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高速電路中串?dāng)_引發(fā)的損耗問(wèn)題

信號(hào)完整性 ? 來(lái)源:信號(hào)完整性 ? 作者: 蔣修國(guó) ? 2022-10-25 09:15 ? 次閱讀
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編者注:本文內(nèi)容看似簡(jiǎn)單,但是簡(jiǎn)單結(jié)果的背后卻隱藏著很多深層次的問(wèn)題,歡迎大家給出你們的答案。此類問(wèn)題在多個(gè)行業(yè)產(chǎn)品當(dāng)中常常會(huì)出現(xiàn)。

隨著信號(hào)速率的提升,以及小型化產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì),如何減小串?dāng)_變得越來(lái)越棘手。眾所周知,串?dāng)_與很多因素有關(guān)系,比如傳輸線之間的間距,傳輸線耦合的長(zhǎng)度,攻擊信號(hào)的上升時(shí)間,阻抗不連續(xù)等等。因?yàn)榇當(dāng)_問(wèn)題比較復(fù)雜,要是解決不好,還有可能會(huì)影響到其它信號(hào)完整性的問(wèn)題。

今天給大家分享一個(gè)串?dāng)_引發(fā)損耗變大的問(wèn)題。這類問(wèn)題經(jīng)常出現(xiàn)在小型化的產(chǎn)品、連接器、線纜等產(chǎn)品中。

首先在ADS原理圖中搭建一個(gè)仿真電路,掃描仿真間距為11mil和60mil兩種情況。

adb04efc-53af-11ed-a3b6-dac502259ad0.jpg

運(yùn)行仿真之后查看插入損耗的結(jié)果:

ade9789e-53af-11ed-a3b6-dac502259ad0.jpg

Disable電路圖上的R1和R2:

ae0ffc8a-53af-11ed-a3b6-dac502259ad0.jpg

仿真如下圖所示:

ae2ffd6e-53af-11ed-a3b6-dac502259ad0.jpg

從結(jié)果上分析來(lái)看,去掉電阻后,距離為60mil時(shí),結(jié)果幾乎沒(méi)有變化,但是間距為11mil時(shí),結(jié)果卻完全不一致,產(chǎn)生了三個(gè)非常大的諧振點(diǎn)。這就足以導(dǎo)致產(chǎn)品不滿足設(shè)計(jì)的要求。

從上面仿真結(jié)果中,我們可以看到解決這個(gè)問(wèn)題有兩個(gè)非常便捷常用的方式,要么拉大距離、要么做好端接。大家可以相互討論下有沒(méi)有其它的解決方案呢?答案肯定是有的,大家可以多多討論下。

審核編輯:湯梓紅

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原文標(biāo)題:【干貨】高速電路中串?dāng)_引發(fā)的損耗問(wèn)題

文章出處:【微信號(hào):SI_PI_EMC,微信公眾號(hào):信號(hào)完整性】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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