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【直播精彩回顧】虹科基本元件可靠性測試方案——為智能制造提供元件級穩(wěn)定保障

虹科測試測量 ? 2023-06-09 09:56 ? 次閱讀
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01

來料檢驗入門

公司在采購物料到貨之后會有一個檢驗的過程,需要驗證產(chǎn)品符不符合當初采購的要求,產(chǎn)品數(shù)量是否準確,產(chǎn)品參數(shù)等各方面是否合格的,然后才會錄入系統(tǒng)、交付需求部門。保證來料合規(guī)主要有以下幾個目的:(1)確保物料的技術(shù)參數(shù)、規(guī)格、良品率各方面符合采購合同上的規(guī)定;(2)及早發(fā)現(xiàn)缺陷問題,便于明確界定責任,快速溯源問題點,減少排查時間;(3)避免不良品進入生產(chǎn)線,造成生產(chǎn)浪費,此外亦減少退貨和維修成本;(4)提高產(chǎn)品一致性,減少故障概率,從而提高客戶對產(chǎn)品的信任度。

因此,當企業(yè)要自己來規(guī)?;厣a(chǎn)設(shè)備,尤其是當設(shè)備涉及精密、高速或者高頻信號時,對基本元器件是有必要做來料檢驗的,因為在這種設(shè)備中,往往關(guān)鍵的RC元件位置會較多,對性能劣化的容忍度也較低,使用不良元器件很容易導致產(chǎn)品最終無法達到設(shè)計指標。

來料檢測的分類可以按照檢驗范圍和檢驗內(nèi)容分為以下幾類:


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02

可靠性測試方案設(shè)計

可靠性測試基本流程和思路可以分為以下幾步,首先測定初始參數(shù),如電阻值、電容值、電感值等,看下他們和標稱的誤差。在這一步,我們其實就已經(jīng)針對關(guān)鍵功能做了檢驗。然后進行極限條件測試,看元件在標稱的極限條件下是否能正常工作。第三步,我們需要來加速這些元器件的壽命消耗,通過極限條件、長時間工作來加速他壽命的損耗,提前把他的質(zhì)量缺陷暴露出來,最后再次測定參數(shù),通過故障率來評估這批元件的質(zhì)量。除了基本的參數(shù)測定,測試最核心的部分就是如何去加速元器件的壽命損耗,常規(guī)的方法包括施加持續(xù)或者快速變化的高低溫環(huán)境以及滿負荷條件的持續(xù)工作。

可靠性測試所需設(shè)備和工具一般分為如下幾類,首先是用于老化元器件的溫濕度環(huán)境試驗箱和程控電源,以及測定參數(shù)需要用到的儀器,如高精度的電阻表和高阻儀、LCR測試儀等。效率輔助工具方面,可以選擇樣品載板、開關(guān)矩陣和多路復用等。


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在測試方案設(shè)計中,我們還需要考慮測試對象本身的特性,負載應該加電壓還是電流,加多少?老化環(huán)境條件,溫濕度設(shè)多少,以及是否需要動態(tài)變化?老化時間,持續(xù)多長時間,一輪還是多輪?抽樣范圍,每批每種參數(shù)的元件抽多少?一般來說,這些都是需要多次的測試結(jié)果,綜合我們期望的產(chǎn)品可靠性,并且結(jié)合常用合作方物料的實際情況來決定,或者后期根據(jù)積累的經(jīng)驗慢慢修改優(yōu)化的。

03

可靠性測試系統(tǒng)

目前業(yè)內(nèi)傳統(tǒng)型的企業(yè)在可靠性測試方面,采用的是一種效率相對低下的笨方法,通過手動接線進行測試,只能指定小的抽取樣本數(shù)。這種方法的缺點是,一方面手動連接、讀數(shù)可能會出現(xiàn)人為失誤,引起測量結(jié)果失真,另一方面,采樣數(shù)少了,樣本有時候就無法準確描述元件批次整體的真實情況。測試流程也是比較簡單的環(huán)節(jié)循環(huán),比如先高溫烤20個小時,拿出來測一測參數(shù),測完一輪之后又繼續(xù)烤20小時,循環(huán)這個流程。有時候為了省時省事,直接高溫烤100個小時再進行測量。這種測試流程無法監(jiān)測到環(huán)節(jié)中的精確信息,如元件是從多少個小時開始劣化的。而往往這些信息,對評估產(chǎn)品的壽命是會有很大的幫助的。

一部分企業(yè)在可靠性測試時還需要依賴第三方實驗室,甚至直接要供應方自己做一個自查報告。但不管是供應方還是第三方出的報告,真實性都是存在疑問的。在運輸或者存放元件的過程中,由于環(huán)境不達標而產(chǎn)生的自然老化,對于元件的品質(zhì)會有一定程度下降,也會導致之前的監(jiān)測報告失效。此外,依賴第三方進行檢測,不僅會增加時間成本,同時也受限于第三方提供的檢測項目。

對前文提到的這些行業(yè)測試常見的缺點,虹科推出了多功能自動化解決方案,包括了一系列針對不同細分需求的測試系統(tǒng)套件,如大型機柜式的這種大規(guī)模測試系統(tǒng),針對高校、實驗室的交鑰匙一站式系統(tǒng)方案,也有靈活的可模塊化擴容,一套就能同時支持電阻、電感、電容的可靠性測試方案。除了硬件,虹科解決方案也包括了可選的定制軟件開發(fā)服務(wù)。

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虹科基本元件可靠性測試方案的自動化體現(xiàn)在哪里呢?

(1)全流程程控,可無人值守

在放入待測元件之后,即可通過程序設(shè)置好整個可靠性測試的步驟,包括待測件上電時間,預通電和滿負載分別是多少電流電壓,開啟、調(diào)整或者關(guān)閉溫濕度箱時間,以及在測試過程中,用內(nèi)置的多路復用去逐通道測量的時間等等。配置好測試條件后即可一鍵啟動讓系統(tǒng)自動跑這套流程。

(2)自動報警和切斷保護,閾值可調(diào)

測試中途如果有元器件失效了,系統(tǒng)會根據(jù)設(shè)置好的電流電壓閾值自動檢測這個失效,然后斷開對應測試通道和測試電源的連接,避免影響其它元件的繼續(xù)測試。

(3)全過程隨時測量,實時反饋

在元件失效在完成自動切斷保護之余,系統(tǒng)也提供自動報警功能。報警有多種形式,包括了現(xiàn)場級的小屏幕和指示燈以及遠程網(wǎng)絡(luò)反饋,這樣既能滿足實時遠程監(jiān)控和調(diào)整,也允許現(xiàn)場巡邏人員點檢時,就近獲取測試信息。

(4)開放API,可集成至企業(yè)系統(tǒng)

系統(tǒng)提供二次開發(fā)的程序接口允許客戶自己來寫整個系統(tǒng)的控制程序,從而實現(xiàn)從用戶的角度保證程序的安全可控。

(5)接受規(guī)模擴展、功能定制

虹科自主研發(fā)的基本元件老化測試系統(tǒng)提供一定程度上的規(guī)模擴展,以及功能上的調(diào)整和定制,如有任何需求,歡迎聯(lián)系虹科。

虹科最新一代基本元件老化測試系統(tǒng)的關(guān)鍵參數(shù)如下。

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以上是虹科基本元件可靠性測試方案的課程回顧,如果您對虹科方案感興趣或有更多定制需求,歡迎聯(lián)系虹科!

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