寫在前面

“卓越品質”既是艾為對客戶的承諾，也是艾為的品牌自尊心。艾為芯的以“質”取勝既離不開靠譜的艾為人，也少不了給芯片質量設置多重考驗的一系列專業(yè)設備。艾為可靠性實驗室就是讓芯片“有質量保障”的重要一環(huán)。在這里，各類艾為芯都將通過最嚴苛的測試才能最終真正走向市場。

艾為可靠性實驗室位于艾為集成電路技術實驗中心一期，目前已通過中國合格評定國家認可委員會（CNAS）認可評定（戳此回顧詳情：【新聞】國家級認證加持！艾為實驗中心獲CNAS認可證書）和 ESD20.20認證，具備規(guī)范的質量管理體系、完善的ESD防護以及智能的ESD監(jiān)測系統(tǒng)，測試技術能力等方面達到ISO/IEC 17025國際標準水平，具備AEC-Q系列項目驗證能力，可滿足對汽車、工業(yè)和消費類電子產(chǎn)品進行加速環(huán)境應力實驗、機械應力模擬實驗、加速壽命模擬實驗、功能驗證等可靠性實驗的需求。

ESD20.20認證證書

為嚴格保障艾為產(chǎn)品的質量，艾為可靠性實驗室依據(jù)JEDEC、AEC-Q、MIL標準，以及客戶的特殊要求，制定艾為產(chǎn)品驗證規(guī)范，以ISO17025與ESD20.20標準管理實驗室，實現(xiàn)系統(tǒng)規(guī)范化管理，提高實驗室工作效率，保障實驗結果的準確性。在產(chǎn)品開發(fā)及量產(chǎn)階段，進行全面的可靠性驗證以及季度監(jiān)控驗證。

可靠性項目流程

廠務系統(tǒng)，高低壓能源、UPS能源供應以及溫濕度、純水和PCW冷卻水等八個控制系統(tǒng)進行管理控制，具備自動化控制、實時監(jiān)控、報警、數(shù)據(jù)記錄等功能。

ESD監(jiān)測系統(tǒng)，實時監(jiān)測工作臺面電阻、接地電阻、人員防靜電手環(huán)佩戴情況等，如有監(jiān)測值超標或人員操作不規(guī)范，會及時紅燈警示、蜂鳴提醒，并將數(shù)據(jù)傳輸至中控監(jiān)測系統(tǒng)。

靜電防護工作臺及離子風機

為了更加系統(tǒng)、智能、高效地管理可靠性實驗區(qū)域的實驗設備，艾為人主導開發(fā)了實驗室設備管理系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以全方位監(jiān)視各個設備的運行狀態(tài)，還可以進行遠程啟動或停止設備，設定溫濕度等操作。同時包括了實驗記錄匯總、設備校準信息匯總、設備維護信息匯總等功能，并將全方位的信息匯集在大屏幕上展示，方便實驗室人員或參觀客戶能夠直觀感受實驗室的工作狀態(tài)。

為保證帶電可靠性實驗的真實性和有效性，艾為人主導開發(fā)了電源監(jiān)測系統(tǒng)，用來監(jiān)測實驗過程中產(chǎn)品的工作狀態(tài)，能夠第一時間發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品異常的工作狀態(tài)，大幅度提高異常問題排查和失效分析效率。

電源監(jiān)測系統(tǒng)

目前，艾為可靠性實驗室共配置70余臺實驗設備和10余臺業(yè)內(nèi)頂尖自動化測試設備，包括但不限于高低溫濕熱試驗箱、高加速壽命試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、分立器件功率老化系統(tǒng)、回流焊爐等，還具備領先行業(yè)內(nèi)的ADVANTEST V93000、Chroma 3380P和NI STS T4M2等測試設備，均為國內(nèi)外業(yè)內(nèi)知名品牌。

更高的產(chǎn)品驗證覆蓋率

許多廠商會按照族（family）的概念將產(chǎn)品進行劃分，同族產(chǎn)品只需選擇1~2個進行驗證即可，雖然符合JEDEC標準，但這遠遠達不到艾為人對產(chǎn)品質量的極致追求，為保證產(chǎn)品可靠性，艾為產(chǎn)品帶電可靠性和封裝可靠性是每款產(chǎn)品均進行，每款產(chǎn)品均出具獨立的可靠性驗證報告，并未按照產(chǎn)品族概念進行省略簡化。與此同時，為提升產(chǎn)品可靠性驗證覆蓋率，實驗室配置了多臺多功能老化設備，使產(chǎn)品可在老化狀態(tài)下進行多種工作模式的遍歷。

更多的產(chǎn)品驗證項目和抽樣數(shù)量

大多數(shù)廠商對于產(chǎn)品可靠性僅關注常規(guī)的可靠性驗證項目，而艾為產(chǎn)品會對齊客戶需求和標準，加入溫度沖擊（TS）和功率溫度循環(huán)（PTC）等實驗，更好的保障產(chǎn)品可靠性。對于抽樣數(shù)量，部分實驗項目如高溫存儲（HTSL）、偏壓高加速應力（BHAST）、溫濕度偏壓（THB）等實驗，主流客戶按照JEDEC標準提出的抽樣數(shù)量為3lots/25pcs，而艾為人對自己的產(chǎn)品抽樣數(shù)量要求提高至3lots/77pcs，整體的產(chǎn)品實驗數(shù)量相當于行業(yè)標準3倍還要多，足以說明艾為人對自己產(chǎn)品的自信心。

更高要求的板級應力驗證規(guī)范

主流廠商對于WLCSP及Fan-out產(chǎn)品的封裝可靠性驗證大部分采用芯片級（Die Level）驗證，而艾為WLCSP產(chǎn)品及Fan-out產(chǎn)品封裝可靠性驗證采用板級（Board Level）驗證，實驗條件更嚴苛，對芯片封裝可靠性要求更高，以保證客戶應用可靠性。

明年，艾為可靠性實驗室預計對偏壓高加速應力實驗（BHAST）、溫度沖擊實驗（TS）、低溫工作壽命實驗（LTOL）、早夭壽命失效實驗（ELFR）、功率溫度循環(huán)實驗（PTC）、跌落實驗（DT）和易焊性實驗（SD）7個項目進行CNAS擴項申請。與此同時，實驗中心失效分析（FA）實驗室也正式啟動建設，位于臨港的專業(yè)車規(guī)級可靠性實驗室也完成設計、規(guī)劃，在繼續(xù)擴大硬件規(guī)模、持續(xù)提升管理水平、夯實可靠性技術，通過高集成度、全自動化的管理運營模式和高專業(yè)度的可靠性技術能力，為艾為電子產(chǎn)品的品質保駕護航，為客戶提供更優(yōu)質的服務和品質。