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是德E4980阻抗分析儀在材料測試中的應(yīng)用

agitek2021 ? 來源:agitek2021 ? 作者:agitek2021 agitek2021 ? 2022-11-17 18:09 ? 次閱讀
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新材料與信息工程、能源工程及生物工程并列為當(dāng)今世界上新技術(shù)革命的四大支柱。材料的發(fā)展在一定程度上反映了一個(gè)時(shí)代的生產(chǎn)力發(fā)展水平,它的品種、產(chǎn)量和質(zhì)量情況是衡量一個(gè)國家科學(xué)技術(shù)與經(jīng)濟(jì)發(fā)展水平的一個(gè)重要標(biāo)志。電子材料的發(fā)展在整個(gè)電子科技領(lǐng)域中總是處于最前沿的,它是電子工業(yè)和電子科學(xué)技術(shù)發(fā)展的物質(zhì)基礎(chǔ),是電子技術(shù)進(jìn)步的原動(dòng)力。這不僅表現(xiàn)在電子產(chǎn)品的性能直接依賴于電子材料的特性,還表現(xiàn)在新型電子材料的開發(fā)能促進(jìn)許多新型電子元器件的發(fā)展。

各行各業(yè)都需要對(duì)它們所用的材料有非常清晰的了解(圖1),以便縮短設(shè)計(jì)、進(jìn)廠檢驗(yàn)、流程檢測和質(zhì)量保證等階段所花費(fèi)的時(shí)間。每種材料都具有一些獨(dú)特的電氣特征,與介電特性有關(guān)。通過對(duì)介電特性進(jìn)行精確測量,科技人員和工程師能夠獲得寶貴的信息,從而在具體應(yīng)用中恰當(dāng)?shù)剡\(yùn)用這些材料,創(chuàng)造更可靠的設(shè)計(jì)或監(jiān)測生產(chǎn)流程,改進(jìn)質(zhì)量控制。

介電材料測量可以為許多電子應(yīng)用提供關(guān)鍵設(shè)計(jì)參數(shù)信息。電纜絕緣體損耗、基片阻抗或介質(zhì)諧振器頻率都與材料介電特性有關(guān)。信息也有助于改進(jìn)鐵氧體、吸收器和封裝設(shè)計(jì)。通過充分認(rèn)識(shí)介電特性,汽車、食品和醫(yī)藥行業(yè)中的最新應(yīng)用也獲益匪淺。

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針對(duì)不同外形尺寸、電氣參數(shù)、物理狀態(tài)和使用頻段的介質(zhì)材料,需要有對(duì)應(yīng)的測試測量方法、測試夾具、分析計(jì)算方法。是德科技提供多種儀器、夾具和軟件,用于測量液體、固體材料的介電常數(shù)/磁導(dǎo)率。是德科技測量儀器(例如網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀和LCR表)能夠覆蓋最高1.1THz的頻率范圍,并提供夾持被測材料(MUT)的夾具,分別適用于同軸探頭法、平行板法、同軸/波導(dǎo)傳輸線法、自由空間法和諧振腔法。

二、材料電磁特性測量

1、平行板法

通過在兩個(gè)電極之間插入一個(gè)材料或液體薄片組成電容器,然后測量其電容,根據(jù)測量結(jié)果計(jì)算介電常數(shù),見圖2;平行板用到的分銷LCR表及夾具見圖3。

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圖 2 平行板法測量原理

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圖 3 平行板用到的分銷LCR表和夾具

平行板法的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)總結(jié)如下:

2、同軸探頭法

同軸探頭是傳輸線截?cái)嗪蟮囊徊糠帧Mㄟ^將探頭浸入液體或用其接觸固體(或粉末)材料的平坦表面,對(duì)材料進(jìn)行測量。探頭上的場將"邊緣"送入材料中,隨著它們與被測材料的接觸而緩慢發(fā)生變化(圖4)。反射信號(hào)5(S11)可以通過測量得到,它與εr*有關(guān)。使用同軸探頭法的典型測量系統(tǒng)是由網(wǎng)絡(luò)分析儀或阻抗分析儀以及同軸探頭和軟件組成。軟件和探頭均包含在N1501A(原85070E)介電探頭套件中。如果使用FieldFox手持表做網(wǎng)分,還需要使用外部計(jì)算機(jī)通過GPIB接口控制Fieldfox網(wǎng)絡(luò)分析儀,82357A USB至GPIB接口可以非常方便和靈活地實(shí)現(xiàn)這一連接。對(duì)于ENA系列網(wǎng)絡(luò)分析儀E5061B和E5063A,軟件能夠直接安裝到分析儀中,無需使用外部計(jì)算機(jī)。

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圖 4同軸探頭法

圖5顯示了N1501A套件提供的3個(gè)探頭;高溫探頭(a)、細(xì)長探頭(b)和高性能探頭(c)。圖中(a)為高溫探頭,右側(cè)是短路件。(b)的底部是3個(gè)細(xì)長探頭,上面為短路件,還有幾個(gè)其他附件。(c)為高性能探頭,上面是短路件。圖6是高溫探頭的實(shí)物和參數(shù)。

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圖 5 三種介電探頭配置

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圖 6 高溫探頭

同軸探頭法的優(yōu)點(diǎn)和適用范圍如下:

3、諧振腔法(分離介質(zhì)諧振器)

諧振腔法通過測量S21比較放入樣品前、后的諧振頻率,根據(jù)公式計(jì)算材料的介電常數(shù)。它能夠測量低損耗材料 (傳輸反射技術(shù)無法材料損耗較低的材料);可對(duì)基片、印刷電路板和薄膜進(jìn)行方便、快速的無損測量,因?yàn)椴恍枰厥獾臉颖局苽?,只要基片適合 SPDR 即可;可測量多層PCB板。該方法的連接示意圖和夾具見圖7。

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圖 7 諧振腔法(分離介質(zhì)諧振器)

諧振腔法的適用范圍和優(yōu)點(diǎn)如下:

4、傳輸線法

傳輸線法需要將材料置于一部分封閉的傳輸線內(nèi)部。線路通常是一段矩形波導(dǎo)或同軸空氣線 (圖 8)。εr* 和 μr* 根據(jù)反射信號(hào) (S11) 和發(fā)射信號(hào)(S21)的測量結(jié)果計(jì)算得出。對(duì)材料的要求:樣品填充到夾具橫截面中,夾具壁沒有空隙,表面平坦光滑,與長軸垂直,均勻介質(zhì)。傳輸線法的特點(diǎn)有:寬帶―最低頻率受到實(shí)際樣品長度的限制;有限的低損耗分辨率(取決于樣品長度);可測量磁性材料;使用波導(dǎo)夾具時(shí)測量各向異性材料。

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圖 8 傳輸線法

傳輸線法的優(yōu)點(diǎn)和適用范圍如下:

三、總結(jié)

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審核編輯 黃昊宇

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