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標(biāo)簽 > 測(cè)試系統(tǒng)
《測(cè)試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測(cè)試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測(cè)試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過(guò)程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說(shuō)明了多路巡回檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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基于LXI平臺(tái)的混合測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行鋰離子電池測(cè)試
手機(jī)鋰電池測(cè)試主要針對(duì)經(jīng)過(guò)封裝后的電池保護(hù)電路進(jìn)行功能檢測(cè),利用電源、電子負(fù)載、多路開(kāi)關(guān)和數(shù)字萬(wàn)用表等儀器仿真各種充放電時(shí)的極限過(guò)壓、過(guò)流情況,檢測(cè)電池...
2018-11-29 標(biāo)簽:鋰離子電池電源測(cè)試系統(tǒng) 1898 0
利用LabVIEW開(kāi)發(fā)虛擬溫度測(cè)試系統(tǒng)
LabVIEW是一種程序開(kāi)發(fā)環(huán)境,由美國(guó)國(guó)家儀器(NI)公司研制開(kāi)發(fā)的,類似于C和BASIC開(kāi)發(fā)環(huán)境,但是LabVIEW與其他計(jì)算機(jī)語(yǔ)言的顯著區(qū)別是:其...
2018-11-30 標(biāo)簽:labview計(jì)算機(jī)測(cè)試系統(tǒng) 7722 0
利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái)的設(shè)計(jì)
本文分析當(dāng)前電子產(chǎn)品測(cè)試中普遍存在的問(wèn)題,提出一套通用電子產(chǎn)品功能測(cè)試平臺(tái),利用COM技術(shù)實(shí)現(xiàn),所謂COM(Component Object Model...
2018-11-30 標(biāo)簽:計(jì)算機(jī)虛擬儀器測(cè)試系統(tǒng) 5836 0
Verigy 93000直流參數(shù)的測(cè)試方法與比較分析
PMU 是Verigy 93000 進(jìn)行DC 測(cè)試最常用的硬件資源(如圖1 所示)。當(dāng)前應(yīng)用最廣泛的Pinscale測(cè)試系統(tǒng)中的PMU 有兩種, 一種稱...
2018-11-30 標(biāo)簽:芯片soc測(cè)試系統(tǒng) 6694 0
關(guān)于第五屆國(guó)際測(cè)試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會(huì)的演講
本視頻為 NI 中國(guó)行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理 付文武 在 第五屆國(guó)際測(cè)試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會(huì) 上的演講,題目為《基于PXI的大型現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)建與管理》
2018-06-25 標(biāo)簽:pxi測(cè)試系統(tǒng)ni 4661 0
深度剖析電磁繼電器的主要參數(shù)與觸點(diǎn)接觸可靠性
電磁繼電器的時(shí)間參數(shù)主要包括動(dòng)作時(shí)間、釋放時(shí)間、轉(zhuǎn)換時(shí)間、觸點(diǎn)回跳時(shí)間、觸點(diǎn)穩(wěn)定時(shí)間等。靜態(tài)接觸電阻與觸點(diǎn)接觸可靠性存在著密切的關(guān)系,為保證觸點(diǎn)的接觸可...
2017-10-29 標(biāo)簽:電阻測(cè)試系統(tǒng)電磁繼電器 7693 0
基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器
本文設(shè)計(jì)了一種基于FPGA動(dòng)態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器。系統(tǒng)可以對(duì)系統(tǒng)錯(cuò)誤進(jìn)行自行檢測(cè)和錯(cuò)誤自行定位,經(jīng)測(cè)試系統(tǒng)可以正常運(yùn)行。本系統(tǒng)下一步的工...
2013-11-28 標(biāo)簽:FPGA測(cè)試系統(tǒng)MIPS處理器 1693 2
實(shí)例解析:近場(chǎng)天線測(cè)試系統(tǒng)解決大型暗室測(cè)試難題
所有移動(dòng)服務(wù)運(yùn)營(yíng)商都面臨測(cè)試大型基站天線的問(wèn)題。測(cè)試這種天線需要配有特殊性能極大且昂貴的全電波暗室。對(duì)于這些運(yùn)營(yíng)商來(lái)說(shuō),RFX2天線特性測(cè)試系統(tǒng)解決了在...
2013-09-02 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)RF近場(chǎng)天線 7133 0
EDA環(huán)境銜接測(cè)量軟件 電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期大幅縮短
目前測(cè)試工程師所面臨的最大挑戰(zhàn)之一,即是個(gè)人觀念局限于目前的技術(shù)中而停滯不前,因此,本文特別提供技術(shù)趨勢(shì)的相關(guān)知識(shí),針對(duì)測(cè)試與量測(cè)產(chǎn)業(yè),探討足以影響整個(gè)...
2013-06-24 標(biāo)簽:FPGA微處理器測(cè)試系統(tǒng) 1446 0
基于LabVIEW測(cè)試系統(tǒng)的便攜式汽車儀表檢測(cè)系統(tǒng)的研制
對(duì)儀表的種類和構(gòu)造進(jìn)行研究,了解和分析汽車中車速表、轉(zhuǎn)速表、水溫表、燃油表、里程表、各種LED報(bào)警燈、LCD等的結(jié)構(gòu)原理以及他們的顯示原理,分析它們工作...
2013-01-22 標(biāo)簽:CAN總線LabVIEW檢測(cè)系統(tǒng) 2727 1
基于DSP的列車應(yīng)變力測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案
本文介紹了基于TMS320VC33 DSP芯片的應(yīng)變力測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì),給出了結(jié)構(gòu)原理框圖,并圍繞DSP設(shè)計(jì)了測(cè)試系統(tǒng)的中斷、復(fù)位子系統(tǒng)、存儲(chǔ)子系統(tǒng)和通信...
2011-05-28 標(biāo)簽:DSP測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)變力 939 0
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