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標(biāo)簽 > 掃描儀
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LiDAR(Light Detection and Ranging,激光探測與測距)是一種利用激光技術(shù)進(jìn)行距離測量和成像的技術(shù)。LiDAR激光雷達(dá)掃描儀...
1. 準(zhǔn)備掃描儀和地圖 在開始掃描之前,確保您的大幅掃描儀已經(jīng)安裝并正確配置。您可能需要安裝特定的驅(qū)動程序或軟件,以便掃描儀能夠與您的計算機(jī)通信。 檢查...
3D結(jié)構(gòu)光相機(jī)結(jié)構(gòu)設(shè)計
功能: 支持自動或手動調(diào)節(jié)增益、曝光時間、白平衡、Gamma、LUT 校正等 結(jié)構(gòu)緊湊,外形尺寸 29 mm×29 mm×30 mm,適用于...
2023-06-29 標(biāo)簽:WINDOWS掃描儀3D結(jié)構(gòu)光 1774 0
藍(lán)牙掃描儀(藍(lán)牙條碼槍)是一種無線條形碼掃描儀,它使用藍(lán)牙技術(shù)將數(shù)據(jù)傳輸?shù)狡渌С炙{(lán)牙的設(shè)備。 它可以掃描物品上的條形碼,并通過藍(lán)牙將信息傳輸?shù)诫娔X、手...
工業(yè)級gom三維掃描儀(如ATOS系列)的檢測原理主要基于結(jié)構(gòu)光掃描技術(shù)(StructuredLightScanning)和光學(xué)三角測量原理。以下是其基...
易于使用且功能豐富的 DSS 軟件可讓您在元器件級別,甚至在芯片的內(nèi)部,測量和可視化顯示電磁輻射信號的強(qiáng)度和位置,測量結(jié)果可以二維或者三維彩色顯示,并可...
常用遙感傳感器中成像的傳感器主要包括以下幾類: 一、光學(xué)成像傳感器 多波段掃描儀 :多波段掃描儀是一種重要的光學(xué)成像傳感器,它能夠同時獲取多個波段的圖像...
將物聯(lián)網(wǎng)帶入工廠自動化、物流和資產(chǎn)管理領(lǐng)域
隨著全球制造業(yè)和供應(yīng)鏈的日益復(fù)雜和互聯(lián),世界各地的公司正在利用無線物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的力量,來簡化工廠自動化、物流跟蹤和資產(chǎn)跟蹤。
2021-04-19 標(biāo)簽:物聯(lián)網(wǎng)掃描儀wi-fi 1575 0
采用空地一體掃描技術(shù)的三維掃描設(shè)備的應(yīng)用研究
采用無人機(jī)機(jī)載三維激光雷達(dá)+地面站補(bǔ)點的方式作業(yè),外業(yè)投入 3 人,航飛了 20 個架次( 采用大疆飛行平臺,航時有限,每架次只能飛行 16 min) ...
Trivy(發(fā)音)是一款全面且多功能的安全掃描儀。Trivy 擁有用于查找安全問題的掃描儀,以及可以找到這些問題的目標(biāo)。 目標(biāo)(Trivy 可以掃描的內(nèi)容):
2023-12-13 標(biāo)簽:掃描儀文件系統(tǒng)虛擬機(jī) 1143 0
在上期講完了電磁干擾(EMI)掃描儀的定義和應(yīng)用以后,我們應(yīng)該如何去選擇一款合適的電磁干擾(EMI)掃描儀?在當(dāng)今復(fù)雜的電子設(shè)備環(huán)境中,選擇合適的電磁干...
ATOS Q配備多個可更換的鏡頭組,確保對中小型零件進(jìn)行高精度測量。它采用固定的相機(jī)位置,因此在更換測量體積時,可以輕松地從最小測量體積切換至最大測量體積。
精迅V1 3d結(jié)構(gòu)光掃描儀產(chǎn)品介紹
支持在Windows系統(tǒng)下,直接通過C++(VS2015)SDK代碼來控制相機(jī):調(diào)整增益、曝光時間、拍照,控制投影儀:寫入條紋/格雷碼圖案(雙方向),投...
從古老三角法到現(xiàn)代高精尖掃描儀當(dāng)我們對對物體進(jìn)行三維測量時,一個非常重要的話題,便是如何捕捉被測點的空間三維坐標(biāo)信息,而比較常用的方法就是三角測量法。人...
用黑科技書寫“黑神話”,基于飛凌嵌入式RK3576核心板的三維掃描儀應(yīng)用方案
三維掃描系統(tǒng)是一種集光、機(jī)、電和計算機(jī)技術(shù)于一體的應(yīng)用型技術(shù),主要用于對物體的外形、結(jié)構(gòu)及色彩進(jìn)行掃描,以獲取物體表面的空間坐標(biāo)。不止是游戲領(lǐng)域,三維掃...
思看科技手持三維掃描儀有高速、精細(xì)、復(fù)合及深孔掃描模式,適用于不同場景需求,合理選擇模式可快速獲取、處理物體三維數(shù)據(jù),支持后續(xù)制造、設(shè)計或修復(fù)工作。
使用OI-EASU432型EMI掃描儀與頻譜儀對DUT進(jìn)行EMI測試實驗方案
實驗背景:在電子設(shè)備的設(shè)計與制造流程中,電磁干擾(EMI)占據(jù)著舉足輕重的地位,是不可或缺的考量要素。鑒于某些設(shè)備在運作時可能釋放出高強(qiáng)度的電磁輻射,進(jìn)...
使用EMI掃描儀和EMI測試接收機(jī)進(jìn)行EMI可視化分析
隨著電子設(shè)備的復(fù)雜性日益增長,EMC(電磁兼容)測試在產(chǎn)品設(shè)計與3C認(rèn)證過程中的作用愈發(fā)顯著。為通過3C認(rèn)證,企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)初期便積極引入EMI測試環(huán)節(jié)...
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