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      標(biāo)簽　>　芯片測試

      芯片測試

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      隨著5G通信、人工智能和自動駕駛技術(shù)的爆發(fā)式發(fā)展，芯片瞬時(shí)功耗從傳統(tǒng)制程的10W激增至300W以上(如數(shù)據(jù)中心GPU)，導(dǎo)致局部溫度在毫秒級時(shí)間內(nèi)波動超...

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