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標(biāo)簽 > 加速老化試驗(yàn)
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老化試驗(yàn)箱:加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽
在集成電路研發(fā)中,傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年,無(wú)法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境,將數(shù)年老化過(guò)程壓縮至數(shù)百小時(shí),...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 382 0
材料老化測(cè)試的重要性材料老化測(cè)試是材料科學(xué)中的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),它涉及對(duì)材料在自然環(huán)境下長(zhǎng)期使用后性能變化的預(yù)測(cè)和評(píng)估。這項(xiàng)技術(shù)對(duì)于橡膠、塑料、絕緣材料等的...
2024-12-20 標(biāo)簽:材料加速老化試驗(yàn)汽車(chē) 393 0
很多客戶(hù)都在詢(xún)高壓加速老化試驗(yàn)箱/高溫高濕高壓試驗(yàn)設(shè)備時(shí),都分不清自己要的是PCT還是HAST,只知道是要高溫高濕高壓的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,其他技術(shù)參數(shù)的客戶(hù)并不...
2024-01-22 標(biāo)簽:PCT試驗(yàn)箱加速老化試驗(yàn) 3694 0
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