1、電阻絕緣。

絕緣性電阻是對USB2.0接口的絕緣部分施加電壓，從而導致其外貌或外貌發(fā)生漏電流而呈現(xiàn)的電阻值。主要受制于絕緣數(shù)據(jù)、溫度、濕度、污損等因素。在標準大氣條件下，USB2.0接口的絕緣電阻值一般為目標值，在一定環(huán)境條件下絕緣電阻值不一定程度地降低。還要注意絕緣電阻的試驗電壓值。根據(jù)絕緣電阻(MΩ)=對絕緣體上的電壓(V)/漏電流(μA)施加不同的電壓，就會產(chǎn)生不必要的結(jié)果。實驗中所加的USB2.0接口，所加電壓通常為10V、100V、500V三檔。

2、附加電流。

附加電流又稱為工作電流。與附加電壓相同，USB2.0接口通常在低于附加電流的情況下可以正常工作。對于USB2.0接口，由于觸摸屏電流過長，觸控對由于導體電阻和觸點電阻的存在，觸點對會發(fā)熱，所以通過對USB2.0接口的熱規(guī)劃來滿足額外電流需求。如果熱過了一定限度，就會損壞USB2.0接口的絕緣，并使表面鍍層變軟，從而產(chǎn)生故障。因此，為了限制附加電流，實際上是要限制USB2.0接口內(nèi)的溫升不超過規(guī)劃規(guī)則值。選型時要注意的問題是：對于多芯USB2.0接口，必須增加附加電流來降低使用。這種方法在大電流情況下更要注意，如φ3.5mm觸點對，通常規(guī)定它的附加電流為50A，但是5芯時要減額33%使用，即每芯額外電流只要38A，芯數(shù)越多，降額越大。

3、觸碰電阻。

觸摸式電阻是兩觸點部分上兩觸點所產(chǎn)生的電阻。選擇時要注意兩個問題，第一，USB2.0接口觸點電阻目標值實際上是觸點對電阻，它包含觸點電阻和觸點對導體電阻。一般說來，導體的電阻是很小的，所以觸點對電阻在很多技術(shù)規(guī)范中叫做觸點電阻。其次，在連接小信號的電路中，要注意測量所給觸控電阻目標的條件，因為觸點表面會附著氧化層、油污或其它污染物，在表面上兩觸點會發(fā)生膜電阻。當厚度增加時，電阻敏捷增加，就是膜層變成不良導體。但當接觸壓強過強時，膜層會發(fā)生機械擊穿，或者在高壓下發(fā)生電擊穿。對于一些小體積的USB2.0接口來說，觸點壓力是很小的，使用場合僅為mA和mV級，膜層電阻不易被擊穿，可能會影響到電信號的傳輸。GB5095《電子設(shè)備用機電元件基本實驗規(guī)程和測試方法》中的觸摸式電阻測試方法之一“觸點電阻——毫針受刑”，為避免絕緣薄膜在觸點上被擊穿，測驗電路的開路電動勢的直流或交流峰值不超過20mV，直流或交流試驗電流不超過100mA。實際上，這是一種測試低電平觸點電阻的方法，因此，有這個要求的人，因為選擇了由低電平觸點電阻目標的USB2.0接口。

4、電氣參數(shù)要求。

USB2.0接口是連接電線的機電元件。所以USB2.0接口本身的電氣參數(shù)是選擇USB2.0接口時首先要考慮的問題。

5、耐壓

耐壓是指在一定時間內(nèi)，觸點對的互相絕緣部分或絕緣部分與地之間、臨界電壓高于一定值，而不發(fā)生擊穿現(xiàn)象的觸點對電壓。主要受控于觸點對間距、爬電間隔、形狀、絕緣材料、環(huán)境溫度、氣壓、氣壓等因素。

6、屏蔽性

當今的電力電子設(shè)備中，電磁擾動的增加及其相互關(guān)聯(lián)功能的增加，使電磁干擾受到嚴重限制。因此，USB2.0接口經(jīng)常用金屬外殼封閉，以阻止內(nèi)部的電磁能量輻射，或者受到外部電磁場的干擾。當?shù)皖l率時，只要磁性數(shù)據(jù)才干對磁場有明顯的屏蔽作用。在這個時候，對金屬外殼的電氣連續(xù)性有一定的規(guī)則，即外殼接觸電阻。

7、附加電壓。

外壓也叫工作電壓，它主要依賴于USB2.0接口所使用的絕緣數(shù)據(jù)，觸點間的間隙很大。有些部件或設(shè)備如果低于它的附加電壓，就可能無法完成其應(yīng)有的功能。事實上，USB2.0接口的附加電壓應(yīng)被理解為生產(chǎn)廠家要求的最大工作電壓。指導方針規(guī)定，該USB2.0接口在超電壓以下均可正常工作。作者傾向于根據(jù)使用環(huán)境、安全等級要求，根據(jù)USB2.0接口的耐壓(抗電強度)指標，合理選擇附加電壓。即根據(jù)不同的使用環(huán)境和安全要求，相同的耐壓目標，可以采用不同的最高工作電壓。這樣也更符合客觀應(yīng)用的情況。