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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來(lái),能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來(lái)組合而成,又稱(chēng)為復(fù)式顯微鏡
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雙束FIB-SEM系統(tǒng)在材料科學(xué)中的應(yīng)用
導(dǎo)語(yǔ)聚焦離子束掃描電鏡雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種先進(jìn)的微納加工和成像技術(shù),它在材料科學(xué)研究中扮演著不可或缺的角色。FIB-SEM系統(tǒng)能夠?qū)Σ牧线M(jìn)行...
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD):原理、測(cè)試方法與應(yīng)用領(lǐng)域
電子背散射衍射電子背散射衍射技術(shù)(EBSD),作為一種尖端的材料分析手段,融合了掃描電子顯微鏡(SEM)的精細(xì)成像與電子衍射的晶體學(xué)分析技術(shù)。電子束與樣...
FIB技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域及工作原理解析
集成化微納加工平臺(tái)雙束聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)系統(tǒng)代表了微納加工技術(shù)的前沿,它巧妙地融合了單束FIB和SEM的優(yōu)勢(shì),為用戶(hù)提供了一個(gè)...
德國(guó)蔡司顯微鏡與FIB技術(shù)在電池材料研究中的應(yīng)用
蔡司作為一家在光學(xué)和電子顯微鏡領(lǐng)域具有深厚技術(shù)積累的企業(yè),提供聚焦離子束—掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)和飛秒激光(Laser-FIB)技術(shù)解決方案,...
晶粒尺寸與晶界特征晶粒作為材料中的基本結(jié)構(gòu)單元,其尺寸和取向?qū)Σ牧系男阅苡兄钸h(yuǎn)的影響。晶粒內(nèi)部的取向相對(duì)一致,而相鄰晶粒之間則存在明顯的取向差異。晶粒...
探索電子背散射衍射技術(shù)(EBSD):原理、應(yīng)用及重要性
EBSD是材料表征的前沿工具在材料科學(xué)領(lǐng)域,對(duì)材料內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的精確分析是至關(guān)重要的。電子背散射衍射技術(shù)(ElectronBackscatterDiff...
掃描電子顯微鏡(SEM)掃描電子顯微鏡(SEM)是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過(guò)高分辨率的電子成像技術(shù),使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造,從而在...
蔡司工業(yè)顯微鏡Axio檢測(cè)汽車(chē)電池極片毛刺
隨著新能源技術(shù)的快速發(fā)展,電池作為核心組件,其安全性與性能優(yōu)化一直是行業(yè)關(guān)注的焦點(diǎn)。電芯極片是電池構(gòu)造的基石,其制造過(guò)程中的每一個(gè)細(xì)節(jié)都直接關(guān)系到電池的...
什么是氬離子拋光儀?氬離子拋光儀是一種高精度的表面處理設(shè)備,它通過(guò)氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行精密拋光,以揭示樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體分析、...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)
EBSD技術(shù)概覽電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)是一種先進(jìn)的材料表征工具,它基于電子與材料表面晶體原子相互作用時(shí)產(chǎn)生的背散射現(xiàn)象。電子背散射的優(yōu)勢(shì)電子背散...
電子背散射衍射(EBSD):材料科學(xué)的顯微分析利器
EBSD:材料微觀結(jié)構(gòu)分析電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),依托于掃描電子顯微鏡(SEM),作為一種尖端的材料分析手段,能夠深入探究材料的微觀結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)對(duì)...
場(chǎng)發(fā)射電鏡(FESEM)應(yīng)用領(lǐng)域及案例分析
1?設(shè)備型號(hào)3臺(tái)和FIB聯(lián)用為雙束聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM),能夠?yàn)榭蛻?hù)提供專(zhuān)業(yè)的材料分析服務(wù)。2?原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種采用尖端肖特基熱場(chǎng)發(fā)...
透射電子顯微鏡(TEM)是一種利用電子束穿透超薄樣品以獲取高分辨率圖像的技術(shù),它在材料科學(xué)、生物學(xué)和物理學(xué)等多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)扮演著至關(guān)重要的角色。TEM能...
如何利用磁場(chǎng)相機(jī)實(shí)現(xiàn)先進(jìn)的磁性微結(jié)構(gòu)分析?
工業(yè)設(shè)備的持續(xù)微型化過(guò)程引發(fā)了對(duì)高級(jí)磁性微結(jié)構(gòu)表征技術(shù)的需求,這些技術(shù)需結(jié)合高分辨率、短測(cè)量時(shí)間和定量磁場(chǎng)數(shù)據(jù)。尤其是在磁性設(shè)備制造過(guò)程中進(jìn)行在線質(zhì)量控...
透射電子顯微鏡(TEM)概述透射電子顯微鏡(TEM)是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言,理解其基礎(chǔ)原理和操作...
背散射電子衍射(EBSD)的原理與應(yīng)用領(lǐng)域
No.1EBSD從原理到應(yīng)用電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域中扮演著重要角色,特別是在掃描電子顯微鏡(SEM)中,它為研究者提供了一種獲取樣...
在失效分析領(lǐng)域,X射線檢測(cè)和超聲波掃描顯微鏡(C-SAM)是兩種重要的無(wú)損檢測(cè)技術(shù),它們各自具有獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用場(chǎng)景。失效分析技術(shù)對(duì)比:X射線檢測(cè)(X-...
透射電子顯微鏡(TEM)作為電子顯微學(xué)中的重要設(shè)備,與掃描電子顯微鏡(SEM)并列,構(gòu)成了現(xiàn)代電子顯微學(xué)的兩大支柱。TEM通過(guò)電子束穿透樣品來(lái)獲取圖像,...
FIB技術(shù)在各領(lǐng)域的應(yīng)用及其運(yùn)作機(jī)制解析
雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)概述雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)是一種集成了單束聚焦離子束和掃描電子顯微鏡(SEM)功能的高精度微納加工技術(shù)。這種系統(tǒng)通過(guò)精...
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