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搜索引擎營(yíng)銷(xiāo):英文Search Engine Marketing ,我們通常簡(jiǎn)稱(chēng)為“SEM”。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),搜索引擎營(yíng)銷(xiāo)就是基于搜索引擎平臺(tái)的網(wǎng)絡(luò)營(yíng)銷(xiāo),利用人們對(duì)搜索引擎的依賴(lài)和使用習(xí)慣,在人們檢索信息的時(shí)候?qū)⑿畔鬟f給目標(biāo)用戶(hù)。
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FIB-SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)
BlackPad簡(jiǎn)介目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大,ENIG金屬Ni層以NiP成分為主,在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕(后面稱(chēng)blackpad)。退金后...
掃描電鏡的日常操作流程一般包括以下步驟:開(kāi)機(jī)前準(zhǔn)備1.檢查掃描電鏡及相關(guān)設(shè)備(如真空泵、冷卻系統(tǒng)等)的電源線是否連接正常,各儀器設(shè)備的開(kāi)關(guān)是否處于關(guān)閉狀...
SEM方法分析BlackPad的優(yōu)缺點(diǎn)
目前以ENIG為表面處理方式所占比例較大,ENIG金屬Ni層以NiP成份為主,在生產(chǎn)中易發(fā)生鎳腐蝕(后面稱(chēng)blackpad)。
2023-11-10 標(biāo)簽:SEM 584 0
FIB系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及其實(shí)際應(yīng)用
雙束技術(shù):FIB與SEM的協(xié)同工作雙束聚焦離子束顯微鏡的關(guān)鍵在于其雙束技術(shù),離子束(FIB)用于樣品的精確切割和蝕刻,而電子束(SEM)則捕捉樣品的高分...
氬離子拋光技術(shù)是一種精密的表面處理工藝,它通過(guò)氬離子束的物理作用,對(duì)樣品表面進(jìn)行細(xì)致的平滑和拋光。這種技術(shù)在提升樣品表面質(zhì)量方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,特別是在...
掃描電子顯微鏡(SEM)有多種分類(lèi)方式,具體如下:1、按電子槍種類(lèi)分類(lèi)(1)鎢絲槍掃描電鏡:使用熱鎢極電子槍?zhuān)帢O為能加熱的鎢絲。優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本較...
氬離子拋光技術(shù)概述氬離子拋光技術(shù)是一種精密的材料表面處理方法,它通過(guò)精細(xì)調(diào)控氬離子束的深度和強(qiáng)度,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的拋光,以消除表面損傷并展示材料的微觀結(jié)...
鋰離子電池材料的構(gòu)成鋰離子電池作為現(xiàn)代能源存儲(chǔ)領(lǐng)域的重要組成部分,其性能的提升依賴(lài)于對(duì)電池材料的深入研究。鋰離子電池通常由正極、負(fù)極、電解質(zhì)、隔膜和封裝...
電子背散射衍射(EBSD)技術(shù),作為掃描電子顯微鏡(SEM)的高端拓展工具,它能夠深入剖析材料的微觀組織,實(shí)現(xiàn)組織結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析、直觀成像和量化評(píng)估,為...
獲得良好的衍射圖譜的前提是制備出優(yōu)質(zhì)的EBSD樣品
電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)在材料科學(xué)領(lǐng)域,電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)自20世紀(jì)90年代末期以來(lái),已經(jīng)成為一種創(chuàng)新且不可或缺的分析工具。EBSD技...
功能材料分析的關(guān)鍵工具場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)是現(xiàn)代科學(xué)研究中不可或缺的工具,尤其在功能材料分析、微納結(jié)構(gòu)觀測(cè)以及結(jié)構(gòu)組分分析等領(lǐng)域。高分辨場(chǎng)發(fā)射...
聚焦離子束與掃描電鏡結(jié)合:雙束FIB-SEM切片應(yīng)用
聚焦離子束技術(shù)聚焦離子束(FocusedIonBeam,簡(jiǎn)稱(chēng)FIB)技術(shù)作為一種前沿的納米級(jí)加工與分析手段,近年來(lái)在眾多領(lǐng)域嶄露頭角。它巧妙地融合了離子...
在當(dāng)今時(shí)代,納米科學(xué)因其在眾多行業(yè)中引發(fā)的變革性應(yīng)用,已然成為促進(jìn)人類(lèi)文明向前發(fā)展的重要驅(qū)動(dòng)力。無(wú)論是在生物醫(yī)學(xué)、能源存儲(chǔ)還是航空宇宙領(lǐng)域,納米技術(shù)都展...
FIB常見(jiàn)應(yīng)用明細(xì)及原理分析
統(tǒng)及原理雙束聚焦離子束系統(tǒng)可簡(jiǎn)單地理解為是單束聚焦離子束和普通SEM之間的耦合。單束聚焦離子束系統(tǒng)包括離子源,離子光學(xué)柱,束描畫(huà)系統(tǒng),信號(hào)采集系統(tǒng),樣品...
FIB-SEM 雙束技術(shù)簡(jiǎn)介及其部分應(yīng)用介紹
摘要結(jié)合聚焦離子束(FIB)技術(shù)和掃描電子顯微鏡(SEM)的FIB-SEM雙束系統(tǒng),通過(guò)整合氣體注入系統(tǒng)、納米操控器、多種探測(cè)器以及可控樣品臺(tái)等附件,已...
CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡在金屬材料分析中的應(yīng)用
隨著科技的飛速發(fā)展,材料科學(xué)不斷突破傳統(tǒng)邊界,尤其是金屬材料的研究領(lǐng)域,已成為新興技術(shù)創(chuàng)新的關(guān)鍵。而高性能掃描電鏡(SEM)作為金屬材料分析的重要工具,...
制備用于掃描電子顯微鏡(SEM)分析的氬離子拋光和化學(xué)拋光(CP)截面樣品
氬離子束拋光技術(shù)(ArgonIonBeamPolishing,AIBP),一種先進(jìn)的材料表面處理工藝,它通過(guò)精確控制的氬離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行加工,以實(shí)現(xiàn)...
聚焦離子束雙束系統(tǒng) FIB - SEM 的技術(shù)剖析與應(yīng)用拓展
技術(shù)原理與核心優(yōu)勢(shì)聚焦離子束雙束系統(tǒng)(FIB-SEM)是一種集成多種先進(jìn)技術(shù)的高端設(shè)備,其核心構(gòu)成包括聚焦離子束(FIB)模塊、掃描電子顯微鏡(SEM)...
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)的應(yīng)用領(lǐng)域
聚焦離子束顯微鏡(FIB-SEM)作為一種前沿的微觀分析與加工工具,將聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù)深度融合,兼具高分辨率成像和精密...
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