有人使用STM32芯片從事產品開發(fā)，代碼中有涉及到除以0操作。他們發(fā)現(xiàn)基于相同的代碼，使用不同IDE會出現(xiàn)不同結果。在IAR或ARM MDK環(huán)境下除以0操作所得結果為0，而在STM32CubeIDE環(huán)境下的運行時則產生HardFault異常。他們對這個結果感覺很奇怪，甚至懷疑是不是CubeIDE環(huán)境有bug。

根據(jù)ARM內核相關手冊描述，關于除以0事件或非對齊訪問事件是否進行捕捉并觸發(fā)異常是可以配置的。如下圖所示：

其中，除以0事件由內核的配置控制寄存器CCR的DIV_0_TRP控制。該位清0時，系統(tǒng)不對除以0事件觸發(fā)異常，結合下面截圖描述得知，此時硬性返回0值作為結果。

也就是說，只有控制位配置為1并發(fā)生除以0事件時才觸發(fā)異常。另外，上圖最后一句明確說明，復位后該位值為0.

結合客戶的描述，感覺在ARM MDK和IAR環(huán)境下，該位默認值或者說復位值為0，而STM32CubeIDE環(huán)境下該位復位默認值則為1。這似乎有點說不通。因為這個默認復位值應該是跟著內核芯片走，不會跟著開發(fā)環(huán)境走?！居脩舸a一樣】

我隨手找個STM32開放板，先基于IAR環(huán)境做了個測試。在測試代碼里制造了除以0事件，的確沒有觸發(fā)異常，而且還返回了結果0。查看IAR開發(fā)環(huán)境下了SCB->CCR->DIV_0_TRP控制位，如下圖所示，其值為0。結合內核資料描述，這點跟測試結果吻合。

我嘗試將該控制位改為1后再運行除以0代碼，立即觸發(fā)異常。如下圖所示：

當我將測試代碼轉到CubeIDE去調試，也馬上觸發(fā)異常，并明確提示發(fā)生除以0事件。

順便在SFR寄存器里查看SCB->CCR->DIV_0_TRP位的值，果真是1，見下圖：

我在用戶代碼里并未對該控制位進行改寫，按理其復位值應該是0。難道哪里改寫它了？

我嘗試到STM32CubeIDE的用戶手冊UM2609找找，看看能否找到相關信息。在里面搜索DIV_0還真找到相關信息了。

這里的文字表明，調試狀態(tài)下關于除以0事件的異常捕獲是默認使能的，目的是為了幫助用戶在調試時及時發(fā)現(xiàn)除以0異常。這個說法沒毛病，問題是在哪里對其使能置位的呢？ARM內核復位后可是清零了的。

繼續(xù)查找相關信息，看到了該段文字上方有個截圖，如下圖所示：

從上圖可以看出，關于除以0操作或非對齊訪問是否觸發(fā)異常，這里可以選擇配置。在STM32CubeIDE調試狀態(tài)下，除以0操作的異常捕獲默認被使能，基于該配置并在工程啟動時借助調試部件修改了相關寄存器。

當我把這個地方取消勾選后，使用前面相同代碼做驗證調試，此時不再觸發(fā)異常并返回0值結果。到此，也就解釋了發(fā)生除以0操作時，為什么STM32CubeIDE會出現(xiàn)與MDK、IAR不同的調試結果。

顯然，STM32CubeIDE默認調試狀態(tài)下使能除以0事件的捕獲，這樣的確便于我們在調試時就能及時發(fā)現(xiàn)除以0事件，若是不該出現(xiàn)的，趕緊查錯糾錯，避免其發(fā)生。如果是允許出現(xiàn)的特別應用場景，調試時可以通過CubeIDE配置關閉其異常捕獲。

相比其它IDE，STM32CubeIDE在這個地方顯得更為方便些。我們只需基于調試環(huán)境做簡單的勾選即完成修改，每次程序啟動時即生效，在IAR、ARM MDK環(huán)境下往往需要事先添加用戶代碼修改SCB->CCR寄存器內容。

講到這里，我要特別提醒下，對于除以0事件或對齊事件的捕獲與否，最終取決于用戶代碼。

STM32CubeIDE只是在調試狀態(tài)下根據(jù)配置修改了相關控制寄存器位，不等于用戶代碼對其做了修改。

前面提過，除以0事件相關寄存器控制位復位后默認值為0，即默認不觸發(fā)除以0異常。如果說CubeIDE的調試配置跟其芯片復位后默認值一致倒沒什么，如果CubeIDE里的調試配置是使能除以0異常的捕獲，而在用戶代碼里卻沒有相應實現(xiàn)代碼，這時代碼運行若有除以0事件，調試時自然可以發(fā)現(xiàn)，但全速運行時還是不會觸發(fā)異?！敬藭r代碼運行脫離了調試組件】。所以，要保證全速運行時也能對除以0事件進行異常捕獲，我們終究還得在用戶代碼里對SCB->CCR寄存器的DIV_0_TRP位進行置位。

STM32CubeIDE這里的調試配置為我們提供了方便，同時個人認為其默認的調試配置也是合理的，畢竟并非所有人都知道芯片復位后默認除以0事件不觸發(fā)異常，當然，一般來講編譯時會有警告。