據(jù)天眼查數(shù)據(jù)顯示,近期中芯國際新增多項專利信息,其中涉及“封裝結(jié)構(gòu)及芯片”,其專利公開號為CN117423674A。

從專利概要來看,此項發(fā)明即采用封裝結(jié)構(gòu)包括芯片及其上的第一、第二引線墊對,及貫穿于芯片結(jié)構(gòu)上的第一、第二過孔對,兩組過孔均與各自引線墊對應(yīng)連接。尤其突出的是,過孔對中兩個過孔之間的連線與另兩個過孔之間的連線構(gòu)成交叉狀態(tài),從而實現(xiàn)提升抗信號間干擾的能力,大幅改善信號串擾程度。
中芯國際進一步闡述,這種基于BGA(Ball Grid Array)技術(shù)改良升級而來的晶圓級BGA封裝,可將多個芯片同時完成封裝、老化測試后進行晶圓切割,直接貼裝到基板或印刷電路板上。其具備尺寸優(yōu)勢并支持廣泛的鍵合需求,已被廣泛應(yīng)用,其封裝產(chǎn)品需求日益增長。
另一方面,隨著印刷電路板(Printed Circuit Board,PCB),多芯片模塊(Multichip module,MCM),堆疊式裸片以及硅通孔(Through Silicon Via,TSV)等技術(shù)的進步,當今先進封裝及高密度印刷電路板上器件的緊湊性和密度逐漸增加,芯片運行速度也呈大幅提高趨勢,但伴隨而來的高速信號串擾風險亦不容忽視。如何在有限的設(shè)計空間內(nèi)盡可能化解高速信號串擾問題成為了業(yè)內(nèi)的設(shè)題重點。在此背景下,中芯國際公司推出新專利,旨在改善這一問題。
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