在某測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)中,需要用數(shù)據(jù)總線來(lái)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment,簡(jiǎn)稱(chēng),ATE)和被測(cè)單元(Unit Under Test,簡(jiǎn)稱(chēng)UUT)之間的串行通信。實(shí)際設(shè)計(jì)時(shí),采用串行通信方式,以32位雙極性(±5V 歸零)串行碼(稱(chēng)之為一個(gè)代字)向UUT分時(shí)發(fā)送控制指令和狀態(tài)信息,同時(shí)接收U-UT送出的代字信息。文中對(duì)該電路的設(shè)計(jì)原理和部分軟件程序的實(shí)現(xiàn)方法做了詳細(xì)地介紹。
1 、50kHz時(shí)基信號(hào)發(fā)生器
由于在此測(cè)試系統(tǒng)中的通信均是以串行碼的形式進(jìn)行的,且數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俾蕿?0kbps,因此,設(shè)計(jì)時(shí),采用了如圖1所示的550kHz時(shí)基信號(hào)發(fā)生器。
圖1中,SG8002是日本EPSON公司生產(chǎn)的可編程晶體振蕩器,其頻率穩(wěn)定性為±100ppm/(在-20℃-+70℃范圍內(nèi))。該編程晶體振蕩器產(chǎn)生的1.2MHz脈沖信號(hào)經(jīng)54LSl07雙JK觸發(fā)器4分頻后可得到300kHz的方波。此方波輸出分兩路,一路經(jīng)54LSl07再次2分頻后形成150kHz信號(hào)CPl50,作為測(cè)試系統(tǒng)的自檢、外部檢定以及對(duì)該測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試擴(kuò)展;另一路則先經(jīng)4位移位寄存器54LS95后,再進(jìn)行6分頻,從而得到所需的50kHz時(shí)基信號(hào)CP50。
2 、32位單極性串行碼發(fā)送電路
32位單極性串行碼發(fā)送電路的主要作用是將PC/104總線的數(shù)據(jù)端口D0-D7送出的串行TTL電平經(jīng)54LS595移位鎖存至54LS95移位寄存器的Di輸入口,然后在并行置入脈沖C2下降沿的作用下打入到Qi輸出口,最后在32個(gè)串行右移脈沖CP1下降沿的作用下形成所需的、含有特定意義的32位單極性雙通道串行碼NHΦ.CHl和NHΦ.CH2。具體的電路實(shí)現(xiàn)原理如圖2所示。
3 、代宇發(fā)送允許信號(hào)形成電路
該電路以AT89C2051微處理器為控制核心將50kHz時(shí)基信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生的時(shí)基信號(hào)CP50進(jìn)行隔段取樣,以形成54LS95所需的串行右移脈沖CPl、并行置入脈沖C2及工作方式控制信號(hào)M。其電路原理如圖3所示。
圖3中,MAX813L芯片用于組成AT89C2051微處理器的復(fù)位監(jiān)控電路,同時(shí)此芯片也可充當(dāng)“看門(mén)狗”(WatchDog),以防止程序運(yùn)行時(shí)出現(xiàn)“飛跑”現(xiàn)象。50kHz的時(shí)基信號(hào)經(jīng)過(guò)AT89C2051的隔段取樣例程后可形成滿足圖4所示時(shí)序要求的采樣脈沖串CPl、C2及M。
下面是AT89C2051對(duì)50kHz時(shí)基信號(hào)的隔段取樣程序:
ORG 0000H
START: SETB P1.7
CLR P1.0
CLR P1.2
CLR p1.3 CPL P3.1
MOV R0,#00H
DELAY: MOV TMOD,#01H
SETB TR0
MOV A,#32H
DELAY1: MOVTHO,#0B1H
MOV TL0,#0EOH
DELAY2: JNB TF0,DELAY2
CLR TF0
CPL P3.1
DEC A
DJNE A,#00H,DELAY1
LOOP1: JNB P1.7,LOOPl
LOOP2: JB P1.7,LDOP2
INC R0[page]
CJNE R0,#02H,LOOP3
SETB P1.2
LOOP3: JNB P1.7,LOOP3
SETB P1.3
LOOP4: JB Pl.7,LOOP4
CLR P1.3
INC R0
LOOP5: JNB Pl.7,LOOP5
LOOP6: JB P1.7,LOOP6
CLR P1.2
INC R0
SETB P1.0
LOOP7: JNB P1.7,LOOP7
LOOP8: P1.7,LOOP8
INC R0
CJNE R0,#24H,LOOP7
CLR P1.0
CPL P3.1
MOV R0,# 00H
SJMP LOOPl
END
4 、單/雙極性變換電路
單/雙極性變換電路主要是由電平匹配器1、電平匹配器2、反相加法器以及功率放大器等4部分組成,具體的電路原理如圖5所示。
該電路的基本工作原理是將32位單極性串行碼發(fā)送電路產(chǎn)生的雙通道互補(bǔ)對(duì)稱(chēng)串行碼NHΦCH1和NHΦ.CH2信號(hào)送電子匹配器1和2進(jìn)行處理,以形成反相加法器所需的輸入信號(hào)Vol和V02,然后將Vol、V02以及補(bǔ)償電子信號(hào)Vr經(jīng)加法器線性疊加以得到雙極性串行碼“雙絞a”信號(hào)。由于“雙絞a”信號(hào)功率較小,不能直接驅(qū)動(dòng)被測(cè)設(shè)備的內(nèi)部電路,故需將其再進(jìn)行一級(jí)功率放大以滿足實(shí)際需要。
在圖5中,電平匹配器、反相加法器均采用OPA689高精度高速集成運(yùn)放芯片,而功率放大器則采用大功率高頻功放芯片BUF634。
圖6所示是單極性-雙極型串行碼的極性變換邏輯及時(shí)序關(guān)系。
責(zé)任編輯:gt
-
測(cè)試
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
5708瀏覽量
128927 -
串行通信
+關(guān)注
關(guān)注
4文章
588瀏覽量
36224 -
信號(hào)發(fā)生器
+關(guān)注
關(guān)注
28文章
1576瀏覽量
110691
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
基于USB通信技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

VXI/GPIB總線的通信設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)
機(jī)載電子設(shè)備通用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)研究與實(shí)現(xiàn)
天線自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
分布式測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)通信方式
無(wú)線設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)
基于多P89C668單片機(jī)的組合邏輯電路自動(dòng)測(cè)試診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)
基于數(shù)據(jù)庫(kù)的通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
EMC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)及手機(jī)EMI測(cè)試實(shí)現(xiàn)
基于USB通信的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
基于CY7C68013A的GPIF通信方式的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備加流測(cè)壓及加壓測(cè)流的設(shè)計(jì)

USB通信技術(shù)在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中的應(yīng)用

模擬IC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的直流參數(shù)測(cè)試單元

通信設(shè)備自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)案例

評(píng)論