隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術的發(fā)展，早已經淘汰了LRC電橋這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、數(shù)字電橋、LCR Meter等等。

電橋測試儀測量原理

Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。

HP4275的測試端Hp，Hc，Lp，Lc(下標c代表current， 下標p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。

提高精度的方法是：

1、Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT;

2、減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable小化回路面積);

3、使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果)，但是會減少信號線的互容。

Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg，Zlg) 不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。

LCR測試儀一般用于測試電感和電容。測量步驟如下：

設置測試頻率

測試電壓或者電流水平

選擇測試參數(shù)，比如Z、Q、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)、CS(串聯(lián)電容)、CP(并聯(lián)電容)、D等

儀器校準，校準主要進行開路、短路校準，的儀器要進行負載校準

選擇測試夾具

夾具補償

將DUT放在夾具上開始測試。

審核編輯黃宇