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某射頻TR組件功率模塊故障分析及改進(jìn)

工程師 ? 來(lái)源:電子萬(wàn)花筒 ? 作者:電子萬(wàn)花筒 ? 2020-10-27 15:07 ? 次閱讀
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摘 要: 產(chǎn)品,從該產(chǎn)品在分系統(tǒng)調(diào)試交驗(yàn)、整機(jī)調(diào)試交驗(yàn)、用戶使用過(guò)程中反饋的信息可以看出, T/R組件中的微波功率模塊發(fā)生故障的可能性較大,給分系統(tǒng)調(diào)試交驗(yàn)、整機(jī)調(diào)試交驗(yàn)以及售后維修等工作造成了很大困難,直接影響到雷達(dá)整機(jī)工作的穩(wěn)定性和可靠性,同時(shí)也給本單位帶來(lái)了不小的經(jīng)濟(jì)損失。分析了造成 T/R組件微波功率模塊損壞的主要原因,提出了降低 T/R組件故障率的相應(yīng)方法,并固化形成了中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)公司標(biāo)準(zhǔn) Q/CNG 109 — 2017 ,對(duì)提高雷達(dá)整機(jī)可靠性、提升產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。

T/R 組件主要用于相控陣?yán)走_(dá)微波信號(hào)的發(fā)射和回波信號(hào)的接收。某雷達(dá)的 T/R 組件應(yīng)用先進(jìn)的微波單片集成電路( MMIC )優(yōu)化設(shè)計(jì),將多個(gè)微波功率模塊( PHA3135-130M )、低噪聲接收電路等組合而成。器件質(zhì)量的優(yōu)劣直接影響到雷達(dá)整機(jī)性能的好壞 。本文探討的 XXX 雷達(dá) T/R 組件中的微波功率模塊,在前幾批生產(chǎn)調(diào)試及交驗(yàn)使用過(guò)程中因多次發(fā)生故障,已嚴(yán)重影響到某雷達(dá)整機(jī)的質(zhì)量。根據(jù)中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)公司質(zhì)量工作要求,由西安電子工程研究所負(fù)責(zé)對(duì) T/R 組件中的微波功率模塊的故障進(jìn)行分析,找出了造成該組件失效的主要原因。由中國(guó)兵器工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所牽頭、相關(guān)技術(shù)人員共同參與,對(duì)解決措施進(jìn)行總結(jié)提煉,編制完成了 Q / CNG109 — 2017 ,有效提高了雷達(dá)產(chǎn)品的質(zhì)量。

1 故障統(tǒng)計(jì)

截止到現(xiàn)在,該雷達(dá)已經(jīng)完成了5套 T/R 組件(每套含88?jìng)€(gè) T/R 組件、 12個(gè)驅(qū)動(dòng)放大器)的調(diào)試。其中,使用微波功率模塊總計(jì) 934 只,失效總數(shù)為 52 只。根據(jù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),一開始通電就發(fā)生故障的有3只,在調(diào)試過(guò)程中發(fā)生故障的有6只,在60h功率老煉過(guò)程中發(fā)生故障的有17只,在低溫-40℃環(huán)境條件下失效的有 19 只,某雷達(dá)總站返修發(fā)生故障的有7只。具體統(tǒng)計(jì)見(jiàn)表1 。

表 1 微波功率模塊故障統(tǒng)計(jì)表

從表 1 可以看出,微波功率模塊在 60h 功率老煉和 低 溫 摸 底 試 驗(yàn) 中 失 效 最 多,占 總 失 效 率 的69.22% 。要降低微波功率模塊的失效率,提高其可靠性,關(guān)鍵是找到微波功率模塊在60h功率老煉和低溫摸底試驗(yàn)中失效的原因,并找出解決問(wèn)題的方法。

2 微波功率模塊失效原因分析

2.1 故障現(xiàn)象

失效微波功率模塊在調(diào)試、高低溫試驗(yàn)及可靠性試驗(yàn)過(guò)程中均出現(xiàn)輸出功率明顯下降或者無(wú)功率輸出的現(xiàn)象。對(duì)失效微波功率模塊進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試,發(fā)現(xiàn)失效微波功率模塊上的功率管 V ( BR ) CBO形成開路或(和) V ( BR ) EBO 形成通路。進(jìn)一步對(duì)失效微波功率模塊進(jìn)行粗檢漏與開蓋失效分析,粗檢漏發(fā)現(xiàn)樣品的瓷帽表面出現(xiàn)連續(xù)氣泡,開蓋發(fā)現(xiàn)失效內(nèi)部有大量氟油浸入,表明器件漏氣嚴(yán)重,有器件管芯及對(duì)應(yīng)的輸出電容均出現(xiàn)嚴(yán)重?zé)龤?,輸入網(wǎng)絡(luò)中部分發(fā)射極引線熔斷,兩級(jí)輸入匹配電容基本完整,燒毀現(xiàn)象反應(yīng)單管輸出端出現(xiàn)了嚴(yán)重失配。

2.2 失效原因定位

根據(jù)該微波功率模塊在 T/R 組件的使用條件和上述故障現(xiàn)象,分析可能導(dǎo)致故障的原因,在此基礎(chǔ)上建立微波功率模塊故障樹模型(見(jiàn)圖1 )。依據(jù)建立的故障樹模型對(duì)7個(gè)末端因素進(jìn)行逐項(xiàng)確認(rèn)。

圖1微波功率模塊故障樹模型

2.2.1 使用條件

由于此失效微波功率模塊在-40 ℃低溫環(huán)境進(jìn)行試驗(yàn),對(duì)此微波功率模塊的數(shù)據(jù)信息進(jìn)行查看,發(fā)現(xiàn)其最低使用溫度是-30 ℃ 。由于此微波功率模塊是國(guó)外供貨,設(shè)計(jì)階段沒(méi)有比這個(gè)更高環(huán)境適應(yīng)性的器件。所以,對(duì)此微波功率模塊進(jìn)行 -40 ℃低溫環(huán)境試驗(yàn),從 300 塊微波功率模塊中抽取 50 塊進(jìn)行試驗(yàn),試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,此微波功率模塊在-40℃低溫環(huán)境下可以正常工作。

2.2.2 射頻過(guò)激勵(lì)

根據(jù)此微波功率模塊使用條件可知,頻率范圍為3.1~3.5GHz ,射頻激勵(lì)功率為20~25W ,激勵(lì)信號(hào)形式為脈沖調(diào)制信號(hào),脈沖寬度為80 μ s ,周期為1ms ,正常工作輸出功率為130~170 W 。由于供給此微波功率模塊的微波信號(hào)是由55 W 的功率管進(jìn)行功率分配而來(lái),經(jīng)過(guò)調(diào)試檢測(cè)可知,其每個(gè)端口的輸出功率為25~35W ,超出微波功率模塊的額定輸入功率。微波功率管外圍電路圖如圖2所示。

圖2微波功率管外圍電路圖

2.2.3 過(guò)熱

由于此微波功率模塊是功率器件,在設(shè)計(jì)初期進(jìn)行了此模塊的熱設(shè)計(jì),有效保證了此模塊的散熱性能,而且此微波功率模塊在高溫下沒(méi)有發(fā)生失效情況,可以認(rèn)為微波功率模塊及其周圍的電路在熱設(shè)計(jì)方面是符合技術(shù)要求的。

2.2.4 過(guò)電壓

對(duì)微波功率模塊的 36V 電壓進(jìn)行測(cè)量,其滿足微波功率模塊的使用要求。使用示波器對(duì)微波功率模塊的瞬間加電電壓進(jìn)行檢測(cè),由于在電源端使用大的電容對(duì)電源進(jìn)行濾波,沒(méi)有不符合要求的涌動(dòng)電壓,因此排除過(guò)電壓的因素。

2.2.5 器件可靠性差

本微波功率模塊由該公司的中國(guó)總代理直接購(gòu)貨,從源頭上保證了該微波功率模塊的批質(zhì)量。但是,以前該微波功率模塊由于相應(yīng)的測(cè)試技術(shù)條件所限,沒(méi)有進(jìn)行入所前檢驗(yàn)、篩選,裝機(jī)的微波功率模塊的質(zhì)量和性能指標(biāo)不能完全掌握,給固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)乃至整機(jī)的性能帶來(lái)一定的隱患。所以,該微波功率模塊本身可靠性差是造成其損壞的一個(gè)重要原因。

2.2.6 駐波大

微波功率級(jí)聯(lián)示意圖如圖3所示。在該微波功率模塊調(diào)試過(guò)程中,由于該電路還很難建立較佳的級(jí)間匹配狀態(tài),每個(gè)模塊的輸入和輸出都存在一定的失配,此微波功率模塊可能需要承受超過(guò)3∶1的駐波,此時(shí)模塊燒毀可能主要因?yàn)闊o(wú)法承受輸出端口駐波超過(guò)3∶1的失配狀態(tài)。每個(gè)模塊中2個(gè)器件的工作狀態(tài)不可能完全一致,輸入端會(huì)出現(xiàn)或多或少的不等激勵(lì),2 只器件輸出端因失配而承受的反射功率也不盡相同,而該微波功率模塊只能承受3∶1以下的駐波。所以,此電路的反射駐波大是造成該微波功率模塊損壞的一個(gè)重要原因。

圖3微波功率級(jí)聯(lián)示意圖

2.2.7 電路自激

如果電路自激問(wèn)題在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)已經(jīng)引入,則此現(xiàn)象在產(chǎn)品設(shè)計(jì)定型前應(yīng)該大批量出現(xiàn),再加上電路有防止電路自激的應(yīng)用電路。所以,由本身電路自激而引起的微波功率模塊損壞的可能性比較小。

3 微波功率模塊故障解決措施

3.1 解決措施

由于該雷達(dá)產(chǎn)品使用條件較為苛刻,現(xiàn)階段使用的微波功率模塊的溫度范圍不能達(dá)到該產(chǎn)品的使用環(huán)境范圍。根據(jù)微波功率模塊的設(shè)計(jì)原理和使用方法,有如下處理辦法:

1 ) 另外選用合適溫度范圍內(nèi)的微波功率模塊,使其溫度范圍與該雷達(dá)產(chǎn)品的溫度范圍相匹配,達(dá)到該雷達(dá)的環(huán)境要求;

2 ) 由于該微波功率模塊設(shè)計(jì)的溫度有盈余性,對(duì)現(xiàn)使用的微波功率模塊進(jìn)行 -40℃ 低溫環(huán)境試驗(yàn),把低溫適應(yīng)性不好的微波功率模塊進(jìn)行淘汰處理,禁止其裝機(jī)調(diào)試,并流入下一環(huán)節(jié)。根據(jù)微波功率模塊的質(zhì)量需求,編制中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)公司標(biāo)準(zhǔn) Q / CNG109 —2017 《雷達(dá)、通信與火控系統(tǒng)用電子元器件二次篩選技術(shù)要求》 ,保障微波功率模塊的檢驗(yàn)質(zhì)量,有效提高產(chǎn)品上機(jī)質(zhì)量。

按照要求對(duì)此微波功率模塊進(jìn)行嚴(yán)格的全參數(shù)測(cè)試、環(huán)境應(yīng)力篩選和功率老煉,保證每個(gè)微波功率模塊達(dá)到技術(shù)要求,并對(duì)失效的微波功率模塊進(jìn)行淘汰處理。

由于微波功率模塊的輸入功率存在超出其額定功率的要求,形成射頻過(guò)激勵(lì)。規(guī)范該微波功率模塊前端電路的調(diào)試細(xì)則,對(duì)微波功率模塊的輸入功率進(jìn)行全頻段監(jiān)控,使其在該微波功率模塊的額定輸入功率之內(nèi),但又要保證其輸出功率的正常性。

規(guī)范該固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)的電路調(diào)試細(xì)則,建立較佳的級(jí)間匹配狀態(tài),把每個(gè)模塊的輸入和輸出都存在的失配降到最小,把輸入端會(huì)出現(xiàn)或多或少的不等激勵(lì)降到最低,使其電路產(chǎn)生的駐波不超過(guò)該微波功率模塊的承受范圍。

3.2 解決措施實(shí)施結(jié)果

經(jīng)過(guò)采取上述措施進(jìn)行改進(jìn),通過(guò)制定相應(yīng)的調(diào)試細(xì)則,該雷達(dá)固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)已完成一套 T/R 組件,共計(jì)178?jìng)€(gè)微波功率模塊的調(diào)試,僅一只微波功率模塊在剛加電時(shí),出現(xiàn)無(wú)功率輸出現(xiàn)象,其余在經(jīng)過(guò)常溫測(cè)試、功率老煉、低溫測(cè)試、高溫測(cè)試和振動(dòng)試驗(yàn)等試驗(yàn)后,均正常工作。上述措施的實(shí)施,改進(jìn)了固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)的調(diào)試方法,提高了固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)乃至整機(jī)的可靠性,降低了該產(chǎn)品的生產(chǎn)成本。

4 結(jié)語(yǔ)

對(duì)某批次一套固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)(共計(jì) 178 個(gè)微波功率模塊)進(jìn)行跟蹤試驗(yàn),均采取了上述解決方法,在固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)與總站的調(diào)試交驗(yàn)過(guò)程中,均未再次出現(xiàn)該微波功率模塊大面積損壞的現(xiàn)象。微波功率模塊故障的徹底排除,使固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)的故障率大大降低,很好地保證了固態(tài)收發(fā)系統(tǒng)及雷達(dá)整機(jī)的穩(wěn)定性和可靠性,并大幅度降低了生產(chǎn)成本,具有一定的借鑒意義。(參考文獻(xiàn)略)

作者:馮歡歡,惠好鵬,汪蓓,付耀龍

責(zé)任編輯:haq

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