循環(huán)冗余校驗(yàn)（CRC）技術(shù)用于檢測(cè)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)中的錯(cuò)誤，但在檢測(cè)到錯(cuò)誤時(shí)不進(jìn)行校正。該 技術(shù)旨在檢查數(shù)據(jù)傳輸或數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的完整性。在確保數(shù)據(jù)可靠性方面，CRC技術(shù)功能強(qiáng)大且 易于實(shí)施。該技術(shù)的診斷覆蓋范圍可滿足基本安全標(biāo)準(zhǔn)要求。這就是認(rèn)證符合IEC 60335-1 和 IEC 607030-1 標(biāo)準(zhǔn)（稱為“B 級(jí)”要求）的ST固件時(shí)，在Flash內(nèi)容完整性自檢檢查 中使用CRC功能的原因。更多信息，請(qǐng)參閱應(yīng)用筆記AN3307和適用于不同系列產(chǎn)品的相關(guān) 固件包。當(dāng)CRC校驗(yàn)和信息必須由鏈接器直接放入用戶代碼中時(shí)（主要以CRC描述符數(shù)據(jù)表 的格式），建議在編譯器手冊(cè)中檢查所有必要的CRC設(shè)置。 CRC以多項(xiàng)式算法為基礎(chǔ)。計(jì)算GF（2）中一個(gè)多項(xiàng)式除以另一個(gè)多項(xiàng)式的余數(shù)。余數(shù)被稱 為校驗(yàn)和，而被除數(shù)是數(shù)據(jù)，除數(shù)是生成多項(xiàng)式。 注： GF（2）（兩元素伽羅瓦域）中的多項(xiàng)式是單變量x的多項(xiàng)式，其系數(shù)為0或1。 本應(yīng)用筆記描述了嵌入在所有STM32系列（F0、F1、F2、F3、F4、L1）中的循環(huán)冗余校驗(yàn)外 設(shè)的功能，以及配置該外設(shè)所需的步驟。