如何操作{射頻探針臺}TS3000-SE
一、準備本次測試的DUT和相應(yīng)的探針與電纜，將相應(yīng)的探針擺放完畢，佩戴相應(yīng)的手套、防靜電手環(huán)等。
二、確認打開壓縮空氣、真空、電源等廠務(wù)后，按下白色電源鍵開機。待主機啟動完畢后預(yù)熱1-2分鐘，按下藍色的reset按鈕。
三、打開軟件進入操作界面。
四、初始化：選擇一種模式做初始化。
五、打開探針臺屏蔽室的艙門，放wafer：把wafer放在chuck上，然后點擊真空開關(guān)或點“start”按鈕自動選擇吸附wafer的尺寸。
六、設(shè)置扎針高度（contact值）: 操縱面板上長按ENABLE Z-AXIS 然后按Z-up把chuck升到一定高度(做這個動作之前建議把探針調(diào)到最高防止撞針)。然后調(diào)節(jié)camera的Z軸和適應(yīng)自己的顯微鏡倍率把圖像調(diào)節(jié)清晰（如果是電動顯微鏡支架，請在機臺面板上選擇顯微鏡后再調(diào)節(jié)Z軸高低）。
lw
聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。
舉報投訴
-
射頻
+關(guān)注
關(guān)注
106文章
5745瀏覽量
170032 -
初始化
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
50瀏覽量
12082 -
DUT
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
190瀏覽量
12898
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
熱點推薦
季豐電子推出低高溫手動探針臺設(shè)備
為滿足客戶對低溫測試的要求，季豐電子成功自研了低高溫手動探針臺，目前已在季豐張江FA投入使用，該機臺填補了傳統(tǒng)常規(guī)型手動探針臺無法實現(xiàn)低溫測試環(huán)境的空白。
奕葉探針臺助力制備2D材料堆疊異質(zhì)結(jié)
hBN-Graphene-hBN是一種由六方氮化硼和石墨烯交替堆疊形成的范德華異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)制備方法分為機械剝離法和化學(xué)氣相沉淀法。其中化學(xué)氣相沉淀法就需要高溫和特定的環(huán)境。奕葉探針臺高溫系統(tǒng)
高溫電阻測試儀的四探針法中，探針的間距對測量結(jié)果是否有影響
在高溫電阻測試儀的四探針法中，探針的間距對測量結(jié)果確實存在影響，但這一影響可以通過特定的測試方法和儀器設(shè)計來最小化或消除。 探針間距對測量結(jié)果的影響 在經(jīng)典直排四探針法中，要求使用等間
EE-200：ADSP-TS20x TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《EE-200：ADSP-TS20x TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作.pdf》資料免費下載
發(fā)表于 01-15 16:16
?0次下載
EE-174：ADSP-TS101S TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《EE-174：ADSP-TS101S TigerSHARC處理器引導(dǎo)加載程序內(nèi)核操作.pdf》資料免費下載
發(fā)表于 01-15 15:35
?0次下載
微波測量探針
類型、觸點尺寸可選，可通用適配多種探針臺、探針臂，適用于微波集成電路在片測試、管結(jié)參數(shù)提取、MEMS產(chǎn)品測試及片上天線測試等領(lǐng)域。 編輯 ? 技術(shù)指標 微波測量探針 編輯 ? 編輯 審
輻射發(fā)射測試新境界：深入解析TS-RadiMation套件多種操作方法（一）
TS-RadiMation?套件作為輻射發(fā)射測試的得力助手，支持多種測試方法。 多頻段 手動模式 電波暗室 固定高度測試 GTEM小室測試 手動模式（單頻段） 本文將詳細介紹如何操作手動模式及手動
SMU數(shù)字源表連接探針臺示意圖及注意事項
數(shù)字源表SMU與探針臺組合用于半導(dǎo)體測試，連接需考慮線纜類型和探針選擇。測試時需注意探針臺接地、連接線接地、關(guān)閉光源，小電流測試加屏蔽罩，異
探針頭型怎么選擇尺寸
探針頭型的選擇尺寸是一個復(fù)雜的過程，需要考慮多個因素，包括被測點的形狀、大小、間距、測試環(huán)境以及測試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟： 一、基本原則 測量精度 ：首先，需要明確測試
開爾文探針測試原理是什么
開爾文探針測試（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）是一種非接觸式表面電勢測量技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)通過測量探針
《圖說本源產(chǎn)品》系列之三：量子芯片“火眼金睛” · 無損探針臺
臺”全稱為“無損探針電學(xué)測量平臺”，是本源量子自主研發(fā)的一款用于超導(dǎo)量子芯片常溫電參數(shù)精密測量的半自動化工業(yè)母機產(chǎn)品，可以在不影響量子比特性能的情況下，實現(xiàn)量子比
分享：晶圓探針測試中探針臺的自動化控制
NSAT-1000射頻測試系統(tǒng)在ATECLOUD測試平臺基礎(chǔ)上開發(fā)而成，具有強大的兼容性，可以靈活快速接入設(shè)備，自動識別儀器，探針臺就是其中之一。平臺會封裝探針
案例 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試軟件與探針臺、網(wǎng)分通訊，測量晶圓芯片
北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于4G、5G移動終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領(lǐng)域。該公司與納米軟件合作，旨在通過矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件與探針臺、網(wǎng)分的通訊，完成晶圓芯片S參數(shù)的全自動化測試。
TS3USB3000 DPDT USB 2.0高速和移動高清鏈路(MHL)6.1GHz開關(guān)數(shù)據(jù)表
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《TS3USB3000 DPDT USB 2.0高速和移動高清鏈路(MHL)6.1GHz開關(guān)數(shù)據(jù)表.pdf》資料免費下載
發(fā)表于 06-29 11:21
?0次下載
工商網(wǎng)監(jiān)
評論