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標(biāo)簽 > 試驗(yàn)箱
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防水淋雨試驗(yàn)箱怎么選?精準(zhǔn)適配秘訣大公開?
防水淋雨試驗(yàn)箱是檢驗(yàn)產(chǎn)品防水性能的核心設(shè)備,但面對(duì)復(fù)雜參數(shù)與多樣場(chǎng)景需求,如何避免選錯(cuò)設(shè)備或資源浪費(fèi)?以下是系統(tǒng)化的選型指南,幫助您快速鎖定合適設(shè)備
TOPCon 電池紫外(UV)降解退化分析與Al?O?、SiN?鈍化層參數(shù)優(yōu)化
紫外(UV)輻照是評(píng)估光伏電池長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵測(cè)試之一。采用美能復(fù)合紫外老化試驗(yàn)箱可精準(zhǔn)模擬組件戶外服役環(huán)境。隨著隧穿氧化層鈍化接觸(TOPCon)電池...
步入式高低溫試驗(yàn)箱:現(xiàn)代工業(yè)的"環(huán)境模擬大師"
在科技飛速發(fā)展的今天,許多產(chǎn)品需要在不同的溫度環(huán)境下保持穩(wěn)定性能,步入式高低溫試驗(yàn)箱便應(yīng)運(yùn)而生。它如同一個(gè)“環(huán)境魔法盒”,能精準(zhǔn)模擬極端溫度條件,為各類...
快速溫變?cè)囼?yàn)箱和冷熱沖擊試驗(yàn)箱區(qū)別:如何按需選擇?
在現(xiàn)代工業(yè)與科研中,產(chǎn)品可靠性測(cè)試至關(guān)重要??焖贉刈?cè)囼?yàn)箱和冷熱沖擊試驗(yàn)是兩種核心環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,均模擬極端溫度對(duì)產(chǎn)品的影響,這兩者之間究竟有何區(qū)別呢?讓...
恒溫恒濕試驗(yàn)箱操作指引:怎樣保障測(cè)試數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)性與可重復(fù)性?
大家是否想過,電子產(chǎn)品、汽車零部件等如何在復(fù)雜氣候下保持穩(wěn)定性能?這背后離不開恒溫恒濕試驗(yàn)箱這一“幕后英雄”。它如同“環(huán)境魔法師”,能營(yíng)造不同溫濕度環(huán)境...
2025-06-12 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱測(cè)試數(shù)據(jù)零部件 72 0
紫外老化試驗(yàn)箱:材料耐候性的 “質(zhì)檢員”
在材料研發(fā)和產(chǎn)品質(zhì)量控制領(lǐng)域,紫外老化試驗(yàn)箱扮演著至關(guān)重要的角色。它能模擬自然環(huán)境中的紫外輻射、溫度、濕度等條件,加速材料老化過程,幫助科研人員和生產(chǎn)者...
溫濕度試驗(yàn)箱在大載重?zé)o人機(jī)產(chǎn)品測(cè)試中的應(yīng)用
隨著無人機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展,大載重?zé)o人機(jī)在物流運(yùn)輸、應(yīng)急救援、農(nóng)業(yè)植保、電力巡檢等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛。作為高價(jià)值、復(fù)雜系統(tǒng)集成的飛行器,其對(duì)環(huán)境適應(yīng)性的要...
快速熱循環(huán)試驗(yàn)箱在芯片老化試驗(yàn)中的應(yīng)用
在半導(dǎo)體制造與封裝測(cè)試領(lǐng)域中,芯片的熱穩(wěn)定性、熱應(yīng)力適應(yīng)性與長(zhǎng)期可靠性是評(píng)價(jià)其性能優(yōu)劣的關(guān)鍵指標(biāo)。特別是在汽車電子、高性能計(jì)算、5G通信等對(duì)芯片質(zhì)量要求...
2025-06-04 標(biāo)簽:芯片測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 121 0
溫度沖擊試驗(yàn)箱:鋰硫電芯極端環(huán)境可靠性測(cè)試的關(guān)鍵裝備
為驗(yàn)證電芯在極端溫變條件下的性能與結(jié)構(gòu)可靠性,溫度沖擊試驗(yàn)箱應(yīng)運(yùn)而生,是模擬極端冷熱快速交替環(huán)境的核心測(cè)試設(shè)備。溫度沖擊試驗(yàn)箱是一種能在極短時(shí)間內(nèi)完成高...
2025-06-03 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備高低溫沖擊試驗(yàn)箱 112 0
恒溫恒濕試驗(yàn)箱,又被稱為恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、可程式濕熱交變?cè)囼?yàn)箱等,在眾多領(lǐng)域中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。它主要用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下的性能,能夠精準(zhǔn)試驗(yàn)各種材料的...
2025-05-21 標(biāo)簽:儀器試驗(yàn)箱模擬環(huán)境 177 0
揭秘紫外氣候老化試驗(yàn)箱:材料耐候性測(cè)試的幕后英雄
在材料科學(xué)與工程領(lǐng)域,紫外氣候老化試驗(yàn)箱是不可或缺的“幕后英雄”。它通過模擬自然環(huán)境中紫外線照射、溫濕度變化等條件,加速材料老化過程,幫助科研人員和企業(yè)...
在眾多科研與工業(yè)生產(chǎn)場(chǎng)景中,恒溫恒濕試驗(yàn)箱是不可或缺的重要設(shè)備。它能夠精準(zhǔn)模擬各種復(fù)雜的環(huán)境條件,為材料及產(chǎn)品的性能檢測(cè)提供可靠依據(jù)。?上海和晟HS-2...
2025-04-14 標(biāo)簽:儀器試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱 203 0
手動(dòng)整理GB 44240電能存儲(chǔ)系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組安全測(cè)試設(shè)備
?GB 44240-2024是國(guó)內(nèi)針對(duì)電能存儲(chǔ)系統(tǒng)用鋰蓄電池和電池組的強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),旨在規(guī)范電能存儲(chǔ)系統(tǒng)中鋰電池的安全要求。?該標(biāo)準(zhǔn)由工業(yè)和信息化部組...
2025-03-28 標(biāo)簽:測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)箱儲(chǔ)能電池 678 0
久濱儀器--鹽霧試驗(yàn)箱的技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及應(yīng)用場(chǎng)景
在現(xiàn)代工業(yè)制造中,產(chǎn)品的耐久性和可靠性至關(guān)重要。無論是汽車零部件、電子設(shè)備還是建筑材料,都需要在各種惡劣環(huán)境下保持性能穩(wěn)定。而鹽霧試驗(yàn)箱,正是模擬極端腐...
臭氧老化試驗(yàn)箱:材料老化測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備
在材料科學(xué)領(lǐng)域,臭氧老化試驗(yàn)箱是一種至關(guān)重要的設(shè)備,用于評(píng)估材料在臭氧環(huán)境下的老化性能。臭氧作為一種強(qiáng)氧化劑,能與許多材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),加速其老化過程,...
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試中常見的測(cè)試方法有哪些?
半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試方法多樣,需根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景(如消費(fèi)級(jí)、工業(yè)級(jí)、車規(guī)級(jí))和器件類型(如IC、分立器件、MEMS)選擇合適的測(cè)試組合。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(如JEDE...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試 775 0
從零到一:集成電路封裝測(cè)試實(shí)驗(yàn)室建設(shè)的關(guān)鍵要素
集成電路封裝測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)是一項(xiàng)涉及多學(xué)科、多環(huán)節(jié)的系統(tǒng)工程。從研發(fā)型實(shí)驗(yàn)室的精準(zhǔn)溫控需求到量產(chǎn)型實(shí)驗(yàn)室的高效動(dòng)線設(shè)計(jì),從設(shè)備選型到合規(guī)認(rèn)證,每個(gè)環(huán)節(jié)...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱產(chǎn)品測(cè)試模擬實(shí)驗(yàn)室 490 0
低氣壓試驗(yàn)箱:揭秘集成電路在高原與航空環(huán)境下的失效機(jī)制
廣東貝爾低氣壓試驗(yàn)箱憑借多物理場(chǎng)耦合控制、防爆安全設(shè)計(jì) 等核心技術(shù),已助力多家企業(yè)攻克高海拔與太空環(huán)境下的芯片失效難題,累計(jì)完成超10萬小時(shí)嚴(yán)苛測(cè)試。無...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備低氣壓試驗(yàn)箱 391 0
快速溫變?cè)囼?yàn)箱:應(yīng)對(duì)5G芯片高頻熱沖擊測(cè)試的解決方案
隨著5G通信、人工智能和自動(dòng)駕駛技術(shù)的爆發(fā)式發(fā)展,芯片瞬時(shí)功耗從傳統(tǒng)制程的10W激增至300W以上(如數(shù)據(jù)中心GPU),導(dǎo)致局部溫度在毫秒級(jí)時(shí)間內(nèi)波動(dòng)超...
2025-03-08 標(biāo)簽:芯片測(cè)試試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備 483 0
老化試驗(yàn)箱:加速集成電路壽命評(píng)估的關(guān)鍵設(shè)備與技術(shù)全覽
在集成電路研發(fā)中,傳統(tǒng)自然老化測(cè)試需耗時(shí)數(shù)年,無法匹配產(chǎn)品快速迭代需求。老化試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕、紫外輻照等極端環(huán)境,將數(shù)年老化過程壓縮至數(shù)百小時(shí),...
2025-03-08 標(biāo)簽:試驗(yàn)箱老化測(cè)試試驗(yàn)設(shè)備 667 0
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