標(biāo)簽 > 邊界掃描
邊界掃描是一項(xiàng)測(cè)試技術(shù)，是在傳統(tǒng)的在線測(cè)試不在適應(yīng)大規(guī)模，高集成電路測(cè)試的情況下而提出的，就是在IC設(shè)計(jì)的過程中在IC的內(nèi)部邏輯和每個(gè)器件引腳間放置移位寄存器。
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