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FCom富士晶振-降低晶振相位噪聲的策略:提升性能與穩(wěn)定性

FCom富士晶振 ? 2024-03-28 12:04 ? 次閱讀

前言

晶振是個大家族,除了簡單封裝時鐘振蕩器(SPXO) 外,更有壓控晶體振蕩器(VCXO)、溫補(bǔ)晶體振蕩器(TCXO)、恒溫晶體振蕩器(OCXO),以及數(shù)字補(bǔ)償晶體振蕩器(MCXO或DTCXO),每種類型都有獨特的性能,例如相位噪聲和抖動(jitter)這兩個指標(biāo)。

一、什么是相位噪聲和抖動?

簡單講,抖動(jitter)是某一事件的時程與理想時程的時間偏差,單位以fs(微微秒、飛秒,即10-15秒),或者ps(皮秒,1ps = 1000fs = 10-12秒)表示。如果用儀器測量,呈現(xiàn)出的是信號的頻域特性,稱作“相位噪聲(Phase Noise)”。本質(zhì)上,這兩者是一樣的,只是表述方式不同而已。

  • 抖動

抖動分確定性抖動(Deterministic jitter,DJ)和隨機(jī)性抖動(Random jitter,RJ)兩種。DJ通常幅度有限,以單位時間表示;RJ為高斯分布,以RMS均方根值表示,RMS Jitter值大小與振蕩輸出頻率成反比。晶振的抖動通常由噪聲引起,并導(dǎo)致頻率不穩(wěn)定。對于精密電子儀器、無線電定位、高速目標(biāo)跟蹤和宇航通信等應(yīng)用領(lǐng)域,選擇低噪聲晶振十分重要。

  • 相位噪聲

相位噪聲(Phase Noise)是抖動在測量儀器上的表現(xiàn),通常定義為一個振蕩器在某一偏移頻率fm處1Hz寬帶內(nèi)的單邊信號功率和信號總功率比值,單位是dBc/Hz,通常表示為dBc/Hz@fm。

若沒有相位噪聲,振蕩器的整個功率都集中在f0(10MHz為例),功率頻譜就是一條以f0為中心的直線,且信號為純正的正弦波。但是任何信號都有不穩(wěn)定性,從而產(chǎn)生了邊帶sideband。

二、相位噪聲的來源主要有三方面:

1.晶體品質(zhì)Q值。高頻晶體有很高的近載波相位噪聲(Close-in Phase Noise),因為他們有低的Q值和更寬的邊帶。

2.晶體外圍電路:包括包括IC、RC元件、引腳等。

3.信號輸出(白噪聲)。

二、相位噪聲的來源主要有三方面:

1. 晶體品質(zhì)(Q值):

晶體的品質(zhì)因素直接影響了晶振的性能,其中 Q 值是衡量晶體品質(zhì)的一個重要指標(biāo)。較高的Q值表示晶體的振蕩頻率更穩(wěn)定,從而可以降低相位噪聲。以下是提高晶體品質(zhì)的方法:

選擇優(yōu)質(zhì)晶體: 選擇具有高品質(zhì)的晶體,其晶格結(jié)構(gòu)更加均勻、無缺陷,有利于提高振蕩頻率的穩(wěn)定性,降低相位噪聲。

優(yōu)化晶體制備工藝: 精密控制晶體生長和加工工藝,確保晶體的物理特性和結(jié)構(gòu)質(zhì)量,有助于提高晶體的 Q 值,減小相位噪聲。

2. 晶體外圍電路:

晶體外圍電路的設(shè)計也對晶振的相位噪聲有一定影響,以下是一些降低相位噪聲的外圍電路設(shè)計方法:

低噪聲放大器: 選擇低噪聲的放大器作為振蕩電路的驅(qū)動源,減小放大器的噪聲貢獻(xiàn),有助于降低晶振的相位噪聲。

減小阻抗失配: 在晶振外圍電路中盡量減小阻抗失配,包括晶振的輸入輸出阻抗、電源供應(yīng)的阻抗等,以保持信號的傳輸質(zhì)量,減小噪聲的影響。

降低環(huán)境干擾: 采取有效的電磁屏蔽措施,減少外部環(huán)境對晶振電路的干擾,可以降低晶振的相位噪聲。

3. 信號輸出(白噪聲):

晶振的信號輸出也可能受到白噪聲的影響,通過優(yōu)化信號輸出,可以進(jìn)一步降低相位噪聲:

信號濾波: 在晶振輸出信號的路徑上添加合適的濾波器,濾除高頻噪聲成分,減小白噪聲對晶振性能的影響,從而降低相位噪聲。

匹配負(fù)載: 保證晶振輸出信號的負(fù)載匹配,避免信號反射和干擾,提高信號的純凈度,有助于降低相位噪聲。

合理布線: 優(yōu)化晶振輸出信號的布線,避免信號路徑過長、交叉干擾等情況,減小信號傳輸過程中的損耗和干擾,降低相位噪聲。


總結(jié)

綜合采取上述措施,可以有效降低晶振的相位噪聲,提高其性能穩(wěn)定性和可靠性,滿足不同應(yīng)用對于時鐘信號穩(wěn)定性的要求。

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