如何進(jìn)行晶圓檢測(cè)

在關(guān)鍵尺寸的在線量測(cè)環(huán)節(jié)，所運(yùn)用的設(shè)備主要涵蓋 CD-SEM 以及 OCD（optical critical dimention，光學(xué)關(guān)鍵尺寸）量測(cè)設(shè)備。

2025-03-06 標(biāo)簽：集成電路晶圓硅片 1666 0

農(nóng)產(chǎn)品西紅柿分選：分選精度達(dá)到95%以上

農(nóng)產(chǎn)品行業(yè)作為國(guó)民經(jīng)濟(jì)的基礎(chǔ)，當(dāng)前市場(chǎng)規(guī)模龐大且持續(xù)增長(zhǎng)，該行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈結(jié)構(gòu)復(fù)雜而完善，涵蓋了從農(nóng)業(yè)生產(chǎn)資料供應(yīng)（如種子、化肥、農(nóng)藥等）、農(nóng)作物種植與養(yǎng)殖...

2025-01-08 標(biāo)簽：AI視覺(jué)檢測(cè)缺陷檢測(cè) 540 0

千萬(wàn)級(jí) FA 鏡頭應(yīng)用線路板缺陷檢測(cè)

FA 鏡頭即工業(yè)鏡頭，千萬(wàn)級(jí)則代表其具備千萬(wàn)像素級(jí)別的超高分辨率。在檢測(cè)線路板時(shí)，鏡頭利用光學(xué)成像原理，將線路板上的細(xì)節(jié)清晰地投射到圖像傳感器上。

2025-01-06 標(biāo)簽：電子設(shè)備線路板視覺(jué)檢測(cè) 342 0

基于深度學(xué)習(xí)的缺陷檢測(cè)方案

圖像預(yù)處理通常包括直方圖均衡化、濾波去噪、灰度二值化、再次濾波幾部分，以得到前后景分離的簡(jiǎn)單化圖像信息；隨后利用數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)、傅里葉變換、Gabor 變換...

2024-04-23 標(biāo)簽：算法缺陷檢測(cè)深度學(xué)習(xí) 1288 0

這款小巧神器，一次解決兩種缺陷檢測(cè)需求

視覺(jué)檢測(cè)方案通常由以下幾個(gè)核心組件構(gòu)成：相機(jī)、光源、光源控制器、視覺(jué)控制器以及顯示屏。這些組件共同協(xié)作，確保視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確、高效地捕獲并處理圖像信...

2024-03-19 標(biāo)簽：傳感器缺陷檢測(cè) 513 0

如何應(yīng)對(duì)工業(yè)缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)短缺問(wèn)題？

這篇論文介紹了一種文本引導(dǎo)的變分圖像生成方法，旨在解決工業(yè)制造中的異常檢測(cè)和分割問(wèn)題。傳統(tǒng)方法通過(guò)訓(xùn)練非缺陷數(shù)據(jù)的分布來(lái)進(jìn)行異常檢測(cè)，但這需要大量且多樣...

2024-03-14 標(biāo)簽：缺陷檢測(cè)工業(yè)制造 734 0

基于深度學(xué)習(xí)的芯片缺陷檢測(cè)梳理分析

雖然表面缺陷檢測(cè)技術(shù)已經(jīng)不斷從學(xué)術(shù)研究走向成熟的工業(yè)應(yīng)用，但是依然有一些需要解決的問(wèn)題?；谝陨戏治隹梢园l(fā)現(xiàn)，由于芯片表面缺陷的獨(dú)特性質(zhì)，通用目標(biāo)檢測(cè)算...

2024-02-25 標(biāo)簽：機(jī)器視覺(jué)芯片制造芯片缺陷 2041 0

基于深度學(xué)習(xí)的方法在處理3D點(diǎn)云進(jìn)行缺陷分類應(yīng)用

背景部分介紹了3D點(diǎn)云應(yīng)用領(lǐng)域中公開(kāi)可訪問(wèn)的數(shù)據(jù)集的重要性，這些數(shù)據(jù)集對(duì)于分析和比較各種模型至關(guān)重要。研究人員專門(mén)設(shè)計(jì)了各種數(shù)據(jù)集，包括用于3D形狀分類...

2024-02-22 標(biāo)簽：機(jī)器人缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)集 1639 0

機(jī)器視覺(jué)之玻璃產(chǎn)品缺陷檢測(cè)

基于機(jī)器視覺(jué)技術(shù)的玻璃質(zhì)量檢測(cè)流程：產(chǎn)品經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)，LED紅光垂直（或其他角度）入射待檢測(cè)玻璃后，若玻璃中存在缺陷，CCD相機(jī)的靶面檢測(cè)到不均勻的出射...

2023-12-22 標(biāo)簽：機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)圖像傳輸 1367 0

大模型在代碼缺陷檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用實(shí)踐

靜態(tài)代碼掃描(SA)能快速識(shí)別代碼缺陷，如空指針訪問(wèn)、數(shù)組越界等，以較高ROI保障質(zhì)量及提升交付效率。當(dāng)前掃描能力主要依賴人工經(jīng)驗(yàn)生成規(guī)則，泛化能力弱且...

2023-11-08 標(biāo)簽：計(jì)算機(jī)代碼缺陷檢測(cè) 850 0

深度學(xué)習(xí)在工業(yè)缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用

工業(yè)制造領(lǐng)域中，產(chǎn)品質(zhì)量的保證是至關(guān)重要的任務(wù)之一。然而，人工的檢測(cè)方法不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，而且容易受到主觀因素的影響，從而降低了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和一致性。近年來(lái)...

2023-10-24 標(biāo)簽：缺陷檢測(cè)工業(yè)制造深度學(xué)習(xí) 2061 0

瑞薩電子深度學(xué)習(xí)算法在缺陷檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用

缺陷檢測(cè)在電子制造業(yè)中是非常重要的應(yīng)用。然而，由于存在的缺陷多種多樣，傳統(tǒng)的機(jī)器視覺(jué)算法很難對(duì)缺陷特征進(jìn)行完全建模和遷移缺陷特征，致使傳統(tǒng)機(jī)器視覺(jué)算法可...

2023-09-22 標(biāo)簽：算法瑞薩電子缺陷檢測(cè) 1101 0

基于Anomalib和AI x Board的SIMOTECH在線缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

Anomalib 是一個(gè)深度學(xué)習(xí)庫(kù)，旨在收集最先進(jìn)的異常檢測(cè)算法，以便在公共和私有數(shù)據(jù)集上進(jìn)行基準(zhǔn)測(cè)試。Anomalib 提供了近期文獻(xiàn)中描述的異常檢測(cè)...

2023-09-01 標(biāo)簽：AI缺陷檢測(cè)深度學(xué)習(xí) 1050 0

布料/紡織品缺陷的視覺(jué)檢測(cè)方案

布料/紡織品一直是與人類生活最息息相關(guān)的產(chǎn)品之一。我們?nèi)粘４┲囊挛锎蠖鄶?shù)都是以布料作為原料直接或間接生產(chǎn)得到的。此外還有日用的毛巾、被單以及醫(yī)院所使用...

2023-08-22 標(biāo)簽：機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)移動(dòng)邊緣計(jì)算 2196 0

3D線光譜共焦傳感器應(yīng)用

海伯森HPS-LCF系列是一款基于光譜共焦法原理的高端智能非接觸式的光學(xué)精密檢測(cè)傳感器，可通過(guò)高速線掃獲取物體表面點(diǎn)云數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物的3D成像分...

2022-02-26 標(biāo)簽：視覺(jué)檢測(cè)缺陷檢測(cè)光譜傳感器 1201 0

機(jī)器視覺(jué)表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案

線陣相機(jī)是機(jī)器視覺(jué)領(lǐng)域中一種特殊的圖像采集設(shè)備。由于它的傳感器只有一行感光元件，因此可以實(shí)現(xiàn)高掃描頻率和高分辨率。面陣相機(jī)在采集運(yùn)動(dòng)物體照片時(shí)會(huì)產(chǎn)生模糊...

2023-08-21 標(biāo)簽：機(jī)器視覺(jué)缺陷檢測(cè)深度學(xué)習(xí) 1943 0

基于YOLOv8的PCB板缺陷檢測(cè)

基于DeepPCB這個(gè)公開(kāi)數(shù)據(jù)集，總計(jì)有1500份的模板-缺陷圖像數(shù)據(jù)對(duì)，總計(jì)圖像3000張，對(duì)應(yīng)text格式的1500個(gè)標(biāo)注文本描述文件。包含PCB主...

2023-08-18 標(biāo)簽：pcb模型缺陷檢測(cè) 1384 0