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標(biāo)簽 > 可靠性
元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^(guò)可靠度、失效率、平均無(wú)故障間隔等來(lái)評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性。
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基礎(chǔ)及應(yīng)用數(shù)學(xué)是如何推進(jìn)產(chǎn)品可靠性的設(shè)計(jì)和管理提升的?
可靠性最常見(jiàn)的指標(biāo)是MTBF(平均無(wú)故障間隔時(shí)間),它的通俗表述可以用個(gè)理想測(cè)試來(lái)精確確定一批產(chǎn)品的MTBF值,即將該批產(chǎn)品投入使用,當(dāng)該批產(chǎn)品全部出現(xiàn)...
LED照明有著許多傳統(tǒng)光源無(wú)可比擬的優(yōu)點(diǎn)和廣闊的市場(chǎng)前景。但是目前可靠性差、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)缺乏、價(jià)格昂貴等一系列問(wèn)題困擾著LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,特別是高亮度L...
芯片設(shè)計(jì)問(wèn)題須知及設(shè)計(jì)策略
長(zhǎng)期可靠性的問(wèn)題,比如電子遷移(EM)失效機(jī)制,歷來(lái)屬于晶圓廠的處理范疇。但隨著納米設(shè)計(jì)中可靠性實(shí)現(xiàn)的愈加困難,對(duì)設(shè)計(jì)人員而言,不能再把問(wèn)題扔給制造...
2012-05-02 標(biāo)簽:芯片設(shè)計(jì)電子遷移可靠性 1524 0
倒置開(kāi)關(guān)是存儲(chǔ)測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件,針對(duì)存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)低功耗的要求,研制了微型光電倒置開(kāi)關(guān)。
2012-04-05 標(biāo)簽:光電開(kāi)關(guān)可靠性 1477 0
司空見(jiàn)慣的經(jīng)驗(yàn)性的東西,其實(shí)我們都很多都是錯(cuò)的,而這一旦用于設(shè)計(jì),產(chǎn)品可靠性可想而知。
2012-02-23 標(biāo)簽:可靠性 1205
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