面向高電容連接的低電流I-V表征測試方案

源測量單元（SMU）可同時(shí)輸出和測量電壓、電流，廣泛用于器件與材料的I-V特性表征，尤其擅長低電流測量。在測試系統(tǒng)中存在長電纜或高寄生電容的情況下，部分...

2025-06-04 標(biāo)簽：OLED電纜SMU 424 0

別被低頻噪聲嚇到，使用 4200A-SCS 參數(shù)分析儀測量1/f 電流噪聲

在測量設(shè)置中，噪聲來自不同的來源，其中之一是測量儀器本身。為提取被測器件 （DUT） 的噪聲特點(diǎn)，儀器噪聲必須小于 DUT 噪聲。

2021-11-05 標(biāo)簽：MOSFET測量儀器源測量單元 2860 0

【4200 SMU應(yīng)用文章】之實(shí)例篇：高測試連接電容下穩(wěn)定測試弱電流

本文探討了4201-SMU和4211-SMU可以進(jìn)行穩(wěn)定的弱電流測量的多種應(yīng)用實(shí)例，包括測試：平板顯示器上的OLED像素器件、長電纜MOSFET傳遞特點(diǎn)...

2019-12-09 標(biāo)簽：連接器弱電流源測量單元 2357 0

ADI高精度高速DAQ μModule?可實(shí)現(xiàn)更小的解決方案尺寸并縮短上市時(shí)間

Analog Devices推出一款16位、15 MSPS數(shù)據(jù)采集μModule?解決方案，用于數(shù)字化電源分析應(yīng)用中的快速瞬變信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)硬件在環(huán)（H...

2021-05-24 標(biāo)簽：adiμModule源測量單元 1746 0

吉時(shí)利推出面向源測量單元儀器的首款免費(fèi)應(yīng)用程序

先進(jìn)電氣測試儀器與系統(tǒng)的世界級(jí)領(lǐng)導(dǎo)者吉時(shí)利儀器日前宣布，開發(fā)了一款面向安卓智能手機(jī)和平板電腦（這些設(shè)備可通過其前面板USB接口與吉時(shí)利2600B系列數(shù)字...

2014-11-13 標(biāo)簽：吉時(shí)利源測量單元IVy 1490 0