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標(biāo)簽 > 可靠性測(cè)試
可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。
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大型工業(yè)包裝跌落測(cè)試與可靠性評(píng)估:確保產(chǎn)品抗壓性能的重要環(huán)節(jié)
大型工業(yè)包裝跌落測(cè)試,用于評(píng)估產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中受到?jīng)_擊和振動(dòng)影響,通過模擬實(shí)際運(yùn)輸過程中的各種情況,例如車輛在道路行駛過程中急剎、顛簸、轉(zhuǎn)彎等環(huán)境,對(duì)包...
除了新能源,還有哪些產(chǎn)品需要做可靠性測(cè)試?
除了新能源汽車需要做快速溫變?cè)囼?yàn)箱可靠性檢測(cè),還有什么產(chǎn)品需要進(jìn)行可靠性檢測(cè)呢? 我們一起來看看?
LED燈具可靠性測(cè)試方案-Lab Companion
目前,國內(nèi)不少廠家在生產(chǎn)燈具后僅僅對(duì)燈具進(jìn)行簡(jiǎn)單的老化測(cè)試后出貨,顯然這是無法檢驗(yàn)出LED的壽命期的失效情況,同時(shí)無法保證產(chǎn)品的質(zhì)量,因此后期可能會(huì)有不...
二次電池性能的主要方面是什么? 電壓、內(nèi)阻、容量、內(nèi)壓、自放電率、循環(huán)壽命、密封性能、安全性能、儲(chǔ)存性能、外觀等,以及過充過放、可焊性、耐腐蝕性等。 手...
SPEA邀您關(guān)注NEPCON汽車電子智造創(chuàng)新大會(huì)
NEPCON是深耕汽車電子行業(yè)專業(yè)展會(huì)之一,在加速汽車電子產(chǎn)業(yè)技術(shù)進(jìn)步、促進(jìn)產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展發(fā)揮著積極作用。7月24日,NEPCON將在上海國際汽車城瑞立...
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中,環(huán)境可靠性測(cè)試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測(cè)試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中的潛在問題。...
霍爾元件是一種利用霍爾效應(yīng)來測(cè)量磁場(chǎng)的傳感器,廣泛應(yīng)用于電機(jī)控制、位置檢測(cè)、速度測(cè)量以及電流監(jiān)測(cè)、變頻控制測(cè)試、交直流電源、電源逆變器和電子開關(guān)等領(lǐng)域。...
厚聲貼片電阻的可靠性測(cè)試與壽命評(píng)估是確保其在實(shí)際應(yīng)用中穩(wěn)定工作的重要環(huán)節(jié)。以下是對(duì)這兩個(gè)方面的詳細(xì)分析: 一、可靠性測(cè)試 厚聲貼片電阻的可靠性測(cè)試主要包...
多通道數(shù)據(jù)采集和信號(hào)生成的模塊化儀器如何重構(gòu)飛機(jī)電子可靠性測(cè)試體系?
隨著飛機(jī)核心電子系統(tǒng)的日益復(fù)雜,精準(zhǔn)高效的測(cè)試工具變得尤為重要。多通道數(shù)據(jù)采集和信號(hào)生成的模塊化儀器憑借其靈活的配置和強(qiáng)大的多通道數(shù)據(jù)采集能力,成為航空...
2025-02-26 標(biāo)簽:數(shù)據(jù)采集可靠性測(cè)試信號(hào)生成 291 0
【直播 | 4月24日】直擊車規(guī)級(jí)功率器件熱可靠性測(cè)試,就在和??萍贾辈ラg
活動(dòng)介紹在全球電動(dòng)汽車市場(chǎng)迅猛發(fā)展的大趨勢(shì)下,中國市場(chǎng)表現(xiàn)格外亮眼,其快速崛起極大地刺激了車規(guī)級(jí)器件和功率模塊的需求增長(zhǎng)。車規(guī)級(jí)器件與消費(fèi)電子、工業(yè)級(jí)產(chǎn)...
導(dǎo)遠(yuǎn)兩項(xiàng)產(chǎn)品可靠性測(cè)試規(guī)范獲評(píng)先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)
近日,導(dǎo)遠(yuǎn)科技提交的兩項(xiàng)關(guān)于電子、模組產(chǎn)品的可靠性測(cè)試規(guī)范經(jīng)廣東省標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)組織專家組評(píng)審后,獲評(píng)廣東省先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。
2025-04-30 標(biāo)簽:電子產(chǎn)品模組可靠性測(cè)試 101 0
ASTM F1269標(biāo)準(zhǔn)解讀:推拉力測(cè)試機(jī)在BGA焊球可靠性測(cè)試中的應(yīng)用
在當(dāng)今高速發(fā)展的微電子封裝和半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,球形凸點(diǎn)(如焊球、導(dǎo)電膠凸點(diǎn)、銅柱凸點(diǎn)等)作為芯片與基板互連的關(guān)鍵結(jié)構(gòu),其機(jī)械可靠性直接影響產(chǎn)品的使用壽命和...
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