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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專(zhuān)用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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1. 選擇哪一種MQTT實(shí)現(xiàn)方案 根據(jù)前面的介紹,可以知道,要想使用MQTT,必須要有一個(gè)服務(wù)端。這個(gè)服務(wù)端既可以自己部署,也可以使用公有云提供的服務(wù)。...
傳統(tǒng)意義的半導(dǎo)體測(cè)試指基于ATE機(jī)臺(tái)的產(chǎn)品測(cè)試,分為wafer level的CP測(cè)試(chip probing)或FE測(cè)試(FrontEnd test)...
如何區(qū)分opc ua和opc da協(xié)議和對(duì)應(yīng)的使用測(cè)試
本文介紹了opc ua和opc da兩種協(xié)議的區(qū)別和使用上的區(qū)別,分別介紹了兩種協(xié)議的測(cè)試軟件。
2023-11-01 標(biāo)簽:測(cè)試網(wǎng)關(guān)OPC 2547 0
測(cè)試友好的PCB電路設(shè)計(jì)要費(fèi)一些錢(qián),然而,測(cè)試?yán)щy的電路設(shè)計(jì)費(fèi)的錢(qián)會(huì)更多。測(cè)試本身是有成本的,測(cè)試成本隨著測(cè)試級(jí)數(shù)的增加而加大;從在線測(cè)試到功能測(cè)試以及...
2023-10-31 標(biāo)簽:測(cè)試電路設(shè)計(jì)PCB 411 0
完成所有修改之后,編譯整個(gè)OP-TEE工程然后運(yùn)行。在OP-TEE的啟動(dòng)日志中能看見(jiàn)示例中的系統(tǒng)服務(wù)和驅(qū)動(dòng)啟動(dòng)的日志,啟動(dòng)的日志如圖22-4所示。 系統(tǒng)...
2023-10-30 標(biāo)簽:測(cè)試數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng) 690 0
測(cè)試使用的TA和CA 將該示例的測(cè)試TA和CA添加到OP-TEE中需要修改讀者開(kāi)發(fā)環(huán)境對(duì)應(yīng)的mk文件中。以使用QEMU方式運(yùn)行OP-TEE為例,則需要修...
2023-10-30 標(biāo)簽:測(cè)試驅(qū)動(dòng)設(shè)備 1103 0
如何測(cè)試電源紋波和噪聲?納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)如何助力測(cè)試?
紋波及噪聲測(cè)試是電源模塊測(cè)試項(xiàng)目之一,也是電源模塊測(cè)試的重要環(huán)節(jié),因?yàn)榧y波噪聲對(duì)設(shè)備的性能和穩(wěn)定性有很大影響。通過(guò)電源紋波噪聲測(cè)試,檢測(cè)電源紋波情況,從...
DFT如何產(chǎn)生PLL 測(cè)試pattern
DFT PLL向量,ATE怎么用? 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)對(duì)PLL(鎖相環(huán))進(jìn)行測(cè)試時(shí),我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)中的重要性。它是SoC...
在IC的測(cè)試中,電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù),尤其是模擬芯片的測(cè)試,電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要,如:LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...
測(cè)試向量及其生成 測(cè)試向量(Test Vector)的一個(gè)基本定義是:測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。 這一...
IC測(cè)試原理 IC 測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件(DUT)特點(diǎn)和功能,給DUT提供測(cè)試激勵(lì)(X),通過(guò)測(cè)量DUT 輸出響應(yīng)(Y)與期望輸出做比較,從而判斷DUT...
通用測(cè)試系統(tǒng)硬件和軟件架構(gòu)介紹
通用測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu) 通用化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)主要由圖1所示的三個(gè)部分組成: ?主控計(jì)算機(jī)、 其中“主控計(jì)算機(jī)”中的軟件主要包括操作系統(tǒng)、編譯器、測(cè)試執(zhí)...
ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介
ATE/ATS:自動(dòng)測(cè)試設(shè)備/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),也稱(chēng)測(cè)試機(jī)是測(cè)試工程師在IC測(cè)試中必須使用的工具,本文主要從技術(shù)層面對(duì)ATE/ATS的組成及軟硬件及其接口要...
定頻測(cè)試主要是為了測(cè)試發(fā)射頻率中心點(diǎn),一般有三個(gè)頻點(diǎn)都需要測(cè)試:2.402GHz / 2.426GHz / 2.480GHz,中心頻點(diǎn)偏移會(huì)造成接收距離...
高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備互聯(lián)信息共享管理系統(tǒng)
高低溫試驗(yàn)箱是一種用于模擬高溫、低溫環(huán)境,測(cè)試材料或產(chǎn)品在不同溫度條件下的適應(yīng)性和穩(wěn)定性的設(shè)備。它通常由控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等組成...
2023-10-23 標(biāo)簽:測(cè)試設(shè)備管理系統(tǒng) 809 0
雙脈沖試驗(yàn)及注意事項(xiàng)對(duì)于電力電子工程師來(lái)說(shuō),功率元件是我們的設(shè)計(jì)對(duì)象,而IGBT由于其優(yōu)良的特性被廣泛應(yīng)用于功率元件。功率元件的效率、保護(hù)功能、EMC等...
如何用開(kāi)關(guān)電源性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源效率?
開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際工作中輸入與輸出轉(zhuǎn)換是有一定的能量損耗的,并不會(huì)完全無(wú)損耗轉(zhuǎn)換,電源效率就是用來(lái)衡量能量轉(zhuǎn)換損耗的一個(gè)重要指標(biāo)。電源效率是指輸出功率與輸入...
2023-10-12 標(biāo)簽:電源測(cè)試開(kāi)關(guān)電源 1190 0
AEM TESTPRO CV-100支持最新的GB50312-2016國(guó)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)?
AEM八類(lèi)線纜測(cè)試儀支持最新的GB測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),高達(dá)3000MHz的測(cè)試頻率,進(jìn)口的AEM線纜分析儀支持POE驗(yàn)證和網(wǎng)絡(luò)健康測(cè)試,測(cè)試結(jié)果和DSX-8000...
2023-10-10 標(biāo)簽:測(cè)試測(cè)試儀網(wǎng)絡(luò) 819 0
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