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標(biāo)簽 > 測試系統(tǒng)
《測試系統(tǒng)》對機電液測試及應(yīng)用技術(shù)進行了介紹。首先介紹了機電測試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計。介紹了測試數(shù)據(jù)在與微機系統(tǒng)傳輸過程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說明了多路巡回檢測數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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LabVIEW是一種程序開發(fā)環(huán)境,由美國國家儀器(NI)公司研制開發(fā)的,類似于C和BASIC開發(fā)環(huán)境,但是LabVIEW與其他計算機語言的顯著區(qū)別是:其...
2018-11-30 標(biāo)簽:labview計算機測試系統(tǒng) 7604 0
利用COM技術(shù)實現(xiàn)電子產(chǎn)品功能測試平臺的設(shè)計
本文分析當(dāng)前電子產(chǎn)品測試中普遍存在的問題,提出一套通用電子產(chǎn)品功能測試平臺,利用COM技術(shù)實現(xiàn),所謂COM(Component Object Model...
2018-11-30 標(biāo)簽:計算機虛擬儀器測試系統(tǒng) 5758 0
Verigy 93000直流參數(shù)的測試方法與比較分析
PMU 是Verigy 93000 進行DC 測試最常用的硬件資源(如圖1 所示)。當(dāng)前應(yīng)用最廣泛的Pinscale測試系統(tǒng)中的PMU 有兩種, 一種稱...
2018-11-30 標(biāo)簽:芯片soc測試系統(tǒng) 6501 0
關(guān)于第五屆國際測試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會的演講
本視頻為 NI 中國行業(yè)市場經(jīng)理 付文武 在 第五屆國際測試儀器及應(yīng)用技術(shù)大會 上的演講,題目為《基于PXI的大型現(xiàn)場測試系統(tǒng)構(gòu)建與管理》
2018-06-25 標(biāo)簽:pxi測試系統(tǒng)ni 4609 0
電磁繼電器的時間參數(shù)主要包括動作時間、釋放時間、轉(zhuǎn)換時間、觸點回跳時間、觸點穩(wěn)定時間等。靜態(tài)接觸電阻與觸點接觸可靠性存在著密切的關(guān)系,為保證觸點的接觸可...
2017-10-29 標(biāo)簽:電阻測試系統(tǒng)電磁繼電器 7388 0
基于FPGA動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器
本文設(shè)計了一種基于FPGA動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器。系統(tǒng)可以對系統(tǒng)錯誤進行自行檢測和錯誤自行定位,經(jīng)測試系統(tǒng)可以正常運行。本系統(tǒng)下一步的工...
2013-11-28 標(biāo)簽:FPGA測試系統(tǒng)MIPS處理器 1633 2
所有移動服務(wù)運營商都面臨測試大型基站天線的問題。測試這種天線需要配有特殊性能極大且昂貴的全電波暗室。對于這些運營商來說,RFX2天線特性測試系統(tǒng)解決了在...
2013-09-02 標(biāo)簽:測試系統(tǒng)RF近場天線 7023 0
EDA環(huán)境銜接測量軟件 電子產(chǎn)品開發(fā)周期大幅縮短
目前測試工程師所面臨的最大挑戰(zhàn)之一,即是個人觀念局限于目前的技術(shù)中而停滯不前,因此,本文特別提供技術(shù)趨勢的相關(guān)知識,針對測試與量測產(chǎn)業(yè),探討足以影響整個...
2013-06-24 標(biāo)簽:FPGA微處理器測試系統(tǒng) 1404 0
基于LabVIEW測試系統(tǒng)的便攜式汽車儀表檢測系統(tǒng)的研制
對儀表的種類和構(gòu)造進行研究,了解和分析汽車中車速表、轉(zhuǎn)速表、水溫表、燃油表、里程表、各種LED報警燈、LCD等的結(jié)構(gòu)原理以及他們的顯示原理,分析它們工作...
2013-01-22 標(biāo)簽:CAN總線LabVIEW檢測系統(tǒng) 2654 1
基于DSP的列車應(yīng)變力測試系統(tǒng)設(shè)計方案
本文介紹了基于TMS320VC33 DSP芯片的應(yīng)變力測試系統(tǒng)的設(shè)計,給出了結(jié)構(gòu)原理框圖,并圍繞DSP設(shè)計了測試系統(tǒng)的中斷、復(fù)位子系統(tǒng)、存儲子系統(tǒng)和通信...
2011-05-28 標(biāo)簽:DSP測試系統(tǒng)應(yīng)變力 902 0
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