光學(xué)材料能對光學(xué)產(chǎn)品的性能產(chǎn)生舉足輕重的影響,隨著光學(xué)技術(shù)的發(fā)展,業(yè)界對材料、表面、元件和系統(tǒng)的質(zhì)量要求越來越高,甚至提出了新的需求。例如,在汽車行業(yè)中,光學(xué)元件需要高透射率和高散射率的材料,這些材料對光學(xué)系統(tǒng)的效率和外觀來說非常重要。而在天文觀測系統(tǒng)和星載系統(tǒng)中,光學(xué)元件對材料的要求可能大不相同,比如可能非??粗夭牧鲜欠衲芟拗品瓷渎什p少雜散光(點擊查看相關(guān)文章)。
從上述文字中,我們可以看到反射率、透射率、吸收率數(shù)據(jù)及BSDF(雙向散射分布函數(shù))是材料和表面特性的關(guān)鍵量化指標(biāo),在光學(xué)設(shè)計中,獲取這些精確數(shù)據(jù)可以幫助開發(fā)者在制作物理原型和進行制造之前評估材料,從而在設(shè)計階段就能對光學(xué)產(chǎn)品性能進行優(yōu)化。
為確保光學(xué)系統(tǒng)仿真獲得精確的結(jié)果,通常需要足夠精確的材料和表面特性數(shù)據(jù)。單靠幾何結(jié)構(gòu)并不能確定出光線的分布;光學(xué)屬性能夠表征能量及光的方向是如何變化的。首先我們要了解用于表征表面和材料光學(xué)特性的物理量化的指標(biāo)。
第一個量是光在角度上的分布,也稱為BSDF。BSDF描述了入射光經(jīng)過透射和/或反射后光線在角度空間中的散射分布情況。
第二個物理量是反射/透射率(R/T)。此類測量不考慮光線的具體散射情況,而是對光線照射到物體表面或材料上的全部反射或透射光線的能量進行積分。 光學(xué)測量帶來的優(yōu)勢
對物體的整體外觀進行量化很復(fù)雜,因為外觀是一個主觀的品質(zhì)。不過,外觀的某些特性可以通過光學(xué)散射測量來進行量化:
- 材料反射光的光譜分布與顏色間的關(guān)系
- 材料反射光的幾何分布與光澤間的關(guān)系
- 材料反射光的空間分布與紋理間的關(guān)系
要對外觀進行量化,需要在物理量和觀察者反應(yīng)之間建立相關(guān)性,其中觀察者的反應(yīng)通過視覺測量獲得。BSDF就是整合這些信息的物理量。新思科技REFLET和Mini-Diff產(chǎn)品可用于測量BSDF。
通過BSDF計算可以得出反射率值和透射率值,但這非常依賴于儀器的精度以及測量時的采樣或分辨率。
因此,在BSDF之外單獨測量R值/T值可以提高光學(xué)仿真的精確性。
新思科技TIS Pro是新思科技光學(xué)測量解決方案的新成員,可幫助用戶測量物體表面和材料的反射率/透射率。新思科技TIS Pro的功能是由集成在暗箱中的積分球和光譜探測器實現(xiàn)的,暗箱可以控制雜散光,用以確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
新思科技TIS Pro的工作原理
在使用新思科技 TIS Pro之前,需要先利用儀器隨附的標(biāo)準(zhǔn)樣片完成校準(zhǔn)步驟。
校準(zhǔn)完成后,便可以測量光學(xué)表面。有兩種測量配置:一種用于測量反射率(如圖1所示),其中樣本放置在積分球的中心;另一種(如圖2所示)用于測量透射率,樣本放置在入光口上。
▲圖2:新思科技TIS Pro對透射率進行測量
在指定要測量的入射角后開始測量。光源和樣本的旋轉(zhuǎn)平臺將相應(yīng)地進行旋轉(zhuǎn)。然后,新思科技TIS Pro會將光線對準(zhǔn)樣本,而光譜探測器則收集離開積分球到達指定位置的信號。新思科技TIS Pro會將該信號與校準(zhǔn)信號進行比較,然后計算反射率、透射率或吸收率。
測量結(jié)果可以導(dǎo)出到LightTools等光學(xué)軟件中用于高精度的仿真計算。 應(yīng)用領(lǐng)域
新思科技TIS Pro非常適用于評估光學(xué)系統(tǒng)中表面和材料造成的影響。測量結(jié)果可用于以下方面:
- 表征用于汽車設(shè)計或通用照明系統(tǒng)中的反射片/擴散片材料
- 對量產(chǎn)中的質(zhì)量控制進行評估
- 分析航空航天光學(xué)器件所用鍍膜對雜散光的抑制
- 測量用于視覺渲染的光譜行為
- 研究化妝品的光學(xué)特性
- 針對多個入射角進行材料表征


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原文標(biāo)題:測量材料表面,就可以提升光學(xué)設(shè)計精確度?
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