一区二区三区三上|欧美在线视频五区|国产午夜无码在线观看视频|亚洲国产裸体网站|无码成年人影视|亚洲AV亚洲AV|成人开心激情五月|欧美性爱内射视频|超碰人人干人人上|一区二区无码三区亚洲人区久久精品

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

穎崴科技:芯片測試探針卡新工廠預計年底完工

微云疏影 ? 來源:綜合整理 ? 作者:綜合整理 ? 2023-06-15 10:31 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

據《經濟日報》報道,芯片測試設備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示:“為生產用于半導體測試的探針芯片,將于今年年底在臺元科技園區(qū)建設新工廠。將擴大現(xiàn)有生產能力?!崩^新工廠啟動之后,預計明年將以探針卡業(yè)績加倍為目標。

穎崴正在積極配置探針卡系列產品。公司發(fā)言人表示,新開的高雄二廠以自產探針為主。將于年底竣工的臺元新廠將主要擴充探針芯片生產線。

該公司表示,到2022年,探針卡在整體業(yè)績中所占的比重將達到20%左右。對于半導體市場的前景,穎崴預測說:“今年是終端機更換時期持續(xù)的一年。最早將從第4季度開始,半導體景氣將得到恢復?!鳖A計明年在生產新產品的同時,半導體產業(yè)將迎來復興。三星電子計劃積極擴大尖端芯片測試接口業(yè)績比重??梢詳U展移動芯片的測試接口。

法人方面表示:“穎崴在2023年第一季度尖端芯片測試界面工作所占的比重超過70%,因此,“智能手機應用處理器(AP)邏輯測試座(Test Socket)積極擴大測試插座產品,提高自制探針的比重,與美國手機芯片設計大業(yè)體將擴大協(xié)商力?!?/p>

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 芯片
    +關注

    關注

    459

    文章

    52494

    瀏覽量

    440652
  • 半導體
    +關注

    關注

    335

    文章

    28895

    瀏覽量

    237614
  • 探針卡
    +關注

    關注

    6

    文章

    43

    瀏覽量

    9548
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    盛華推出晶圓測試WAT PCM用Probe Card探針

    探針, WAT,PCM測試
    的頭像 發(fā)表于 06-26 19:23 ?195次閱讀

    中國內地首家!奕丞科技實現(xiàn)高端MEMS探針自主量產,加速國產化突圍

    探針探針是半導體制造中晶圓測試環(huán)節(jié)的關鍵組件,可以篩選不良芯片,避免無效封裝、降低成本,是半導體測試
    的頭像 發(fā)表于 05-08 18:14 ?616次閱讀
    中國內地首家!奕丞科技實現(xiàn)高端MEMS<b class='flag-5'>探針</b>自主量產,加速國產化突圍

    PCB飛針測試探針,針尖0.03mm,10-30萬次使用壽命,0-67GHz頻率

    提供PCB行業(yè)飛針測試探針,間距0.2mm,針尖直徑0.03mm。頻率0-67GHz。使用壽命10-30萬次。
    的頭像 發(fā)表于 03-28 12:04 ?554次閱讀
    PCB飛針<b class='flag-5'>測試探針</b>,針尖0.03mm,10-30萬次使用壽命,0-67GHz頻率

    在ubuntu 22.04上使用S32DS,連接調試探針時出現(xiàn)報錯,怎么解決?

    客戶在ubuntu 22.04上使用S32DS,并在連接調試探針時發(fā)現(xiàn)問題。這是屏幕截圖。 ? 通過 USB 連接似乎有問題。所以我的問題是 (1) 是不是連接 USB 有問題?如果是,如何解決這個問題? (2)是否有通過以太網連接 Debug Probe 的動手教程?
    發(fā)表于 03-27 07:18

    探針粉末電阻率測試儀在炭黑測試中的應用與優(yōu)勢

    在炭黑生產與應用的各個環(huán)節(jié),精準把控其性能至關重要,而炭黑電阻率是衡量質量與應用潛力的關鍵指標。兩探針粉末電阻率測試儀憑借獨特技術與高效檢測能力,在炭黑測試中發(fā)揮著不可或缺的作用。 一、工作原理
    的頭像 發(fā)表于 03-21 09:16 ?375次閱讀
    兩<b class='flag-5'>探針</b>粉末電阻率<b class='flag-5'>測試</b>儀在炭黑<b class='flag-5'>測試</b>中的應用與優(yōu)勢

    聯(lián)想沙特新工廠正式奠基

    ,占地面積達20萬平方米,規(guī)模宏大。據悉,該工廠將專注于生產筆記本電腦、臺式機及服務器等電子產品,預計年產量將達到數(shù)百萬臺,并全部打上“沙特制造”的標簽。 聯(lián)想集團對此次投資寄予厚望,計劃于2026年正式投產。新工廠的建立不僅將
    的頭像 發(fā)表于 02-11 09:32 ?589次閱讀

    高溫電阻測試儀的四探針法中,探針的間距對測量結果是否有影響

    在高溫電阻測試儀的四探針法中,探針的間距對測量結果確實存在影響,但這一影響可以通過特定的測試方法和儀器設計來最小化或消除。 探針間距對測量結
    的頭像 發(fā)表于 01-21 09:16 ?649次閱讀
    高溫電阻<b class='flag-5'>測試</b>儀的四<b class='flag-5'>探針</b>法中,<b class='flag-5'>探針</b>的間距對測量結果是否有影響

    尼得科SV Probe推出兩款新型探針

    尼得科精密檢測科技株式會社的子公司尼得科SV Probe,近日正式推出了兩款創(chuàng)新產品,以滿足市場對高電壓、大電流功率半導體檢測需求的日益增長。 第一款產品是半導體設備溫度測量探針“TC(熱電偶
    的頭像 發(fā)表于 12-18 14:08 ?710次閱讀

    微波測量探針

    類型、觸點尺寸可選,可通用適配多種探針臺、探針臂,適用于微波集成電路在片測試、管結參數(shù)提取、MEMS產品測試及片上天線測試等領域。 編輯 ?
    的頭像 發(fā)表于 11-27 17:28 ?523次閱讀
    微波測量<b class='flag-5'>探針</b>

    北京君正預計年底推出21nm DRAM產品

    和20nm的研發(fā)工作。預計21nm的DRAM產品將于今年年底推出,而20nm的產品則有望在明年中前后上市。此外,公司還表示將持續(xù)進行更新工藝的產品研發(fā),以保持技術領先。
    的頭像 發(fā)表于 11-12 14:27 ?1258次閱讀

    測試點之間的間距范圍

    測試點之間的間距決定了使用何種樣式的測試探針。以下是幾種常見的測試探針樣式和其適用的間距范圍。
    的頭像 發(fā)表于 10-29 09:50 ?1412次閱讀
    <b class='flag-5'>測試</b>點之間的間距范圍

    測試點的直徑參數(shù)

    這個直徑是測試點的最小尺寸,用于確保測試探針可以準確地與測試點接觸。如果測試點直徑小于這個值,可能會導致測試探針無法正確接觸到
    的頭像 發(fā)表于 10-28 10:31 ?1260次閱讀
    <b class='flag-5'>測試</b>點的直徑參數(shù)

    探針頭型怎么選擇尺寸

    探針頭型的選擇尺寸是一個復雜的過程,需要考慮多個因素,包括被測點的形狀、大小、間距、測試環(huán)境以及測試要求等。以下是一些選擇探針頭型尺寸的基本原則和步驟: 一、基本原則 測量精度 :首先
    的頭像 發(fā)表于 09-07 10:48 ?1710次閱讀

    開爾文探針測試原理是什么

    開爾文探針測試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢測量技術,廣泛應用于材料科學、表面科學、納米技術和生物醫(yī)學等領域。KPFM技術通過測量探針
    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:29 ?5577次閱讀

    分享:晶圓探針測試探針臺的自動化控制

    NSAT-1000射頻測試系統(tǒng)在ATECLOUD測試平臺基礎上開發(fā)而成,具有強大的兼容性,可以靈活快速接入設備,自動識別儀器,探針臺就是其中之一。平臺會封裝探針臺的儀器指令,對其進行兼
    的頭像 發(fā)表于 07-18 17:50 ?744次閱讀
    分享:晶圓<b class='flag-5'>探針</b><b class='flag-5'>測試</b>中<b class='flag-5'>探針</b>臺的自動化控制