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硅晶棒的生產(chǎn)工序一般是怎樣的

電子設(shè)計(jì) ? 來(lái)源:電子設(shè)計(jì) ? 作者:電子設(shè)計(jì) ? 2020-12-24 13:00 ? 次閱讀
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硅晶棒的生產(chǎn)一般主要包括幾個(gè)工序:晶棒成長(zhǎng)、晶棒裁切與檢測(cè)、外徑研磨。以下是一種生產(chǎn)方式所涉及到的工序細(xì)節(jié):

一、晶棒成長(zhǎng)工序

1)融化

將塊狀的高純度復(fù)晶硅置于石英坩鍋內(nèi),加熱到其熔點(diǎn)1420°C以上,使其完全融化。

2)頸部成長(zhǎng)

待硅融漿的溫度穩(wěn)定之后,將晶種慢慢插入其中,接著將晶種慢慢往上提升,使其直徑縮小到一定尺寸,維持此直徑并拉長(zhǎng)100至200毫米,以消除晶種內(nèi)的晶粒排列取向差異。

3)晶冠成長(zhǎng)

頸部成長(zhǎng)完成后,慢慢降低提升速度和溫度,使頸部直徑逐漸加大到所需尺寸(如5、6、8、12吋等)。

4)晶體成長(zhǎng)

不斷調(diào)整提升速度和融煉溫度,維持固定的晶棒直徑,只到晶棒長(zhǎng)度達(dá)到預(yù)定值。

5)尾部成長(zhǎng)

當(dāng)晶棒長(zhǎng)度達(dá)到預(yù)定值后再逐漸加快提升速度并提高融煉溫度,使晶棒直徑逐漸變小,以避免因熱應(yīng)力造成排差和滑移等現(xiàn)象產(chǎn)生,最終使晶棒與液面完全分離。到此即得到一根完整的晶棒。

二、晶棒裁切與檢測(cè)

將長(zhǎng)成的晶棒去掉直徑偏小的頭、尾部分,并對(duì)尺寸進(jìn)行檢測(cè),以決定下步加工的工藝參數(shù)。

三、外徑研磨

由于在晶棒成長(zhǎng)過(guò)程中,其外徑尺寸和圓度均有一定偏差,其外園柱面也凹凸不平,所以必須對(duì)外徑進(jìn)行修整、研磨,使其尺寸、形狀誤差均小于允許偏差。

硅晶棒的五種工藝詳解

硅晶棒的切斷,滾磨,腐蝕工藝介紹。

1、切斷

切斷的目的:沿著垂直于晶體生長(zhǎng)的方向,切除硅棒的頭(硅單晶的籽晶和放肩部分),尾部以及外形尺寸小于規(guī)格要求的無(wú)用部分,將硅晶棒切成數(shù)段,同時(shí),對(duì)硅棒切取樣片,檢測(cè)其電阻率,氧碳含量,晶體缺陷等相關(guān)質(zhì)量參數(shù)。

2、滾磨

無(wú)論是采用直拉法或是區(qū)熔法生長(zhǎng)的硅單晶棒,一般是按<100 >或<111 >晶向生長(zhǎng)的。通過(guò)滾磨加工,使其表面整形達(dá)到基本的直徑和直徑公差要求,并確定其定位面的位置及其基本尺寸。

3、腐蝕

為了去除磨削加工過(guò)程中的表面機(jī)械損傷和沾污,有利于后道工序的加工,就要對(duì)其表面進(jìn)行化學(xué)腐蝕處理。

一份來(lái)自瓦克化學(xué)的、申請(qǐng)?zhí)枮镃N201110424941.4(授權(quán)公告號(hào):CN102555087B)的發(fā)明專(zhuān)利,介紹了一種細(xì)硅棒的方法。

截圖自瓦克化學(xué)在中國(guó)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局網(wǎng)站上的專(zhuān)利文件

P.S.:OFweek君不是技術(shù)出身,現(xiàn)學(xué)現(xiàn)賣(mài)的這種概括文章,對(duì)于產(chǎn)業(yè)中的各種基礎(chǔ)概念無(wú)法做到非常準(zhǔn)確的描述。若讀者朋友們對(duì)于文章內(nèi)容準(zhǔn)確性有異議,歡迎添加OFweek君微信(hepinggui2010)告知。若相關(guān)內(nèi)容能形成完整的文章,OFweek君也可以署名文章投稿的形式,將相應(yīng)內(nèi)容發(fā)表在OFweek旗下各個(gè)內(nèi)容平臺(tái)上。感謝大家的支持!

審核編輯:符乾江

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