資料介紹
概述
在很多發(fā)射應(yīng)用中必須產(chǎn)生多路相對相位準確已知的模擬輸出。在正交調(diào)制器中(圖 1),I 和 Q 通道必須具有明確的相位關(guān)系來實現(xiàn)鏡頻抑制。圖 1 中,DAC1 和 DAC2 的延遲必須匹配。使用數(shù)字波束成形技術(shù)的發(fā)射器需要準確地控制大量 DAC 之間的相對相位。
使用具有多路輸入的 DAC (MUX-DAC)如 MAX19692,或具有數(shù)據(jù)時鐘輸出的內(nèi)插 DAC 時,輸入數(shù)據(jù)速率為 DAC 刷新速率的 1/N,DAC 在一個或兩個數(shù)據(jù)時鐘跳變沿鎖存數(shù)據(jù)。MAX19692 中 N = 4,輸入數(shù)據(jù)速率為 DAC 刷新速率的 1/4。DAC 輸出一個由輸入時鐘經(jīng)數(shù)字分頻得到的數(shù)據(jù)時鐘(DATACLK)。DAC 上電時,數(shù)字時鐘分頻器可在 N 個狀態(tài)的任意一個啟動。如果使用多個 DAC,不同 DAC 的時鐘分頻器會在不同的狀態(tài)啟動,所以 DAC 會在不同的時間鎖存數(shù)據(jù)。除非這種情況被發(fā)現(xiàn)并校正,否則不同的 DAC 輸出數(shù)據(jù)時相互之間可能會有一個或更多個時鐘周期的延遲。如果每個 DAC 的時鐘分頻器可以復(fù)位,那么這種情況可以避免,但是仍然會存在一些問題。如果其中一個時鐘分頻器發(fā)生錯誤,DAC 會變得永久異相,除非執(zhí)行一些錯誤狀態(tài)檢測方法。為了保證系統(tǒng)的可靠性,必須檢測相位錯誤狀態(tài)并改正。如果 DAC 工作于非常高速的狀態(tài)下,那么復(fù)位信號與輸入時鐘的同步也可能是個難題。圖 2 所示是 MAX19692 的時鐘(CLKP,CLKN)和數(shù)據(jù)時鐘(DATACLKP,DATACLKN)接口的簡化框圖。初始時鐘由一個兩位計數(shù)器四分頻后用于鎖存數(shù)字 DAC 輸入。該計數(shù)器可能在四個狀態(tài)中的任意一個啟動(圖 3)。如果使用兩個多路復(fù)用 DAC,這兩個 DAC 可能會在不同的狀態(tài)啟動。這可能導(dǎo)致 DAC1 的鎖存與 DAC2 的鎖存之間存在 -1、0、1 或 2 個時鐘周期的延遲。 MAX19692 的數(shù)據(jù)時鐘輸出再由數(shù)據(jù)輸入鎖存時鐘進行 2 分頻或 4 分頻。然后數(shù)據(jù)在雙倍數(shù)據(jù)率(DDR)模式下在時鐘的兩個跳變沿進行鎖存,或者在四倍數(shù)據(jù)率(QDR)模式下在時鐘的每 90°相位處進行鎖存。如果多個 DAC 的數(shù)據(jù)時鐘延遲相匹配,或數(shù)據(jù)時鐘相互之間反相,那么鎖存時鐘相匹配。
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