一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

微波組件細間距金絲鍵合工藝的可靠性分析

jt_rfid5 ? 來源:半導(dǎo)工程師之家 ? 2023-05-22 16:05 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

摘要:

細間距小尺寸的焊盤鍵合工藝是微波組件自動鍵合工藝面臨的關(guān)鍵技術(shù)瓶頸。針對具體產(chǎn)品,分析了細間距小尺寸焊盤的球焊鍵合的工藝控制要點,提出了改進劈刀結(jié)構(gòu)、改進焊線模式、優(yōu)化工藝參數(shù)等方面的工藝優(yōu)化手段,采用該優(yōu)化方法后,焊接的可靠性和穩(wěn)定性得到了很大的提高,達到了提升自動球焊鍵合質(zhì)量和提高金絲鍵合工藝精度的目的。

0引言

金絲鍵合是實現(xiàn)微波多芯片組件電氣互聯(lián)的關(guān)鍵技術(shù),自動金絲鍵合具有速度快、一致性好、電氣性能穩(wěn)定等優(yōu)點,在微波毫米波領(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。然而,隨著電子封裝產(chǎn)能和生產(chǎn)精度的提升,產(chǎn)品設(shè)計精度已經(jīng)逼近自動化設(shè)備的工藝極限,這對金絲鍵合提出了更高的工藝要求。其中,細間距小尺寸焊盤的鍵合是金絲鍵合需要突破的重要工藝難題[1]。

目前有90%左右的電子器件采用球焊鍵合工藝(如圖1所示),球焊工藝是針對直流、數(shù)字電路鍵合的首選工藝[2-3]。通常情況下,微波電路鍵合采用的金絲直徑為25μm,而球焊鍵合點尺寸可達到65~80μm [4],基于此,芯片焊盤的設(shè)計尺寸一般為100μm以上,以滿足鍵合點完全落在焊盤內(nèi)的要求,如圖2所示。然而,隨著芯片設(shè)計不斷朝著小型化、高密度方向發(fā)展,芯片焊盤尺寸越來越小,互聯(lián)密度越來越高。在某產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中使用的FPGA(Field-programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)芯片,其金絲鍵合的焊盤尺寸為55μm,焊盤間距為15μm,在這種情況下,焊盤尺寸和焊盤間距遠小于普通芯片的尺寸,極易導(dǎo)致焊點超出鍵合焊盤而造成短路。

b16728be-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

b17fac22-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

本文結(jié)合具體產(chǎn)品,分析細間距小尺寸焊盤的球焊鍵合的難點,改進劈刀結(jié)構(gòu)、優(yōu)化工藝參數(shù)、改進焊線模式,實現(xiàn)細間距小尺寸焊盤的自動球焊鍵合,以滿足產(chǎn)品設(shè)計要求。

1細間距小尺寸焊盤的金絲鍵合工藝概述

金絲鍵合的目的是實現(xiàn)芯片的輸入/輸出端與外界電路或元器件的互聯(lián),球焊鍵合采用熱壓和超聲方式,將提前燒制的空氣自由球焊接到芯片焊盤或基板焊盤上,再通過劈刀的空間運動形成穩(wěn)定形狀的線弧,最后將金絲焊接到二焊點,完成一根金絲的鍵合過程。球焊鍵合的工藝過程如圖3所示。

b1912a74-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

通常情況下,球焊鍵合的工藝過程可以分為四個步驟:

1)劈刀下方的打火桿產(chǎn)生瞬時電壓,通過尖端放電將金絲的線尾部分燒成規(guī)則的空氣自由球(Free Air Ball,F(xiàn)AB)。

2)劈刀下移接觸到一焊點焊盤,同時給劈刀施加壓力和超聲能量,在壓力和超聲的作用下,F(xiàn)AB與焊盤表面金屬層相互摩擦,破壞掉金屬表面的污染及氧化層,形成原子級別的緊密連接,從而完成一焊點的鍵合。

3)劈刀在鍵合頭的帶動下,按照規(guī)劃的軌跡進行運動,在空間中將金絲彎折成一定的角度和形狀,形成線弧,隨后拉伸到第二焊點位置,在超聲和壓力的作用下形成二焊點。

4)形成二焊點后,劈刀在二焊點處進行截尾焊,將金絲截斷。隨后劈刀抬起,線夾閉合,準備第二次燒球。此時,整個引線線弧和鍵合點全部完成。

以上四個步驟均可通過設(shè)備參數(shù)及工藝參數(shù)進行調(diào)控,如超聲能量、鍵合壓力等,各參數(shù)相互關(guān)聯(lián),共同決定了最終的鍵合結(jié)果。

在“打火桿燒球”階段,金絲根部由于受到尖端放電而產(chǎn)生局部高溫,金絲的尖端變?yōu)槿廴跔顟B(tài),在重力和表面張力的共同作用下,形成空氣自由球??諝庾杂汕蛲ǔ闃藴实膱A球形。而在“鍵合—焊點”階段,空氣自由球由于在劈刀的作用下被壓扁,尺寸會再次變大,一焊點的尺寸約為金絲直徑的2.5~3.0倍,對于25μm金絲而言,焊點尺寸約為70~80μm,為保證鍵合的可靠性和穩(wěn)定性,焊盤尺寸的設(shè)計通常大于100μm。而隨著芯片功能及運算能力的集成,焊盤的設(shè)計尺寸逐漸減小,本文涉及的芯片焊盤的尺寸僅為55μm,而相鄰焊盤的間距僅為15μm,如圖2所示。當芯片焊盤尺寸和焊盤間距減小時,金絲球焊鍵合可能會產(chǎn)生以下鍵合缺陷:

1)由于芯片焊盤尺寸只有55μm,若采用25μm金絲,則要求FAB尺寸不能超過55μm,否則焊點會超出芯片焊盤,造成短路。

FAB尺寸是由打火電流、打火電壓、打火時間等工藝參數(shù)決定的,當打火參數(shù)過小時,金絲獲得的熱量偏低,融化量較少,液態(tài)球的重力作用不明顯,形成的金球多呈偏置狀態(tài),導(dǎo)致焊點位置偏移,增加了短路風(fēng)險。由于燒球參數(shù)過小導(dǎo)致的偏頭球,如圖4所示[5]。

b1aacad8-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

2)劈刀本身具有一定的寬度,普通劈刀底部寬度T =120μm,假設(shè)焊球高度為0,焊盤尺寸為X =55μm,則相鄰焊盤應(yīng)設(shè)計最小間距為( T -X )/2=32.5μm,以保證劈刀不會壓到相鄰焊盤上的焊點。然而對于本文涉及芯片,相鄰焊盤的距離為15μm,過小的焊盤間距會導(dǎo)致鍵合過程中劈刀壓到已經(jīng)鍵合的金絲,從而使金絲受損(如圖5所示)。

b1e39d86-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

本文針對細間距小尺寸焊盤金絲鍵合,通過優(yōu)化關(guān)鍵設(shè)備參數(shù)和工藝參數(shù),完成了對細間距小尺寸焊盤金絲鍵合的高精度、高可靠性自動球焊鍵合試驗。試驗采用自動球焊鍵合機,試驗金絲純度高于99.99%。

2金絲及劈刀優(yōu)化

2.1金絲直徑的選擇

由前文可知,金絲的直徑直接決定了FAB的尺寸范圍,試驗首先選擇25μm金絲進行燒球工藝參數(shù)優(yōu)化,工藝參數(shù)選擇見表1。

b205170e-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

圖6表示了直徑25μm的金絲進行燒球參數(shù)調(diào)節(jié)工藝試驗的結(jié)果,可以看出,F(xiàn)AB球的直徑隨著打火電流和打火時間的減小而減小。當打火電流大于30 mA,且打火時間大于700μs時,F(xiàn)AB球型較為規(guī)整,但FAB尺寸均大于55μm。當打火電流小于30 mA,或打火時間小于700μs時,F(xiàn)AB尺寸雖然會繼續(xù)減小,但此時FAB與金絲不同軸,F(xiàn)AB球型不完整、不規(guī)則,出現(xiàn)偏頭球的概率增大。由此可以得出,對于25μm金絲,僅通過調(diào)節(jié)燒球參數(shù),無法獲得細間距鍵合要求的FAB焊球結(jié)果。

b215f326-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

因此,試驗過程中將金絲直徑改為20μm,保持打火電壓為5 000 V,重新調(diào)節(jié)打火電流和時間,獲得的試驗結(jié)果如圖7所示。試驗結(jié)果表明,針對20μm金絲,當打火電流范圍30~40 mA,且打火時間范圍在300~400μs時,自動鍵合可以獲得工藝穩(wěn)定且球型完整的FAB,同時可以將FAB球的尺寸控制在55μm以內(nèi)。

b229976e-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

分析金絲打火并形成FAB的過程,首先是打火桿在高壓下對金絲根部產(chǎn)生尖端放電,金原子吸收大量的熱產(chǎn)生熔化,在重力和表面張力的作用下,熔化部分成球狀。這個階段由于金絲吸收的熱量全部來自尖端放電的能量,因此增大打火電流或電壓、延長打火時間,均會增加金絲吸收的熱量,使得凝固后FAB球的直徑增加。

在金球凝固過程中,由于存在液-固界面,根據(jù)金屬凝固理論,液體通常會將雜質(zhì)表面、液-固界面處,以及未熔化的晶體表面作為形核點,發(fā)生非均勻形核,形核如圖8所示。

b25334fc-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

非均勻形核的體系自由能為:

b26a9d04-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

式中:ΔG非表示非均勻形核的體系自由能;ΔG均表示均勻形核的體系自由能;ΔG V表示自由能變化量;r表示形核點半徑;θ表示形核點液固界面的浸潤角;σ表示表面張力;S (θ)表示表面能。打火電流大、打火時間長的金球由于吸收熱量較多,金球內(nèi)部均為液態(tài),不存在形核點,非均勻形核點僅存在于液-固界面處,因此凝固初期的溫度梯度方向大致垂直于液-固界面。

當打火電流很小或打火時間很短時,金球內(nèi)部可能存在未熔化的固態(tài)金,這使得金球內(nèi)部存在多個形核點,導(dǎo)致晶粒生長不再以大致統(tǒng)一的方向進行(如圖9所示)。同時固-液界面向金球內(nèi)部延伸的面積較大,導(dǎo)致形核點半徑增大,形核擁有更大的驅(qū)動力ΔG非。因此最終形成的FAB可能存在球型不完整、不規(guī)則等情況,出現(xiàn)偏頭球的概率也會增大。

根據(jù)上述分析,確定了的FAB打火工藝參數(shù):打火電流30 mA,打火電壓5 000 V,打火時間400μs。在小尺寸焊盤上的鍵合結(jié)果如圖10所示,可以看出焊點完整、形狀規(guī)則,且焊點尺寸小于55μm,焊點一致性較好。

b28d5042-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

b29f0d00-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

2.2劈刀的選擇

選擇較細金絲可以較好地解決焊球尺寸超出焊盤的問題,然而在實驗過程中,當鍵合相鄰金絲時,后鍵合的金絲會對已鍵合的金絲產(chǎn)生干擾,如圖11所示,先鍵合的焊點被壓扁,導(dǎo)致焊線變彎。根據(jù)上文分析,發(fā)生問題的原因可能是劈刀尺寸過大。

b2c086ba-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

劈刀是進行球焊鍵合的直接工具,在整個球焊鍵合中,負責(zé)帶動FAB與芯片焊盤進行接觸,對焊點進行熱壓超聲,帶動引線根據(jù)設(shè)計好的拐點形成線弧,形成二焊點并切斷線尾??梢娕对谇蚝告I合中的作用至關(guān)重要。

常用的球焊鍵合劈刀材質(zhì)一般為氧化鋁陶瓷、紅寶石和鎢鋼,氧化鋁陶瓷劈刀因其硬度高、易加工、成本低等特點,應(yīng)用于大多數(shù)的球焊鍵合場景[6],針對本次產(chǎn)品,選擇氧化鋁劈刀。

球焊鍵合的劈刀在空間中沿著中軸線對稱,其剖面?zhèn)纫晥D如圖12所示(圖中:H為劈刀內(nèi)徑;D W為金絲直徑;D C為內(nèi)切角直徑;D MB為壓扁之后的焊球直徑;T為尖端直徑;B P為焊盤間距;P為焊盤尺寸)。劈刀的尺寸參數(shù)中,劈刀內(nèi)徑H、內(nèi)切角直徑D C、尖端直徑T等參數(shù),對鍵合的焊點結(jié)果影響較大。

b2df8c72-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

劈刀的內(nèi)徑選擇一般由引線的線徑?jīng)Q定,計算公式為:

b307c958-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

劈刀內(nèi)切角直徑D C是由壓扁之后的焊球直徑D MB和焊盤尺寸決定的,D C的大小需滿足:

b318875c-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

如果焊點的厚度為0,則相鄰金絲不發(fā)生干擾的最大劈刀尺寸為:

b3293e3a-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

對于本文產(chǎn)品,劈刀的尖端直徑可選擇的最大值為71μm。然而實際情況下,由于焊球具有一定厚度,劈刀不會接觸到焊盤底部,因此劈刀尖端直徑的最大值可在71μm的基礎(chǔ)上適當增大。根據(jù)實際情況,試驗過程中選擇了表2中的3款劈刀,劈刀的結(jié)構(gòu)如圖13所示。

b333c04e-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

b353dcee-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

針對3種不同尺寸的劈刀,選擇相同芯片、相同尺寸及間距的焊盤,對相鄰金絲依次進行鍵合,鍵合結(jié)果如圖14所示。

b3795dca-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

使用Dage 4000拉力測試儀對鍵合的3組金絲進行拉力檢測,結(jié)果見表3。根據(jù)鍵合結(jié)果可以看出,選擇C型號的劈刀,即當尖端直徑降為80μm時,相鄰焊點完整清晰,焊線互不干擾,相鄰焊線的拉力值相差不大,且均在0.10 N以上。當尖端直徑≥90μm,相鄰焊點會被劈刀壓到,焊線會受到干擾而變彎。其中,先鍵合的焊線拉力值較低,說明并此時焊線已經(jīng)產(chǎn)生損傷,其可靠性難以保證。

b3be0510-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

3焊線模式優(yōu)化

根據(jù)前文試驗結(jié)果,對于細間距小尺寸焊盤金絲鍵合,選擇了20μm金絲和對應(yīng)的細間距劈刀,避免了焊球尺寸超出焊盤以及劈刀對相鄰焊線的干擾和損傷。然而在實際鍵合過程中,由于選用了較細的金絲,金絲在自身重力的作用下有可能會產(chǎn)生塌陷或彎曲,實際鍵合效果如圖15所示??梢钥闯?,鍵合過程中出現(xiàn)了金絲塌陷或彎曲現(xiàn)象,一旦金絲所在的平面與地面不垂直,塌陷的金絲就會阻礙相鄰金絲鍵合,導(dǎo)致后續(xù)的多根金絲無法繼續(xù)鍵合。

b3d08c80-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

金絲線弧的垂直穩(wěn)定性問題通常與鍵合焊盤的平整度有關(guān),當鍵合底面平整度較低時,鍵合的線弧會由于焊接面的不平整而偏移豎直面,從而導(dǎo)致金絲線弧塌陷。在本文涉及產(chǎn)品中,由于產(chǎn)品加工誤差較小,排除了焊盤本身的平整度影響。由此判斷,可能是由于當前的焊線模式BSOB(Bond Stitch On Ball)造成了焊接面的不平整現(xiàn)象。

BSOB金絲線弧模式是熱超聲金絲球焊鍵合的一種焊線模式,該模式的鍵合過程如圖16所示。鍵合前,先確定一焊點和二焊點,一焊點通常為芯片,二焊點則為電路焊盤。鍵合時,先在第二焊點預(yù)置一個金球,然后劈刀進行一焊點鍵合,并形成線弧,隨后進行的二焊點鍵合并切線尾。這種模式下,二焊點鍵合平面并不在電路焊盤上,而是在預(yù)先墊的焊球上。

b3e2ca4e-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

對于本文涉及產(chǎn)品,由于其焊盤表面平整度和潔凈度較高,BBOS鍵合過程近似理想狀況,因此鍵合出的線弧垂直程度很高,從而降低了相鄰金絲相互干擾的風(fēng)險。同時,BBOS模式會在鍵合完成后,在二焊點位置再次植球,這種工藝降低了二焊點虛焊的風(fēng)險,使得金絲的結(jié)合力進一步提高。圖18為采用BBOS模式和BSOB模式分別對產(chǎn)品進行金絲鍵合的結(jié)果,可以看出BSOB模式下由于二焊點存在預(yù)置球,導(dǎo)致焊線與底面不垂直,焊線的工藝穩(wěn)定性較低。而BBOS模式下,金絲垂直程度很高,無金絲彎曲現(xiàn)象發(fā)生。

b3f74442-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

對BSOB模式的焊線與BBOS模式的焊線分別選取20根金絲,進行破壞性拉力測試,其測試結(jié)果如圖19所示,從兩組拉力數(shù)據(jù)的分布可以看出:采用BBOS模式進行金絲鍵合,其結(jié)合力的平均值高于BSOB模式的金絲,且分布較為均勻;采用BSOB模式的金絲,其數(shù)值較為分散,說明金絲拉力值不穩(wěn)定。

b43b782e-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

4工藝參數(shù)優(yōu)化

在對金絲線徑、劈刀尺寸以及焊線模式進行優(yōu)化的基礎(chǔ)上,還需要對20μm金絲的鍵合工藝進行優(yōu)化。選取對鍵合過程影響較大的幾組參數(shù),分別為超聲能量、鍵合壓力、鍵合時間。利用控制變量法,分別改變每組參數(shù),每組選擇20根金絲,測量鍵合金絲的拉力值以及一焊點尺寸(見表4)。

由試驗結(jié)果可以看出,超聲能量和鍵合壓力均會對最終的金絲拉力值和焊點尺寸產(chǎn)生較大影響,增大超聲能量和鍵合壓力,金絲的拉力值會顯著增加,但如果超聲能量和鍵合壓力過大,則會導(dǎo)致一焊點尺寸超出焊盤。減小超聲能量和鍵合壓力,金絲拉力值和焊點尺寸隨之減小,但如鍵合參數(shù)過小,金絲拉力值將不滿足可靠性要求,同時線弧的穩(wěn)定性也會受到影響。

b457ce34-f75a-11ed-90ce-dac502259ad0.png

經(jīng)過驗證,同時滿足芯片焊盤尺寸小、線弧穩(wěn)定、鍵合拉力值較高的工藝參數(shù)為:超聲能量:110 mW,鍵合壓力:0.25 N,鍵合時間:20 ms。

5總結(jié)

1)采用20μm線徑的金絲和尖端直徑為80μm的劈刀,實現(xiàn)了細間距小尺寸焊盤的自動球焊鍵合過程。研究了不同燒球參數(shù)對FAB球的影響,解決了焊點超出芯片焊盤的問題。

2)對比了BSOB鍵合和BBOS鍵合兩種焊線模式的過程和優(yōu)缺點,得出針對細間距小尺寸焊盤產(chǎn)品,應(yīng)采用BBOS模式進行鍵合的結(jié)論,鍵合得到了垂直度和工藝穩(wěn)定性較高的金絲焊線。

3)通過控制變量法,得到了適合20μm金絲球焊鍵合的最優(yōu)工藝參數(shù),發(fā)現(xiàn)鍵合壓力對焊球大小影響較大,超聲能量則對焊線的鍵合拉力值影響較大。通過改進金絲線徑、劈刀尺寸、焊線模式等工藝參數(shù),實現(xiàn)了細間距小尺寸焊盤芯片的精確穩(wěn)定的鍵合。

審核編輯 :李倩

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 焊盤
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    590

    瀏覽量

    38868
  • 毫米波
    +關(guān)注

    關(guān)注

    21

    文章

    1972

    瀏覽量

    66004
  • 微波組件
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    16

    瀏覽量

    7396

原文標題:【半導(dǎo)光電】微波組件細間距金絲鍵合工藝的可靠性分析

文章出處:【微信號:今日光電,微信公眾號:今日光電】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    網(wǎng)課回放 I 升級版“一站式” PCB 設(shè)計第三期:原理圖完整可靠性分析

    網(wǎng)課回放 I 升級版“一站式” PCB 設(shè)計第三期:原理圖完整可靠性分析
    的頭像 發(fā)表于 05-10 11:09 ?219次閱讀
    網(wǎng)課回放 I 升級版“一站式” PCB 設(shè)計第三期:原理圖完整<b class='flag-5'>性</b>及<b class='flag-5'>可靠性分析</b>

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    和有源區(qū)連接孔在電流應(yīng)力下的失效。 氧化層完整:測試結(jié)構(gòu)檢測氧化層因缺陷或高電場導(dǎo)致的擊穿。 熱載流子注入:評估MOS管和雙極晶體管絕緣層因載流子注入導(dǎo)致的閾值電壓漂移、漏電流增大。 連接可靠性——
    發(fā)表于 05-07 20:34

    電機微機控制系統(tǒng)可靠性分析

    。純分享帖,需要者可點擊附件獲取完整資料~~~*附件:電機微機控制系統(tǒng)可靠性分析.pdf 【免責(zé)聲明】本文系網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載,版權(quán)歸原作者所有。本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題,請第一時間告知,刪除內(nèi)容!
    發(fā)表于 04-29 16:14

    基于推拉力測試機的化學(xué)鍍鎳鈀金電路板金絲可靠性驗證

    在微組裝工藝中,化學(xué)鍍鎳鈀金(ENEPIG)工藝因其優(yōu)異的抗“金脆”和“黑焊盤”性能,成為高可靠性電子封裝的關(guān)鍵技術(shù)。然而,其強度的長期
    的頭像 發(fā)表于 04-29 10:40 ?286次閱讀
    基于推拉力測試機的化學(xué)鍍鎳鈀金電路板<b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>可靠性</b>驗證

    集成電路前段工藝可靠性研究

    在之前的文章中我們已經(jīng)對集成電路工藝可靠性進行了簡單的概述,本文將進一步探討集成電路前段工藝可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 03-18 16:08 ?814次閱讀
    集成電路前段<b class='flag-5'>工藝</b>的<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    金絲的主要過程和關(guān)鍵參數(shù)

    ,金絲工藝便能與其他耐受溫度在300℃以下的微組裝工藝相互適配,在高可靠集成電路封裝領(lǐng)域得到
    的頭像 發(fā)表于 03-12 15:28 ?1545次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的主要過程和關(guān)鍵參數(shù)

    銅線IMC生長分析

    銅引線鍵合由于在價格、電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率等方面的優(yōu)勢有望取代傳統(tǒng)的金引線鍵合, 然而 Cu/Al 引線鍵合界面的金屬間化合物 (intermetallic compounds, IMC) 的過量生長將增大接觸電阻和降低
    的頭像 發(fā)表于 03-01 15:00 ?1221次閱讀
    銅線<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>IMC生長<b class='flag-5'>分析</b>

    推拉力測試儀:金絲工藝優(yōu)化的“神器”

    S100推拉力測試儀對金絲第二焊點進行可靠性分析,探討影響其可靠性的因素,并提出優(yōu)化建議。 一、
    的頭像 發(fā)表于 02-22 10:09 ?568次閱讀
    推拉力測試儀:<b class='flag-5'>金絲</b>球<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>工藝</b>優(yōu)化的“神器”

    引線鍵合的基礎(chǔ)知識

    引線鍵合 引線鍵合,又稱壓焊,是半導(dǎo)體封裝工藝中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),對封裝的可靠性和最終產(chǎn)品的測試良率具有決定性影響。 以下是對引線鍵合的分述: 引
    的頭像 發(fā)表于 01-02 10:18 ?1337次閱讀
    引線<b class='flag-5'>鍵合</b>的基礎(chǔ)知識

    航空發(fā)動機轉(zhuǎn)子系統(tǒng)可靠性分析的最新進展

    系統(tǒng)的應(yīng)力應(yīng)變、疲勞壽命等響應(yīng)往往會表現(xiàn)出較大的分散,其精細化失效評估和可靠性分析已成為先進航空發(fā)動機研制中的關(guān)鍵技術(shù)。本論文首先討論了當前常用的可靠性分析方法及其建模思路,介紹了幾種前沿的代理模型方法;然
    的頭像 發(fā)表于 12-18 10:10 ?863次閱讀
    航空發(fā)動機轉(zhuǎn)子系統(tǒng)<b class='flag-5'>可靠性分析</b>的最新進展

    預(yù)鍍框架銅線的腐蝕失效分析可靠性

    集成電路預(yù)鍍框架銅線封裝在實際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)第二點失效,通過激光開封和橫截面分析,
    的頭像 發(fā)表于 11-01 11:08 ?2365次閱讀
    預(yù)鍍框架銅線<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>的腐蝕失效<b class='flag-5'>分析</b>與<b class='flag-5'>可靠性</b>

    UPS電源的安全可靠性分析

    隨著信息技術(shù)的飛速發(fā)展,數(shù)據(jù)和信息已成為現(xiàn)代社會的重要資產(chǎn)。因此,確保數(shù)據(jù)的持續(xù)可用和完整變得至關(guān)重要。不間斷電源(UPS)系統(tǒng)作為保護關(guān)鍵設(shè)備免受電力中斷影響的重要手段,其安全可靠性
    的頭像 發(fā)表于 10-28 10:49 ?1543次閱讀

    光能至尊N型系列組件可靠性優(yōu)勢

    總監(jiān)李志偉受邀參加此次會議,在“高效電池組件質(zhì)量及可靠性提升”論壇中發(fā)表主題演講,并參與圓桌對話環(huán)節(jié),圍繞組件多種技術(shù)路線、組件可靠性測試等
    的頭像 發(fā)表于 10-27 10:32 ?869次閱讀

    提升微波組件可靠性:跨接片激光焊錫工藝的關(guān)鍵作用

    在電子技術(shù)領(lǐng)域,尤其是有源相控陣雷達微波組件的制造中,跨接片的焊接質(zhì)量對整個系統(tǒng)的集成度和可靠性至關(guān)重要。傳統(tǒng)的手工焊接和金絲
    的頭像 發(fā)表于 09-20 13:35 ?625次閱讀
    提升<b class='flag-5'>微波</b><b class='flag-5'>組件</b><b class='flag-5'>可靠性</b>:跨接片激光焊錫<b class='flag-5'>工藝</b>的關(guān)鍵作用

    金絲工藝溫度研究:揭秘質(zhì)量的奧秘!

    ,實現(xiàn)電氣信號的傳輸。然而,金絲過程中,溫度是一個不可忽視的關(guān)鍵因素,它不僅影響著質(zhì)量,還直接關(guān)系到產(chǎn)品的
    的頭像 發(fā)表于 08-16 10:50 ?3524次閱讀
    <b class='flag-5'>金絲</b><b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b><b class='flag-5'>工藝</b>溫度研究:揭秘<b class='flag-5'>鍵</b><b class='flag-5'>合</b>質(zhì)量的奧秘!