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某產(chǎn)品敏感源頭電容濾波解決輻射抗擾度案例

EMC容冠電磁 ? 來源:EMC容冠電磁 ? 作者:EMC容冠電磁 ? 2022-10-10 09:05 ? 次閱讀
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某產(chǎn)品敏感源頭電容濾波解決輻射抗擾度案例

西安容冠電磁科技有限公司 桃花島主

1

問題描述

某機(jī)載平板電腦(見圖1)在進(jìn)行RS103 200V/m電磁場輻射抗擾度實(shí)驗(yàn)時(shí),產(chǎn)品在150MHz-300MHz頻段出現(xiàn)屏幕回退現(xiàn)象,即從正常顯示回退到操作界面,如圖2所示。

pYYBAGNDbZyATZseAAEJD233yss938.png

圖1 正常放映

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圖2 屏幕回退

2

故障診斷

打開機(jī)殼,產(chǎn)品后蓋為金屬外殼,顯示屏為非屏蔽普通觸摸屏,另為手持設(shè)備采用電池供電,無I/O接口線纜。初步懷疑電磁場輻射通過屏幕開口耦合到內(nèi)部電路。產(chǎn)品由顯示屏、主板、觸摸屏、按鍵板四部分構(gòu)成,其中,按鍵板、以太網(wǎng)USB接口與主板都通過排線連接,長度在100mm以上,在排線上加扁平鐵氧體磁環(huán)排查,如圖3所示。

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圖3 排線加扁平磁環(huán)

當(dāng)按鍵排線和以太網(wǎng)USB排線加扁平鐵氧體磁環(huán)后,再次測試電磁場輻射抗擾度,試驗(yàn)通過。初步確認(rèn)為排線耦合的干擾導(dǎo)致問題。

進(jìn)一步確認(rèn),拔掉按鍵排線,同時(shí)去掉以太網(wǎng)排線磁環(huán),再次進(jìn)行200V/m電磁場輻射抗擾度試驗(yàn),此時(shí)產(chǎn)品工作正常,如圖4所示。反之,當(dāng)拔掉以太網(wǎng)排線插上按鍵排線時(shí),抗擾度問題復(fù)現(xiàn),因此,確認(rèn)為按鍵排線受到輻射干擾導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)輻射抗擾度問題。

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圖4 拔掉按鍵排線

使用EMS抗干擾診斷整改系統(tǒng)(容冠電磁)進(jìn)行診斷,連接好脈沖發(fā)生器和磁場探頭,在芯片(核心板)各管腳注入磁場干擾,如圖5所示。當(dāng)探頭置于核心板左側(cè)部分時(shí),此時(shí)故障會(huì)偶爾復(fù)現(xiàn),如圖6所示。

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圖5 磁場注入

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圖6 核心板敏感部位

將探頭換成針式探頭,如圖7所示。直接在確認(rèn)的核心板敏感部位對(duì)核心板芯片各管腳注入電磁干擾,如圖8所示,當(dāng)探頭置于按鍵各管腳時(shí),此時(shí)故障可以復(fù)現(xiàn),因此確認(rèn)按鍵信號(hào)受到干擾。

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圖7 針式探頭

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圖8 使用針式探頭直接注入

3

原因分析

按鍵信號(hào)電路流程如圖9所示。

poYBAGNDblqABuKcAABVpUcrBb4310.png

圖9 按鍵信號(hào)流程

按鍵板主要是控制音量加減、返回、菜單、主頁;核心板內(nèi)部包含處理器,提供屏幕顯示、數(shù)據(jù)處理等功能,類似手機(jī)主板。因此,按鍵排線耦合的干擾,可以直接進(jìn)入核心板,干擾處理器。

查看按鍵板和主板原理圖中的按鍵信號(hào),分別如圖10和圖11所示,從圖中可以看出,按鍵信號(hào)從按鍵板經(jīng)過排線進(jìn)入主板,然后到核心板按鍵管腳,整個(gè)鏈路沒有任何電磁干擾濾波措施,那么,按鍵排線耦合的電磁場輻射干擾,可以直接通過排線到達(dá)核心板處理器,從而引起電磁干擾問題。

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圖10 按鍵板按鍵信號(hào)

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圖11 主板按鍵信號(hào)

4

整改措施

根據(jù)以上分析,考慮到產(chǎn)品在150MHz-300MHz頻段受到干擾,因此,在芯片按鍵管腳焊接330pF濾波電容,其諧振頻率大約在300MHz,如圖12所示。

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圖12 核心板按鍵管腳加330pF電容濾波

整改后再次使用E1抗擾度診斷整改系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證,此時(shí)在敏感信號(hào)管腳注入電磁干擾,屏幕回退問題不再復(fù)現(xiàn)。

5

實(shí)踐效果

將產(chǎn)品拿到標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行200V/m電磁場輻射抗擾度試驗(yàn),此時(shí)產(chǎn)品在整個(gè)頻段工作正常,實(shí)驗(yàn)通過。

【島主點(diǎn)評(píng)/點(diǎn)睛】

產(chǎn)品I/O接口是EMC測試的重點(diǎn)考察對(duì)象,也是很多產(chǎn)品EMC問題的罪魁禍?zhǔn)祝敛豢鋸埖恼f,產(chǎn)品EMC成也I/O接口敗也I/O接口,然雪上加霜的是,目前很多處理器出現(xiàn)了直通I/O的信號(hào),使得產(chǎn)品EMC問題更加復(fù)雜化,嗚呼,還讓工程師活不活!本案例產(chǎn)品輻射抗擾度問題,經(jīng)過縝密的診斷和分析,為I/O信號(hào)線耦合電磁干擾進(jìn)入處理器所致,后通過在處理器端I/O信號(hào)加電容濾波成功化解。本文的方法和思路,如同暗夜里的一道光芒,不啻給此類問題的解決指引了方向,聽君撥云見日,頓感茅塞頓開。


審核編輯 黃昊宇

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