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可靠性、創(chuàng)新、整體解決方案……碳化硅的新高度

kasdlak ? 來源:kasdlak ? 作者:kasdlak ? 2022-08-05 09:30 ? 次閱讀
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對碳化硅 (SiC) 技術(shù)的需求持續(xù)增長,該技術(shù)可最大限度地提高當(dāng)今電力系統(tǒng)的效率,同時減小其尺寸、重量和成本。但是 SiC 解決方案并不是硅的直接替代品,而且它們的創(chuàng)建方式也不盡相同。為了實現(xiàn) SiC 技術(shù)的承諾,開發(fā)人員必須根據(jù)質(zhì)量、供應(yīng)和支持仔細(xì)評估產(chǎn)品和供應(yīng)商選項,并了解如何優(yōu)化這些顛覆性 SiC 功率組件與其終端系統(tǒng)的集成。

下載我們的 GaN 和 SiC 技術(shù)電子書

越來越多的采用

碳化硅技術(shù)正處于急劇上升的采用曲線上。隨著多個組件供應(yīng)商的選擇范圍不斷擴(kuò)大,產(chǎn)品可用性也有所增加。市場在過去三年中翻了一番,預(yù)計在未來十 (10) 年內(nèi)將增長 20 倍,價值超過 100 億美元。采用范圍從車載混合動力和電動汽車 (H/EV) 應(yīng)用擴(kuò)展到火車、重型車輛、工業(yè)設(shè)備和電動汽車充電基礎(chǔ)設(shè)施中的非汽車動力和電機控制系統(tǒng)。航空航天和國防供應(yīng)商也在推動 SiC 的質(zhì)量和可靠性,以滿足這些部門對組件堅固性的嚴(yán)格要求。

SiC 開發(fā)計劃的一個關(guān)鍵部分是驗證 SiC 器件的可靠性和堅固性,因為這在供應(yīng)商之間存在很大差異。隨著對整個系統(tǒng)的關(guān)注日益增加,設(shè)計人員還需要評估供應(yīng)商提供的產(chǎn)品范圍。重要的是,設(shè)計師與供應(yīng)商合作提供靈活的解決方案,例如由全球分銷、支持和綜合設(shè)計模擬和開發(fā)工具支持的芯片、分立和模塊選項。希望設(shè)計面向未來的開發(fā)人員還需要探索最新功能,例如解決早期實施問題的數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器,同時通過按鍵實現(xiàn)系統(tǒng)性能“調(diào)整”。

第一步:三個關(guān)鍵測試

三項測試提供了評估 SiC 器件可靠性的數(shù)據(jù):雪崩能力;承受短路的能力;以及 SiC MOSFET二極管的可靠性。

足夠的雪崩能力至關(guān)重要:即使是無源器件的輕微故障也可能導(dǎo)致超過額定擊穿電壓的瞬態(tài)電壓尖峰,最終使設(shè)備或整個系統(tǒng)失效。具有足夠雪崩能力的 SiC MOSFET 減少了對緩沖電路的需求并延長了應(yīng)用壽命。評分最高的選項展示了高達(dá)每平方厘米 25 焦耳 (J/cm2) 的高 UIS 能力。即使經(jīng)過 100,000 次重復(fù) UIS (RUIS) 測試,這些設(shè)備也幾乎沒有出現(xiàn)參數(shù)退化。

第二個關(guān)鍵測試是短路耐受時間 (SCWT),即軌到軌短路條件下器件發(fā)生故障前的最長時間。結(jié)果應(yīng)該與功率轉(zhuǎn)換應(yīng)用中使用的 IGBT 接近,其中大多數(shù)具有 5 到 10 微秒 (us) 的 SCWT。確保足夠的 SCWT 使系統(tǒng)有機會在不損壞系統(tǒng)的情況下處理故障條件。

第三個關(guān)鍵指標(biāo)是 SiC MOSFET 的本征體二極管的正向電壓穩(wěn)定性。這可能因供應(yīng)商而異。如果沒有適當(dāng)?shù)钠骷O(shè)計、處理和材料,該二極管的導(dǎo)電性可能會在操作期間降低,從而導(dǎo)致導(dǎo)通狀態(tài)漏源電阻 (R DSon ) 增加。圖 1 闡明了存在的差異。在俄亥俄州立大學(xué)進(jìn)行的一項研究中,對來自三個供應(yīng)商的 MOSFET 進(jìn)行了評估。在結(jié)果的一端,供應(yīng)商 B 的所有器件的正向電流均出現(xiàn)退化,而另一方面,供應(yīng)商 C 的 MOSFET 未觀察到退化。

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圖 1:碳化硅 MOSFET 的正向特性,顯示了供應(yīng)商在體二極管退化方面的差異。資料來源:俄亥俄州立大學(xué) Anant Agarwal 博士和 Min Seok Kang 博士。

一旦設(shè)備可靠性得到驗證,下一步就是評估圍繞這些設(shè)備的生態(tài)系統(tǒng),包括產(chǎn)品選擇的廣度、穩(wěn)固的供應(yīng)鏈和設(shè)計支持。

供應(yīng)、支持和系統(tǒng)級設(shè)計

在越來越多的 SiC 供應(yīng)商中,今天的 SiC 公司除了經(jīng)驗和基礎(chǔ)設(shè)施之外,還可以在設(shè)備選擇方面有所不同,以支持和供應(yīng)許多嚴(yán)格的 SiC 市場,例如汽車、航空航天和國防。

電源系統(tǒng)設(shè)計會隨著時間的推移以及在該設(shè)計的不同代中不斷改進(jìn)。碳化硅應(yīng)用也不例外。早期設(shè)計可能在非常標(biāo)準(zhǔn)的通孔或表面貼裝封裝選項中使用廣泛可用的標(biāo)準(zhǔn)分立電源產(chǎn)品。隨著應(yīng)用數(shù)量的增加以及設(shè)計人員專注于減小尺寸、重量和成本,他們通常會將設(shè)計轉(zhuǎn)移到集成電源模塊或可能選擇三方合作伙伴關(guān)系。這些三方合作伙伴包括最終產(chǎn)品設(shè)計團(tuán)隊、模塊制造商和 SiC 芯片供應(yīng)商。每一個都在實現(xiàn)總體設(shè)計目標(biāo)方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

在快速增長的 SiC 市場中,供應(yīng)鏈問題是一個關(guān)鍵且合理的問題。SiC 襯底材料是 SiC 芯片制造流程中最昂貴的材料。此外,碳化硅制造需要高溫制造設(shè)備,而這在開發(fā)硅基電源產(chǎn)品和 IC 時是不需要的。設(shè)計人員必須確保 SiC 供應(yīng)商擁有強大的供應(yīng)鏈模型,包括多個制造地點,以防發(fā)生自然災(zāi)害或重大良率問題,以確保供應(yīng)始終能夠滿足需求。許多組件供應(yīng)商也會報廢 (EOL) 老一代設(shè)備,迫使設(shè)計人員將時間和資源花在重新設(shè)計現(xiàn)有應(yīng)用程序上,而不是開發(fā)有助于降低最終產(chǎn)品成本和增加收入的新創(chuàng)新設(shè)計。

設(shè)計支持也很重要,包括有助于縮短開發(fā)周期的仿真工具和參考設(shè)計。借助解決 SiC 器件控制和驅(qū)動的解決方案,開發(fā)人員可以探索增強切換等新功能,以實現(xiàn)整個系統(tǒng)方法的全部價值。圖 2 顯示了基于 SIC 的系統(tǒng)設(shè)計,帶有集成的數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器,可進(jìn)一步加快生產(chǎn)時間,同時創(chuàng)建優(yōu)化設(shè)計的新方法。

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圖 2:模塊適配器板與柵極驅(qū)動器內(nèi)核相結(jié)合,提供了一個平臺,可通過增強開關(guān)快速評估和優(yōu)化新的 SiC 功率器件。

設(shè)計優(yōu)化的新選項

數(shù)字可編程柵極驅(qū)動選項通過增強開關(guān)最大限度地提高 SiC 的優(yōu)勢。它們允許輕松配置 SiC MOSFET 開啟/關(guān)閉時間和電壓電平,因此設(shè)計人員可以加快開關(guān)速度并提高系統(tǒng)效率,同時降低與柵極驅(qū)動器開發(fā)相關(guān)的時間和復(fù)雜性。開發(fā)人員無需手動更改 PCB,而是可以使用配置軟件通過按鍵優(yōu)化其基于 SiC 的設(shè)計,使其面向未來,同時加快上市時間并提高效率和故障保護(hù)。

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圖 3:使用數(shù)字可編程柵極驅(qū)動器實施最新的增強型開關(guān)技術(shù)有助于解決 SiC 噪聲問題、加快短路響應(yīng)速度、幫助管理電壓過沖問題并最大限度地減少過熱。

隨著碳化硅在更廣泛的應(yīng)用中采用的增長,早期的 SiC 用戶已經(jīng)在汽車、工業(yè)、航空航天和國防領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了優(yōu)勢。成功將繼續(xù)依賴于驗證 SiC 器件可靠性和堅固性的能力。隨著開發(fā)人員采用整體解決方案戰(zhàn)略,他們將需要獲得由完整可靠的全球供應(yīng)鏈和所有必要的設(shè)計模擬和開發(fā)工具支持的綜合產(chǎn)品組合。通過數(shù)字可編程門驅(qū)動支持的軟件可配置設(shè)計優(yōu)化的新功能,他們還將有新的機會進(jìn)行面向未來的投資。

審核編輯 黃昊宇

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