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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來,能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來組合而成,又稱為復(fù)式顯微鏡
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光束勻化在熒光成像平場(chǎng)照明中的應(yīng)用
熒光顯微鏡熒光顯微鏡屬于光學(xué)顯微鏡家族,基于熒光的物理效應(yīng)。利用了所謂的熒光染料的顏色特性,它們被特定波長的光激發(fā),并以不同的波長再次反射吸收的光。熒光...
計(jì)量學(xué)是推動(dòng)當(dāng)前及未來幾代半導(dǎo)體器件開發(fā)與制造的重要基石。隨著技術(shù)節(jié)點(diǎn)不斷縮小至100納米,甚至更小的線寬,以及高深寬比結(jié)構(gòu)的廣泛應(yīng)用,掃描電子顯微鏡(...
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法,它通過精細(xì)調(diào)控氬離子束的深度和強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的拋光,以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)...
透射電子顯微鏡(TEM)作為電子顯微學(xué)中的重要設(shè)備,與掃描電子顯微鏡(SEM)并列,構(gòu)成了現(xiàn)代電子顯微學(xué)的兩大支柱。TEM通過電子束穿透樣品來獲取圖像,...
九項(xiàng)PCB失效分析的技術(shù)總結(jié)
切片分析切片分析就是通過取樣、鑲嵌、切片、拋磨、腐蝕、觀察等一系列手段和步驟獲得 PCB 橫截面結(jié)構(gòu)的過程。
掃描透射電子顯微鏡(STEM)掃描透射電子顯微鏡(STEM)是一種融合了透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電子顯微鏡(SEM)部分特點(diǎn)的先進(jìn)顯微技術(shù)。該技術(shù)...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)因其能夠揭示材料的微觀結(jié)構(gòu)特征而變得不可或缺。這項(xiàng)技術(shù)依賴于對(duì)樣品表面的精確分析,因此,制備符合要求的EBSD樣品是實(shí)現(xiàn)有...
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡:晶圓盤檢測(cè)的得力助手
全自動(dòng)變倍對(duì)焦顯微鏡,以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用前景,正成為晶圓盤檢測(cè)領(lǐng)域的一顆璀璨明星。
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),作為掃描電子顯微鏡(SEM)的高端拓展工具,它能夠深入剖析材料的微觀組織,實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估,為...
在材料科學(xué)的微觀研究領(lǐng)域,電子顯微鏡扮演著至關(guān)重要的角色。它能夠深入揭示材料樣品內(nèi)部的精細(xì)結(jié)構(gòu),為科研人員分析組織形貌和結(jié)構(gòu)特征提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。掃...
功率放大器在微納顆粒磁場(chǎng)驅(qū)動(dòng)控制系統(tǒng)的應(yīng)用
對(duì)非均勻型磁性顆粒進(jìn)行精準(zhǔn)操控,實(shí)現(xiàn)了微尺度下微納米磁性顆粒的定向?qū)Ш竭\(yùn)動(dòng),并對(duì)微尺度下操控磁性顆粒在顆粒加載方面的應(yīng)用進(jìn)行了初步實(shí)驗(yàn)研究。
FIB-SEM 雙束技術(shù)簡介及其部分應(yīng)用介紹
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測(cè)器以及可控樣品臺(tái)等附件,已...
聚焦離子束技術(shù):核心知識(shí)與應(yīng)用指南
精細(xì)調(diào)控離子流在微納米尺度的加工技術(shù)中,實(shí)現(xiàn)離子流的亞微米乃至納米級(jí)聚焦是一項(xiàng)至關(guān)重要的工藝。借助于精密的偏轉(zhuǎn)和加速機(jī)制,離子流能夠進(jìn)行精確的掃描運(yùn)動(dòng),...
Lumencor固態(tài)光源在臨床醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用
Lumencor的尖端固態(tài)照明產(chǎn)品支持臨床研究、診斷和治療的多種應(yīng)用。除了在熒光原位雜交(FISH)和組織病理學(xué)等顯微技術(shù)中起到重要作用外,在內(nèi)窺鏡檢查...
制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品
氬離子束拋光技術(shù)(ArgonIonBeamPolishing,AIBP),一種先進(jìn)的材料表面處理工藝,它通過精確控制的氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行加工,以實(shí)現(xiàn)...
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密...
透射電子顯微鏡(TEM)在鋰電池材料分析中的應(yīng)用
鋰電池材料微觀結(jié)構(gòu)研究在新能源技術(shù)迅猛發(fā)展的當(dāng)下,鋰電池材料研究的重要性日益凸顯。深入鉆研鋰電池材料的原子與電子結(jié)構(gòu),為材料設(shè)計(jì)的優(yōu)化與電池性能的提升筑...
氬離子拋光儀:在石油地質(zhì)行業(yè)的應(yīng)用
在石油地質(zhì)SEM中的應(yīng)用掃描電子顯微鏡(SEM)作為石油地質(zhì)領(lǐng)域不可或缺的研究利器,憑借其精準(zhǔn)的微觀觀測(cè)能力,對(duì)沉積巖中的有機(jī)質(zhì)、粘土礦物、鈣質(zhì)超微化石...
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