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標(biāo)簽 > 透射電鏡
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傳統(tǒng)的透射電鏡(TEM)技術(shù)往往只能提供材料在靜態(tài)條件下的結(jié)構(gòu)信息,無(wú)法滿足科研人員對(duì)材料在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中動(dòng)態(tài)行為的研究需求。為了克服這一局限性,原位T...
透射電鏡的工作原理透射電鏡是基于電子束與超薄樣品相互作用。它利用電子加速槍產(chǎn)生高能電子束,經(jīng)過(guò)電磁透鏡聚焦和準(zhǔn)直后照射到超薄樣品上。樣品中不同區(qū)域的原子...
在人工智能(AI)技術(shù)日新月異的時(shí)代,其強(qiáng)大的發(fā)展勢(shì)能對(duì)PCB板(印制電路板)的質(zhì)量提出了更高的要求。作為AI服務(wù)器硬件架構(gòu)的關(guān)鍵組成部分,PCB板的性...
季豐電子材料分析實(shí)驗(yàn)室配備賽默飛Talos F200E,EDS定量方法采用標(biāo)準(zhǔn)的Cliff-Lorimer測(cè)試方法,并帶有X射線吸收校正功能,通過(guò)對(duì)樣品...
透射電子顯微鏡(TEM)是一種利用電子束穿透超薄樣品以獲取高分辨率圖像的技術(shù),它在材料科學(xué)、生物學(xué)和物理學(xué)等多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)扮演著至關(guān)重要的角色。TEM能...
透射電子顯微鏡(TEM)具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力,可用于先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計(jì)量和材料表征,比如評(píng)估界面細(xì)節(jié)、器件結(jié)...
如何分析長(zhǎng)周期有序堆垛結(jié)構(gòu)(LPSO)
18R-LPSO 相主要存在于鑄態(tài)鎂稀土合金中,普遍認(rèn)可其化學(xué)式為 Mg10YZn 或Mg29Y4Zn3 相,原子堆垛順序?yàn)?ACACBABABACBC...
最近收到老師同學(xué)們的許多問(wèn)題,其中大家最想要了解的問(wèn)題是“如何在透射電鏡下判斷位錯(cuò)類型(螺位錯(cuò)、刃位錯(cuò)、混合位錯(cuò))”。在此,為了能快速理解并分析,我整理...
鈉離子電池如何實(shí)現(xiàn)80000次超長(zhǎng)循環(huán)?
鈉離子電池(NIB)資源豐富、成本低廉,可以作為鋰離子電池的有益補(bǔ)充。然而,Na+(1.02 ?)的半徑比 Li+(0.76 ?)大,容易導(dǎo)致電極材料在...
機(jī)器視覺(jué)成像:明場(chǎng)像與暗場(chǎng)像都有什么區(qū)別呢
透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣,這兩種像分別為不同電子成像,前者是透射電子成像,后者為散射電子成像。
2023-10-31 標(biāo)簽:光源照相機(jī)機(jī)器視覺(jué) 4798 0
位錯(cuò)是晶體原子排列的一種特殊組態(tài)。位錯(cuò)的概念最早是在研究晶體滑移過(guò)程時(shí)提出來(lái)的。當(dāng)金屬晶體受力發(fā)生塑性變形時(shí),一般是通過(guò)滑移過(guò)程進(jìn)行的,即晶體中相鄰兩部...
季豐電子HITACHI HF5000功能豐富,借助超高的分辨率和獨(dú)特的探頭設(shè)計(jì),可滿足客戶大多數(shù)極限應(yīng)用需求,比如高分辨單原子像、輕元素成像、表面納米級(jí)...
2023-04-11 標(biāo)簽:自動(dòng)測(cè)量透射電鏡季豐電子 3226 0
簡(jiǎn)述球差校正透射電鏡的原理、優(yōu)勢(shì)、應(yīng)用與發(fā)展
透射電子顯微鏡(簡(jiǎn)稱透射電鏡)以被高壓加速后的高能電子束為入射光源,利用電子束與物質(zhì)的相互作用,對(duì)物質(zhì)的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析的一種儀器。
環(huán)境透射電鏡揭示鋰氧電池的反應(yīng)機(jī)理
隨著鋰離子電池能量密度的提高,傳統(tǒng)的“含鋰氧化物/石墨”電池結(jié)構(gòu)已經(jīng)難以滿足高比能量鋰離子電池的需求。
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