由于電磁能量源為時(shí)變的電壓源或電流源，因此當(dāng)非常接近這些電源時(shí)主要的場(chǎng)分量為電場(chǎng)（E）或磁場(chǎng)（H）。通常，導(dǎo)線(xiàn)或PCB走線(xiàn)都被認(rèn)為是主要的磁場(chǎng)源，而高電壓（開(kāi)關(guān)器件的工作動(dòng)點(diǎn)）產(chǎn)生的主場(chǎng)分量為電場(chǎng)?？紤]這種問(wèn)題的另外一種方式，即電流環(huán)路是主要的磁場(chǎng)源，而金屬表面比如散熱器（開(kāi)關(guān)器件散熱）是主要的電場(chǎng)源。－《開(kāi)關(guān)電源電磁兼容分析與設(shè)計(jì)》

因此，電路印制線(xiàn)產(chǎn)生的是電場(chǎng)還是磁場(chǎng)，取決于其與環(huán)路更相關(guān)還是與產(chǎn)品中的金屬體更相關(guān)。這些源可使用近場(chǎng)探頭確定，也因此近場(chǎng)探頭設(shè)計(jì)用來(lái)測(cè)量主要磁場(chǎng)或主要電場(chǎng)。

如圖1所示，高阻抗電路其常常與高電壓相關(guān)，通常會(huì)產(chǎn)生高電平的電場(chǎng)。而低阻抗電路其常常與大電流環(huán)路相關(guān)，通常會(huì)產(chǎn)生高電平的磁場(chǎng)。

當(dāng)探頭或接收天線(xiàn)遠(yuǎn)離電磁能量源超過(guò)大約1／6波長(zhǎng)時(shí)，電場(chǎng)和磁場(chǎng)的阻抗趨于自由空間的波阻抗－大約為377Ω，電磁場(chǎng)將成為平面波。由于所有天線(xiàn)都能對(duì)電場(chǎng)和磁場(chǎng)產(chǎn)生響應(yīng)，因此通常都使用天線(xiàn)來(lái)測(cè)量電場(chǎng)或磁場(chǎng)。當(dāng)評(píng)估產(chǎn)品產(chǎn)生的輻射發(fā)射時(shí)，測(cè)量天線(xiàn)主要測(cè)量一定距離－通常為3m或10m處的電磁場(chǎng)。

圖1．給出近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)及波阻抗之間的關(guān)系及電磁場(chǎng)在產(chǎn)品中的影響

圖1為我課題中的PPT圖資料：對(duì)于小環(huán)天線(xiàn)結(jié)構(gòu)，比如短的電纜或電路PCB走線(xiàn)，其與自身干擾能量的波長(zhǎng)相比是短的，通常為弱的輻射體。他們發(fā)射的能量隨著距離的三次方（1／D3）快速地進(jìn)行衰減。因此，磁場(chǎng)源與接收電路或?qū)Ь€(xiàn)通常必須非常地接近且位于近場(chǎng)范圍內(nèi)。才會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)耦合。

導(dǎo)線(xiàn)和金屬面板或金屬背板為高阻抗的電場(chǎng)源。他們發(fā)射的能量，不像磁場(chǎng)衰減得那樣快，而是隨著距離的二次方（1／D2）進(jìn)行衰減。他們可以與其他高阻抗電路、導(dǎo)線(xiàn)或金屬板實(shí)現(xiàn)最佳耦合。這些金屬結(jié)構(gòu)之間必須非常接近且位于近場(chǎng)范圍內(nèi)。這就是所說(shuō)的容性電場(chǎng)耦合。

在這里給出電子設(shè)計(jì)工程師在需要計(jì)算時(shí)的參考數(shù)據(jù)：當(dāng)1／6波長(zhǎng)仍位于過(guò)渡區(qū)內(nèi)時(shí)，通常認(rèn)為3λ的距離可確保為遠(yuǎn)場(chǎng)。λ／16則確保為近場(chǎng)。

注意：在遠(yuǎn)場(chǎng)中，電場(chǎng)和磁場(chǎng)引起噪聲問(wèn)題的潛在概率是相等的。要確定的是哪種場(chǎng)在實(shí)際中影響最顯著？敏感電路是什么？敏感電路具有更大的暴露的環(huán)路面積，是會(huì)對(duì)磁場(chǎng)敏感，還是會(huì)對(duì)電場(chǎng)敏感？！如何進(jìn)行問(wèn)題診斷呢？

再給出電磁干擾問(wèn)題的故障診斷技巧

有許多的方法可以對(duì)電磁干擾問(wèn)題進(jìn)行分析和整改。在這里推薦EMC故障診斷的4個(gè)基本且常用的步驟可供電子設(shè)計(jì)工程師來(lái)參考。

1）分離識(shí)別干擾源

這個(gè)操作的目的是嘗試去掉元件、分系統(tǒng)或相關(guān)設(shè)備，以確認(rèn)他們是否對(duì)EMI問(wèn)題產(chǎn)生了影響。比如，如果問(wèn)題是輻射發(fā)射，應(yīng)嘗試移走受試設(shè)備（EUT）的輔助設(shè)備以確認(rèn)問(wèn)題是出自輔助設(shè)備還是EUT。由于線(xiàn)纜通常為輻射源，因此另一種好的試驗(yàn)方法是移走所有不必要的連接線(xiàn)電纜。如果EUT仍然還是超過(guò)發(fā)射限值，那么出問(wèn)題的可能是屏蔽殼體或PCB設(shè)計(jì)，應(yīng)首先先處理優(yōu)化或者是解決他們。

2）主要干擾源的影響效應(yīng)

特定頻率的諧波發(fā)射通常是由多個(gè)源或輻射結(jié)構(gòu)產(chǎn)生，這些源或輻射結(jié)構(gòu)中的一個(gè)可能是主要的，要比其它的干擾源或輻射結(jié)構(gòu)的發(fā)射要強(qiáng)。當(dāng)使用一種或多種可能的解決方法，定位到主要的發(fā)射源時(shí)才可能看到發(fā)射的減小。通常最佳的做法是，使用所有潛在的解決方法使測(cè)試產(chǎn)品合格。然后再開(kāi)始逐一地去掉所使用的解決方法，最后找出到底是哪些方法可以解決問(wèn)題了。

3）一直加措施的策略

這里使用的方式是不考慮成本和復(fù)雜性，先使用一切辦法使產(chǎn)品合格。然后再回過(guò)頭來(lái)進(jìn)行簡(jiǎn)化，以確定成本最低的解決方法。很多時(shí)候，由于有些潛在的EMI解決辦法成本過(guò)高或過(guò)于復(fù)雜，所以并沒(méi)有去嘗試使用這些辦法。首先采用一直加措施的方法通過(guò)符合性試驗(yàn)，然后再減少一些無(wú)關(guān)的措施，降低成本。

4）采用EMC理論體系的解決方法；

這也是依據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)的故障診斷技巧總結(jié)的分享

注意：當(dāng)故障問(wèn)題的工作頻率為幾十MHz或幾百M(fèi)Hz時(shí)，不建議輕率地采用簡(jiǎn)單焊接器件的解決辦法。比如，如果確定在某個(gè)位置使用電容器可解決問(wèn)題，但焊接的電容器件具有較長(zhǎng)的引線(xiàn)，這個(gè)長(zhǎng)引線(xiàn)的電感屬性將會(huì)影響電容器的性能，尤其是在較高的頻率下。在較高頻率下，應(yīng)盡可能地使用引線(xiàn)長(zhǎng)度最短的元件或貼片器件。

另外一個(gè)典型案例是屏蔽電纜和外殼之間需要做好射頻搭接。電纜屏蔽層或電路板和外殼之間連接的短導(dǎo)線(xiàn)（或者是軟編織線(xiàn)）在所考慮的諧波頻率時(shí)很可能不具有足夠低的阻抗。為了使搭接更為有效，需要進(jìn)行多次連接。再比如采用3600低阻抗的環(huán)繞連接。簡(jiǎn)單的問(wèn)題，正確的去做，是很關(guān)鍵的。

對(duì)于產(chǎn)品的較正確的電磁干擾問(wèn)題診斷及整改過(guò)程如圖2所示。

圖2 電磁干擾問(wèn)題的故障診斷及思路

解決電磁干擾問(wèn)題的重要技巧，是能夠識(shí)別提供能量的源和潛在的耦合路徑，以及理解接收器和接收電路。

注意：對(duì)于EMI發(fā)射和抗擾度的問(wèn)題，四種耦合結(jié)構(gòu)／電路路徑同樣有效。對(duì)于輻射發(fā)射，接收器通常為EMC測(cè)試設(shè)施中使用的EMI接收機(jī)或頻譜分析儀。產(chǎn)品或系統(tǒng)產(chǎn)生的發(fā)射通常具有規(guī)定的限值。根據(jù)產(chǎn)品或系統(tǒng)及預(yù)期的使用環(huán)境，這些限值可能非常低或高。在實(shí)際環(huán)境中，接收器可能是任何通信系統(tǒng)或其他設(shè)備。

對(duì)于抗擾度問(wèn)題，能量源可能為ESD、附近的兩路射頻發(fā)射機(jī)或電源線(xiàn)浪涌或瞬態(tài)干擾；也可能為產(chǎn)生噪聲的設(shè)備，如電源線(xiàn)上連接的電機(jī)或?yàn)V波不好的開(kāi)關(guān)電源系統(tǒng)。

對(duì)于發(fā)射問(wèn)題，干擾源的識(shí)別通常最容易。可以使用近場(chǎng)探頭（磁場(chǎng)或電場(chǎng)）確定最大能量的電平。最常見(jiàn)的內(nèi)部干擾源有時(shí)鐘振蕩器、大功率驅(qū)動(dòng)器、A－D／D－A轉(zhuǎn)換器、專(zhuān)用集成電路、電源變壓器、開(kāi)關(guān)器件或任何具有快速上升沿的高頻數(shù)字信號(hào)。還可以嘗試在單個(gè)電源和I／O信號(hào)電纜上使用射頻電流探頭確定發(fā)射源。

對(duì)于200MHz左右及以下的多數(shù)輻射發(fā)射問(wèn)題，由連接線(xiàn)電纜產(chǎn)生的輻射發(fā)射問(wèn)題要比設(shè)備外殼或內(nèi)部電路直接產(chǎn)生的多。這個(gè)理論與實(shí)踐的內(nèi)容請(qǐng)參考《開(kāi)關(guān)電源電磁兼容分析與設(shè)計(jì)》。

對(duì)于抗擾度問(wèn)題，能量源在外部，因此這些源包括射頻發(fā)射、ESD及不同的電源線(xiàn)的瞬態(tài)和浪涌。對(duì)ESD或電源線(xiàn)瞬態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，可將這些現(xiàn)象與出現(xiàn)的問(wèn)題相聯(lián)系并進(jìn)行識(shí)別。這些抗擾度問(wèn)題的故障診斷請(qǐng)參考《物聯(lián)產(chǎn)品電磁兼容分析與設(shè)計(jì)》。

一旦識(shí)別出了潛在的騷擾源，下一步是識(shí)別潛在的耦合路徑。這種故障診斷都會(huì)有些小技巧。一旦已知了騷擾源，可用下面的方式識(shí)別耦合路徑。

傳導(dǎo)耦合：通常情況下，如果路徑為傳導(dǎo)耦合路徑，將處理的是導(dǎo)線(xiàn)或電纜線(xiàn)束上的時(shí)變（交流或射頻）電流，這些電流可能沒(méi)進(jìn)行足夠的濾波或去耦。這種電流必須先傳輸?shù)竭h(yuǎn)端的位置或負(fù)載，然后通過(guò)另外一條導(dǎo)線(xiàn)或連接線(xiàn)電纜束返回到騷擾源端。

另一種常見(jiàn)的情況是噪聲源和受擾電路之間具有公共的返回路徑。干擾電流與環(huán)路的長(zhǎng)度無(wú)關(guān)，因此如果能盡力把騷擾源和接收器或受擾電路從物理上相隔開(kāi)，干擾問(wèn)題仍會(huì)存在，那么這個(gè)問(wèn)題的產(chǎn)生原因通常就是傳導(dǎo)耦合了。當(dāng)然，輻射耦合也仍是有可能的。

感性或容性耦合：如果耦合是感性或容性的，增加干擾源和接收器之間的物理距離可顯著地減小干擾或?qū)﹄娐返挠绊?。比如，干擾源為電源變壓器，應(yīng)嘗試著把變壓器連接在延長(zhǎng)的導(dǎo)線(xiàn)上，使得其位于不同的方向或距離上。如果干擾源為開(kāi)關(guān)電源的散熱片，可暫時(shí)把散熱片移走然后看是否解決了問(wèn)題。如果移走散熱片電源工作起來(lái)不安全，那就盡力使用附加的非導(dǎo)電但導(dǎo)熱的墊子或隔離物以減小寄生電容。

散熱片也會(huì)與附近的連接線(xiàn)電纜產(chǎn)生容性耦合。當(dāng)監(jiān)測(cè)干擾時(shí)應(yīng)嘗試移動(dòng)連接線(xiàn)電纜。感性耦合通常出現(xiàn)在電纜和PCB之間或兩條連接線(xiàn)電纜之間。此外，使用隔離手段通常也能驗(yàn)證耦合機(jī)理是否為感性的。

對(duì)于輻射發(fā)射測(cè)試，輻射耦合主要是由于EUT連接線(xiàn)電纜或殼體上的縫隙產(chǎn)生的發(fā)射通過(guò)空間耦合傳播給EMI接收天線(xiàn)。

增加EUT和EMI天線(xiàn)之間的物理間隔通常并不能使諧波的幅值產(chǎn)生非常大的變化。

在前面的文章－【電磁干擾及電磁兼容問(wèn)題中的干擾能量是如何傳遞的】有進(jìn)行詳細(xì)的分析和說(shuō)明，可供參考。

同時(shí)這也是典型四種耦合的判斷和分析方法。詳細(xì)內(nèi)容還可參考《開(kāi)關(guān)電源電磁兼容分析與設(shè)計(jì)》書(shū)中的具體內(nèi)容。其書(shū)中的視頻內(nèi)容或許將會(huì)給廣大讀者帶來(lái)非常大的幫助。

《開(kāi)關(guān)電源電磁兼容的分析與設(shè)計(jì)》與《物聯(lián)產(chǎn)品電磁兼容分析與設(shè)計(jì)》都是以實(shí)用為目的，將復(fù)雜的理論簡(jiǎn)單化，化繁為簡(jiǎn)、化簡(jiǎn)為易，從而簡(jiǎn)化了冗長(zhǎng)的理論，可以作為在企業(yè)從事電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的部門(mén)主管、EMC設(shè)計(jì)工程師、EMC整改工程師、EMC認(rèn)證工程師、硬件開(kāi)發(fā)工程師、PCB LAYOUT工程師、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)工程師、測(cè)試工程師、品管工程師、系統(tǒng)工程師等研發(fā)人員進(jìn)行EMC設(shè)計(jì)的參考資料