安捷倫Agilent E4991A E4991B 射頻阻抗/材料分析儀

Agilent E4991A特點：
基本準確性
*基本精度+/- 0.8％

掃描參數(shù)
*頻率：1 MHz至3 GHz
*振蕩器電平：高達1 dBm / 0.5 Vrms / 10 mArms
*直流偏置電平（選件E4991A-001）：+/- 40V或+/- 50 mA

更多功能
*Windows風格的用戶界面
*內(nèi)置VBA編程功能
*通過LAN接口傳輸數(shù)據(jù)

多種測量選項
*介電/磁性材料測量（選件E4991A-002）
*可靠的晶圓上測量（選件E4991A-010）
*溫度特性測量（選件E4991A-007）

Agilent E4991A射頻阻抗/材料分析儀具有阻抗測量性能和強大的內(nèi)置分析功能。它將為評估3 GHz范圍內(nèi)元件的元件和電路設(shè)計人員提供研發(fā)創(chuàng)新。Agilent E4991A采用RF-IV技術(shù)，而不是反射測量技術(shù)，可在寬阻抗范圍內(nèi)進行更精確的阻抗測量?；咀杩咕葹?/- 0.8％。高Q精度可實現(xiàn)低損耗元件分析。內(nèi)部合成器以1 mHz的分辨率掃描1 MHz至3 GHz的頻率。

Agilent E4991A與E4991B射頻阻抗/材料分析儀，作為電子測量領(lǐng)域的杰出代表，以其卓越的性能和廣泛的應(yīng)用范圍，成為了科研實驗室、電子產(chǎn)品生產(chǎn)線以及材料科學研究不可或缺的精密儀器。這兩款分析儀采用了先進的射頻測量技術(shù)，能夠在寬廣的頻率范圍內(nèi)（通常覆蓋MHz至GHz頻段），對各類材料的阻抗特性進行高精度、高速度的測量與分析。

E4991A與E4991B不僅擁有超高的分辨率和極低的測量誤差，還配備了直觀易用的操作界面和強大的數(shù)據(jù)分析軟件，使得用戶能夠輕松應(yīng)對復雜的測量任務(wù)。無論是對于導電薄膜、半導體材料、磁性材料還是生物組織等，這兩款分析儀都能提供詳盡、準確的阻抗參數(shù)，如電阻、電容、電感以及相位角等，為材料性能評估、電路設(shè)計優(yōu)化及新產(chǎn)品研發(fā)提供堅實的數(shù)據(jù)支持。

尤為值得一提的是，Agilent E4991A與E4991B在設(shè)計上充分考慮了用戶的實際需求，提供了多種測量模式和接口選項，便于與各類測試系統(tǒng)無縫集成。此外，它們還具備出色的穩(wěn)定性和可靠性，即使在惡劣的測試環(huán)境下，也能保持出色的測量精度和重復性，確保每一次測量結(jié)果的準確性和可信度。

綜上所述，Agilent E4991A與E4991B射頻阻抗/材料分析儀以其卓越的性能、廣泛的應(yīng)用范圍以及便捷的操作體驗，成為了電子測量和材料科學研究領(lǐng)域的一顆璀璨明珠，為科研人員和企業(yè)研發(fā)團隊提供了強大的技術(shù)支持和保障。

Agilent E4991A E4991B射頻阻抗/材料分析儀，作為電子測量領(lǐng)域的佼佼者，不僅以其高精度和寬頻率范圍著稱，更因其廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域而備受推崇。從基礎(chǔ)的科研實驗到復雜的工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境，這兩款分析儀都能夠提供穩(wěn)定可靠的測量結(jié)果，成為眾多科研人員和工程師的得力助手。

在通信領(lǐng)域，Agilent E4991A E4991B分析儀能夠準確測量射頻元件的阻抗特性，為設(shè)計和優(yōu)化通信設(shè)備提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。在材料科學領(lǐng)域，它們則通過測量材料的介電常數(shù)和磁導率等參數(shù)，為新型材料的研發(fā)和應(yīng)用提供重要依據(jù)。此外，在半導體制造、醫(yī)療電子、航空航天等多個行業(yè)，這兩款分析儀也發(fā)揮著不可替代的作用。

值得一提的是，Agilent E4991A E4991B分析儀還具備強大的數(shù)據(jù)處理和分析功能。用戶可以通過內(nèi)置的軟件對數(shù)據(jù)進行快速處理，得到直觀的圖表和報告，從而更加便捷地分析和解決問題。同時，這兩款分析儀還支持多種數(shù)據(jù)接口和通信協(xié)議，方便用戶與其他設(shè)備和系統(tǒng)進行集成和數(shù)據(jù)共享。

隨著科技的不斷進步和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓展，Agilent E4991A E4991B射頻阻抗/材料分析儀將繼續(xù)發(fā)揮其重要作用，為科研和工業(yè)生產(chǎn)提供更加精準、高效的測量解決方案。相信在未來的發(fā)展中，這兩款分析儀將會迎來更加廣闊的應(yīng)用前景和更加輝煌的發(fā)展成就。

審核編輯 黃宇