隨著無(wú)線技術(shù)更多地嵌入諸如車(chē)載雷達(dá)和機(jī)器對(duì)機(jī)器通信等“關(guān)鍵任務(wù)”應(yīng)用中，新的測(cè)試方法也相應(yīng)出現(xiàn)，以確保系統(tǒng)的可靠性。其中一種RF驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)測(cè)試方法便是“硬件在環(huán)（HIL） 測(cè)試”，該測(cè)試方法屬于“實(shí)時(shí)”測(cè)試類(lèi)。今天，小編就將帶你透過(guò)美國(guó)國(guó)家儀器大咖工程師David A. Hall的視角了解HIL測(cè)試及其在自動(dòng)駕駛測(cè)試中的發(fā)展趨勢(shì)。

　　HIL測(cè)試所采用的原理，即認(rèn)為測(cè)試工程師可以創(chuàng)建出測(cè)試系統(tǒng)，以仿真現(xiàn)實(shí)世界中典型存在實(shí)體系統(tǒng)，這并非是新的理念。然而，RF技術(shù)在諸如車(chē)載雷達(dá)等關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用中的日益普及，使得HIL測(cè)試成為無(wú)線應(yīng)用越來(lái)越常用的測(cè)試方法。

　　HIL測(cè)試系統(tǒng)的架構(gòu)

　　HIL測(cè)試的理念最初是作為測(cè)試航空航天和汽車(chē)工業(yè)復(fù)雜控制系統(tǒng)的機(jī)制而被提出來(lái)的。在典型的應(yīng)用中，工程師可以通過(guò)利用HIL測(cè)試系統(tǒng)模擬電氣信號(hào)和發(fā)動(dòng)機(jī)的行為來(lái)測(cè)試發(fā)動(dòng)機(jī)的電子控制單元（ECU）。在本應(yīng)用中，該測(cè)試系統(tǒng)結(jié)合了輸入和輸出（常被稱(chēng)為“I/O”）用模擬和數(shù)字模擬接口，以及確定性處理元件，以有效仿真系統(tǒng)（如圖1所示）。