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電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊測(cè)試方法:測(cè)試設(shè)備、測(cè)試項(xiàng)目

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-04-26 14:14 ? 次閱讀
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電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊是驅(qū)動(dòng)電機(jī)的電路模塊,通過將電源提供的電能轉(zhuǎn)化為電機(jī)所需的電能,來控制電機(jī)的啟停、轉(zhuǎn)速和旋轉(zhuǎn)方向等。為了保證電機(jī)可以正常運(yùn)行,需要對(duì)電機(jī)模塊進(jìn)行各項(xiàng)指標(biāo)檢測(cè),評(píng)估電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的性能。

西安某軍工方向科技公司在產(chǎn)品測(cè)試過程中一直采用傳統(tǒng)測(cè)試方式,在測(cè)試此次生產(chǎn)的電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊時(shí),希望可以通過自動(dòng)化測(cè)試方式來提高測(cè)試效率,以確保在短期內(nèi)完成產(chǎn)品交付。那么納米軟件ATECLOUD是如何完成電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊的自動(dòng)化測(cè)試呢?

測(cè)試項(xiàng)目

1. 16V供電下U,V,W三個(gè)測(cè)量點(diǎn)能否正常輸出飽和波形

2. 28V供電下U,V,W三個(gè)測(cè)量點(diǎn)能否正常輸出飽和波形

3. 40V供電下U,V,W三個(gè)測(cè)量點(diǎn)能否正常輸出飽和波形

4. 靜態(tài)電流是否在規(guī)定范圍內(nèi)

5. 飽和壓差

6. 最大輸出電流

7. 霍爾電壓

8. 輸入阻抗

ATECLOUD測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊自動(dòng)化測(cè)試需要兩部分完成,軟件和硬件。硬件主要是測(cè)試中用到的儀器設(shè)備;軟件部分兼容了測(cè)試儀器指令,以及根據(jù)客戶測(cè)試項(xiàng)目搭建好的測(cè)試方案。客戶在使用ATECLOUD測(cè)試時(shí)只需登錄系統(tǒng),找到對(duì)應(yīng)的方案,點(diǎn)擊“運(yùn)行”即可開始測(cè)試,簡(jiǎn)化了測(cè)試流程,讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。

測(cè)試設(shè)備

直流電源

示波器

數(shù)采

20通道多路復(fù)用器

信號(hào)

負(fù)載切換箱

測(cè)試工裝

交換機(jī)

ATE-AIO(用于儀器控制和流程調(diào)度)

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ATECLOUD測(cè)試系統(tǒng)提供自動(dòng)化切換箱,實(shí)現(xiàn)了無需人工干預(yù)即可完成線路的通斷控制。測(cè)試過程中,系統(tǒng)會(huì)根據(jù)測(cè)試方案預(yù)設(shè)的流程開始逐個(gè)測(cè)試項(xiàng)目,系統(tǒng)各項(xiàng)指標(biāo)的數(shù)值及波形圖等信息會(huì)展示在測(cè)試面板中,每個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試結(jié)果清晰可見。測(cè)試結(jié)束后,可以通過Pass、Fail來判斷電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊是否合格。

軟件部分還包含記錄報(bào)告和數(shù)據(jù)洞察功能。測(cè)試結(jié)束后,可對(duì)各項(xiàng)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析,節(jié)省人工分析成本。還可以對(duì)歷史測(cè)試記錄進(jìn)行詳細(xì)查看,并根據(jù)創(chuàng)建好的數(shù)據(jù)報(bào)告模板,選擇需要的數(shù)據(jù)進(jìn)行導(dǎo)出,方便數(shù)據(jù)統(tǒng)一匯總管理。

審核編輯 黃宇

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