。AZ3028-04P于一次測(cè)提供線對(duì)線的雷擊防護(hù),AZ3025-04F 于二次測(cè)提供線對(duì)線的雷擊防護(hù),AZ3133-04F于二次測(cè)提供線對(duì)地的雷擊防護(hù),并能夠有效防護(hù)ESD的沖擊。圖一為利用 AZ3028-04P與AZ3133-04F防護(hù)以太網(wǎng)絡(luò)接口的電路圖,可通過(guò)IEC61000-4-5 10/700us線對(duì)線2kV,線對(duì)地6kV的測(cè)試規(guī)范,以及IEC61000-4-2 ESD 30kV的測(cè)試規(guī)范。
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