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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。
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用表面貼裝器件進(jìn)行原理性測(cè)試 很多工程師和技術(shù)人員常常選用雙列直插器件進(jìn)行電路的原理性能測(cè)試,現(xiàn)有的做法是在帶有過孔的玻璃纖維板上插入集成電路,
2009-02-08 標(biāo)簽:測(cè)試 508 0
隨著技術(shù)的進(jìn)步,電子行業(yè)自身在不斷地發(fā)明創(chuàng)新。嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師最清楚這一點(diǎn),許多人開發(fā)的應(yīng)用之多甚至可以橫跨幾代電子技術(shù)和微處理器技術(shù)。 一路看過來,隨著基
怎樣提高LCR測(cè)試速度LCR檢查是每個(gè)SMT工廠都有的一個(gè)工序,在首塊板的LCR檢查的時(shí)候,生產(chǎn)線有兩種選擇,一是等待LCR檢查完成之后再進(jìn)行后續(xù)生產(chǎn),...
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