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電路可靠性+關(guān)注0人關(guān)注

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  電路可靠性是系統(tǒng)或元器件在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力,從集成電路的誕生開始,可靠性的研究測試就成為IC設(shè)計、制程研究開發(fā)和產(chǎn)品生產(chǎn)中的一個重要部分,制程可靠性評估采用特殊設(shè)計的結(jié)構(gòu)對集成電路中制程相關(guān)的退化機理(WearoutMechanism)進(jìn)行測試評估。

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