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標(biāo)簽 > 芯片測(cè)試
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ATECLOUD芯片測(cè)試設(shè)備測(cè)試電源芯片持續(xù)電流的方法
連續(xù)電流(持續(xù)電流)是指元器件在工作狀態(tài)下內(nèi)部電流持續(xù)流動(dòng)的狀態(tài),一般都是用于對(duì)元器件允許連續(xù)通過電流限制的一種描述。比如電源芯片允許的持續(xù)電流,就表示...
8月20-22日,第七屆全國(guó)大學(xué)生集成電路創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大賽全國(guó)總決賽在重慶舉辦,“加速科技杯”中有26支優(yōu)秀隊(duì)伍從四百多支報(bào)名隊(duì)伍中脫穎而出,獲得總決賽各項(xiàng)...
電路基礎(chǔ)知識(shí)。芯片測(cè)試涉及到電子電路的測(cè)量和分析,因此需要具備扎實(shí)的電路基礎(chǔ)知識(shí),包括電子元器件、電路分析方法等。
聯(lián)訊儀器裸Die半導(dǎo)體激光器芯片測(cè)試機(jī)
芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一,半導(dǎo)體激光器屬于化合物半導(dǎo)體,其主要材質(zhì)以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主,在其制備的各個(gè)工藝環(huán)節(jié),良品率不高是一個(gè)普遍...
新品首秀 熱度爆表!加速科技精彩亮相SEMICON China 2023
6月29日,半導(dǎo)體行業(yè)盛會(huì)SEMICON China 2023在上海新國(guó)際博覽中心盛大啟幕,展會(huì)吸引了國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體領(lǐng)域的頂級(jí)技術(shù)提供商參展。加速科技作為...
在芯片測(cè)試中,分類和選擇是關(guān)鍵的步驟,以確保芯片的質(zhì)量和可靠性。根據(jù)不同的測(cè)試目標(biāo)和要求,可以采用不同的分類方法和選擇策略。
在芯片開發(fā)中,操作系統(tǒng)(OS)是一個(gè)核心組件,它負(fù)責(zé)管理硬件資源,提供API和服務(wù),使應(yīng)用程序能夠運(yùn)行。為確保操作系統(tǒng)的質(zhì)量和性能,需要進(jìn)行一系列測(cè)試和驗(yàn)證。
2023-06-27 標(biāo)簽:芯片操作系統(tǒng)芯片測(cè)試
SEMICON China 2023于6月29日-7月1日在上海新國(guó)際博覽中心隆重舉行。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商,加速科技一直致力于打造國(guó)產(chǎn)化...
ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)助力企業(yè)創(chuàng)新發(fā)展數(shù)字化轉(zhuǎn)型
在數(shù)字化時(shí)代,企業(yè)的數(shù)字化轉(zhuǎn)型已成為推動(dòng)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的重要?jiǎng)恿?。為了幫助企業(yè)更好地進(jìn)行數(shù)字化轉(zhuǎn)型,財(cái)政部和工業(yè)和信息化部聯(lián)合發(fā)布了一份報(bào)告,建議打造一批數(shù)字...
2023-06-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試測(cè)試平臺(tái)數(shù)字化 936 0
冠軍誕生!2021“創(chuàng)芯中國(guó)”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測(cè)試賽項(xiàng)(華南賽區(qū))圓滿收官
9月26日,由杭州加速科技有限公司聯(lián)合主辦的2021“創(chuàng)芯中國(guó)”集成電路創(chuàng)新挑戰(zhàn)賽芯片測(cè)試賽項(xiàng)(華南賽區(qū))圓滿收官。14支參賽隊(duì)伍同臺(tái)競(jìng)技,大顯身手,經(jīng)...
芯片測(cè)試座是一種電子元器件,它是用來測(cè)試集成電路芯片的設(shè)備,它可以用來測(cè)試和檢查電路芯片的性能,以確保其達(dá)到規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)。
集成電路芯片的測(cè)試(ICtest)分類包括:分為晶圓測(cè)試(wafertest)、芯片測(cè)試(chiptest)和封裝測(cè)試(packagetest)。
對(duì)于大多數(shù)產(chǎn)品來說,在上市初期都是更看重它的性能,但如果想要長(zhǎng)期發(fā)展,那么品質(zhì)必須決定產(chǎn)品的長(zhǎng)期價(jià)值。其實(shí)這個(gè)道理很簡(jiǎn)單,但是在我國(guó)芯片產(chǎn)業(yè)的發(fā)展中卻沒...
芯片測(cè)試治具是一種用于芯片測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備,可以實(shí)現(xiàn)芯片的功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試和性能測(cè)試,它可以幫助電子工程師驗(yàn)證芯片的性能和可靠性,實(shí)現(xiàn)芯片的精確測(cè)試和優(yōu)化。
芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié),分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同,一般為人力成本20%,流片40%,...
來自是德科技通信與芯片測(cè)試行業(yè)峰會(huì)的專家觀點(diǎn)
是德科技在北京舉辦【是德科技通信與芯片測(cè)試行業(yè)峰會(huì)】探討5G、B5G、6G新技術(shù)的發(fā)展與相關(guān)熱門領(lǐng)域的測(cè)試方案,并在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行高速誤碼儀與示波器等產(chǎn)品的演...
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