一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PCBA失效分析

新陽檢測中心 ? 來源:新陽檢測中心 ? 作者:新陽檢測中心 ? 2022-11-09 08:59 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

案例背景

PCBA元器件發(fā)生脫落現(xiàn)象,據(jù)此進(jìn)行試驗(yàn)分析,查找失效原因。

#1樣品BGA脫落;#2樣品BGA有微裂紋(未偏位);#3樣品FPC空板(未貼裝器件)。

分析過程

#1樣品

3bee711b04384721b5b1623b9ebfe07c~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=7sd48Fsuv0CVgNBUTzD2ZN1%2B%2BoI%3D

#1樣品外觀圖

剝離面分析

SEM剝離面形貌分析

bc13fa20d13847b3a62a4bf72503e96d~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=cypg1cExvW5fujDrpD67qNVrROs%3D

#1-1:

d5c1dbd5400f4e0ea3f423e7a0a2fdaa~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=G2clTI2NB9PV44sBkdlu7vhiatQ%3D

8033ea349e9a497f8f17f0dc1626eaaa~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=yzZANPzG0T%2FiyUb3iEj2aJbn7nQ%3D

#1-2:

78fb5f417d5447c2b206908612a01b67~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=TabEAQafFCo%2BdGhR0GwNzJofTsk%3D

9dedfa5dfc2048f38a0d366c99bbfc37~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=7BA0ww%2BuorWtOq8yAmPmJOzOtLw%3D

說明:從表面殘留焊錫及斷面狀態(tài)分析,存在有河流花樣及解理臺階,判斷其為解理斷裂,即脆性斷裂。

EDS成分分析

d1a2da6943db4e8cb45e5eeaf1802e03~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=rU42K0ggmbZ4tkUlOYThBkXUzgQ%3D

9cf98b52b9c54261bdb8be34f18252d2~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=s%2FhYnWhNh3pGJswzsDfI4N%2BNoVQ%3D

b033137e77794d9b907c6995467c3b0b~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=SMfCaq2UaWcIeUfY6a8xTv4WBNA%3D

說明: 對#1-1焊盤進(jìn)行EDS分析,主要檢出Sn、Ni、P、Cu元素,其中P含量高達(dá)15%左右。

ec770e686efe42b4b83117bb0ee9b857~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=tzUUzbVF0PgjCVNIiZFzaAytUOk%3D

PCB鍍層的分析

PCB鍍層(Pd鈀)的分析:選取邦定芯片的一個pin位置,采用化學(xué)褪金后觀察Pd表面的晶格狀態(tài)。

bec45c189e2b456588355961225114ca~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=O0%2BzeLjAchzYE1wPWwU47jA2C1k%3D

0781a1ce01ab42eeb5a317419395bfb6~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=wF54G2ERC6ji3Qhk2VvzpfzUee4%3D

說明:#1樣品褪金后Pb層的晶格狀態(tài)分析:晶格致密、平整,晶粒間無空洞或縫隙,無異常。

#2樣品

297ae222a2b04a88b3b1cade0ec8a506~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=HyNh4lrT0piC4WUYATBd1Ir%2FwCU%3D

#2樣品外觀圖

1.外觀分析

7fb1e9940c3c460aa264b35444a3007b~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=M4oqh7x5lkqLZ9orgkUf%2Bh759ug%3D

#整體圖示

ba4ee5c2efda46669330b6f24a8e906f~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=VBfERNBovtIqOIe92OAi6Oc0zqc%3D

2-1號焊點(diǎn)

44818843bc2a4d54bcd80cac02ae5a29~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=GnAoBXNP7G9n%2B%2BGdDMa43NB5L8U%3D

2-4號焊點(diǎn)

f35a9b048531476e86f30b6747a58864~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=K2NSP19h%2BVoelFCUxiGybJFB8bw%3D

3-1號焊點(diǎn)

說明:#2樣品上側(cè)(靠近玻璃芯片處)的焊球(①、③)與基板起翹分離。②、④焊球未見明顯異常。

2.斷面分析

金相分析

0ee55c2cdd1e41d4a504b562c3a17104~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=b7HI40aZ4LO3lH0laUveqXDCBH4%3D

9e30baf6f54d4b38915f376edf5381bf~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=dKhStc%2FjSMAyqoaERIATjlcP9JY%3D

說明: #2樣品的①、②焊點(diǎn)切片斷面金相分析,焊點(diǎn)① 焊球與焊盤開裂,呈分離狀態(tài),開裂縫隙由外向內(nèi)(芯片端→PCB邊緣端)變小。

SEM分析

#焊點(diǎn)①斷裂兩側(cè)狀態(tài)分析

2a6b9486ee3a4b079695f33f8d56b2ba~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=CUJGeFxiYK0un2gaIkFyAF4OgGo%3D

f5e125d7b59149508518785bf7329b0c~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=Sl7Vmp6iPcQjNqQKdVnVBsvHUeM%3D

5b62e4124ee148708301064d29087b32~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=3rshz82b1%2F6HRyWcmyraKFh9%2BOU%3D

說明:焊盤為SMD類型,從焊點(diǎn)兩側(cè)斷裂狀態(tài)可見,存在焊錫受阻焊膜壓迫形成臺階現(xiàn)象,以及焊錫與阻焊膜之間存在應(yīng)力殘留的結(jié)構(gòu)特征。兩邊緣開裂位置基本都在富磷層。

小課堂:BGA焊盤兩種定義方式

4d892efcb2944aef8e763870911e0de1~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=aYFfYglalsGmGfj4E6AbzG2F20Q%3D

1.阻膜定義(SMD):

焊盤的尺寸要比非阻焊掩膜大,再流焊接后,熔化的焊料球接觸阻焊掩膜。

主要問題是由SMD焊點(diǎn)產(chǎn)生的應(yīng)力集中,這是造成焊點(diǎn)失效及可靠性變?nèi)醯钠鹨颉?/p>

259c82dfe38f4679ac281a755a1d56d2~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=m5AGHllngYmipTFtrk8pyaIq5vU%3D

2.非阻焊定義(NSMD):

掩膜的開口要比銅箔焊盤大,所以在再流之后,焊料球不會接觸阻焊掩膜。

#焊點(diǎn)②焊接狀態(tài)分析:

998316c23ac4479f99c09efb577a82f2~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=NrQQWSepML7bgOzQ9nnkrSh8SIw%3D

af1038656af24769b533bd1659a0b613~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=n%2BhCqOD6uQ4AxMRUmI59abQfzCA%3D

919ba220a3aa437fbffc471381ce25fd~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=7xjoKISv2bgg595N4cAucE1WUAE%3D

說明:#2樣品的焊點(diǎn)②狀態(tài)良好,IMC層連續(xù)、均勻,平均厚度為1.58μm,富磷層0.17um。

EDS成分分析

db70c6d457a64294a63e6159c181d0a6~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=y9RVS8v3QvBVG72yltZOE9W8X7c%3D

說明: 對焊點(diǎn)①進(jìn)行EDS分析,主要檢出Sn、Ni、P、Cu元素,其中富磷層P含量在10.5%左右,Ni層P含量在8.5%左右。

ef0d36e822664628bac861515d8b63cf~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=KD3QANv5pDF%2BUG6hBh8L5VCkSJQ%3D

#3樣品

Ni/Pd/Au鍍層厚度分析

4bbf22f824bc46a9906ee460926c2248~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=JXZCx9wOKt4fSQ2xa9e15nE%2B5ug%3D

#Ni/Pd/Au厚度:

65493e106b704ce198419a515f752286~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=JrPirax5JBSQXvc4FAY82nAxtGA%3D

注:厚度單位為μm。

說明:從上記檢測結(jié)果可見:Au平均厚度:0.0925um;Pd平均厚度:0.0875um;Ni平均厚度:6.275um。

鎳鈀金工藝鍍層Au、Pd厚度一般要求在0.08μm左右,上記結(jié)果符合要求。

分析結(jié)果

綜合以上檢測信息,針對BGA焊點(diǎn)裂紋失效解析如下:

1. 通過對#1樣品BGA剝離后的斷口分析,有明顯的脆性斷裂特征(平整、河流花樣、解理臺階),說明該斷裂是由應(yīng)力導(dǎo)致的瞬時沖擊形成(原始狀態(tài))。

0eb2691a7d89406b9f6e3432fc6bf9cb~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=SuFT2r1iDc1TIUqy7FwE9fL8%2Fuw%3D

9bdfcffa28bc4d3ca04d1049f4883491~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=kxJJAXqmsaf%2B%2BKx5RQbi%2B6fhiqw%3D

2.通過對剝離面的EDS分析,P含量高達(dá)15%左右(#1樣),切片斷面的分析,富磷層的P含量在10.5%左右(#2樣),說明斷裂位置部分處于富磷層。

3.通過切片斷面的分析,斷裂界面出現(xiàn)在IMC層及富磷層,斷裂裂紋為上下契合狀,進(jìn)一步說明了焊點(diǎn)是受到應(yīng)力導(dǎo)致斷裂。同時,F(xiàn)PC采用SMD焊盤結(jié)構(gòu),焊盤上覆蓋的阻焊膜使BGA焊點(diǎn)與阻焊膜接觸的位置形成了應(yīng)力集中點(diǎn)(同時也可能有焊接時的應(yīng)力殘留未釋放),在受到外部應(yīng)力作用時,該位置易被突破。

ebb55556f98b48379866ab6b5ff0280a~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=oPKrykybNpERFP%2BH8D%2BOsHjqzlU%3D

f7b4688a29d145739edf999bef816635~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1668559743&x-signature=ZFGXhQqDa9av7msjja5%2FRJxeGwg%3D

分析結(jié)論:根據(jù)以上綜合分析,造成焊點(diǎn)斷裂的原因判斷為,F(xiàn)PC受到應(yīng)力作用,同時BGA焊點(diǎn)位置由于SMD焊盤設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)有應(yīng)力集中的缺陷,從而造成BGA在受到一定程度的應(yīng)力后出現(xiàn)裂紋失效。

改善方案

結(jié)合樣品的工藝流程分析,初步推斷超聲清洗工程可能存在應(yīng)力作用。BGA類產(chǎn)品,對應(yīng)力作用比較敏感。

FPC清洗時,BGA所處的不同深度、不同位置受到的應(yīng)力作用可能不同。建議從超聲清洗工藝進(jìn)行驗(yàn)證排查,找到合適的清洗條件(頻率、溫度)。

新陽檢測中心有話說:

本篇文章介紹了PCBA失效分析案例。如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

新陽檢測中心將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評價(jià)、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識,點(diǎn)擊關(guān)注獲取更多知識分享與資訊信息。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 元器件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    113

    文章

    4835

    瀏覽量

    95142
  • 失效分析
    +關(guān)注

    關(guān)注

    18

    文章

    231

    瀏覽量

    67008
  • PCBA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    24

    文章

    1754

    瀏覽量

    53818
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    芯片失效步驟及其失效難題分析!

    芯片失效分析的主要步驟芯片開封:去除IC封膠,同時保持芯片功能的完整無損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下一步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)
    的頭像 發(fā)表于 07-11 10:01 ?1449次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>失效</b>步驟及其<b class='flag-5'>失效</b>難題<b class='flag-5'>分析</b>!

    淺談封裝材料失效分析

    在電子封裝領(lǐng)域,各類材料因特性與應(yīng)用場景不同,失效模式和分析檢測方法也各有差異。
    的頭像 發(fā)表于 07-09 09:40 ?472次閱讀

    元器件失效分析有哪些方法?

    失效分析的定義與目標(biāo)失效分析是對失效電子元器件進(jìn)行診斷的過程。其核心目標(biāo)是確定失效模式和
    的頭像 發(fā)表于 05-08 14:30 ?340次閱讀
    元器件<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>有哪些方法?

    電子元器件失效分析與典型案例(全彩版)

    本資料共分兩篇,第一篇為基礎(chǔ)篇,主要介紹了電子元器件失效分析基本概念、程序、技術(shù)及儀器設(shè)備;第二篇為案例篇,主要介紹了九類元器件的失效特點(diǎn)、失效模式和
    發(fā)表于 04-10 17:43

    封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備

    本文首先介紹了器件失效的定義、分類和失效機(jī)理的統(tǒng)計(jì),然后詳細(xì)介紹了封裝失效分析的流程、方法及設(shè)備。
    的頭像 發(fā)表于 03-13 14:45 ?881次閱讀
    封裝<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>的流程、方法及設(shè)備

    芯片失效分析的方法和流程

    ? 本文介紹了芯片失效分析的方法和流程,舉例了典型失效案例流程,總結(jié)了芯片失效分析關(guān)鍵技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)和對策,并總結(jié)了芯片
    的頭像 發(fā)表于 02-19 09:44 ?1194次閱讀

    PCB及PCBA失效分析的流程與方法

    PCB失效分析:步驟與技術(shù)作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~PCB(PrintedCircuitBoard,印刷電路板)已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定
    的頭像 發(fā)表于 01-20 17:47 ?841次閱讀
    PCB及<b class='flag-5'>PCBA</b><b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>的流程與方法

    如何有效地開展EBSD失效分析

    失效分析的重要性失效分析其核心任務(wù)是探究產(chǎn)品或構(gòu)件在服役過程中出現(xiàn)的各種失效形式。這些失效形式涵
    的頭像 發(fā)表于 01-09 11:01 ?554次閱讀
    如何有效地開展EBSD<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    PCBA三防漆工藝腐蝕失效分析

    的使用壽命。狹義的三防通常是指防濕熱、防腐蝕(包括鹽霧、酸堿腐蝕性液體、腐蝕性氣體、防電化學(xué)遷移)、防霉菌,事實(shí)上三防還包括各種環(huán)境應(yīng)力保護(hù),如防震、防塵、防輻射、防靜電、防鼠傷等,以確保PCBA不會因保護(hù)不當(dāng)而失效,從而延長產(chǎn)品的使用壽命。
    的頭像 發(fā)表于 01-06 18:12 ?574次閱讀

    電動工具的失效模式分析

    常見的失效模式及分析
    發(fā)表于 12-30 14:13 ?0次下載

    EBSD失效分析策略

    材料失效分析在材料科學(xué)和工程實(shí)踐中,失效分析扮演著至關(guān)重要的角色,它致力于探究產(chǎn)品或構(gòu)件在實(shí)際使用過程中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象。這些現(xiàn)象可能表現(xiàn)為由
    的頭像 發(fā)表于 12-24 11:29 ?672次閱讀
    EBSD<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>策略

    材料失效分析方法匯總

    材料故障診斷學(xué):失效分析技術(shù)失效分析技術(shù),作為材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)的關(guān)鍵分支,致力于運(yùn)用科學(xué)方法論來識別、分析并解決材料與產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用過程中出現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 12-03 12:17 ?847次閱讀
    材料<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>方法匯總

    電阻失效分析報(bào)告

    電阻失效分析報(bào)告
    的頭像 發(fā)表于 11-03 10:42 ?829次閱讀

    貼片電阻銀遷移失效分析

    貼片電阻銀遷移失效分析
    的頭像 發(fā)表于 10-27 10:33 ?1480次閱讀
    貼片電阻銀遷移<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    貼片電容MLCC失效分析----案例分析

    貼片電容MLCC失效分析----案例分析
    的頭像 發(fā)表于 10-25 15:42 ?1789次閱讀
    貼片電容MLCC<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>----案例<b class='flag-5'>分析</b>